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선형 동작 범위가 넓은 고감도 CMOS 영상 센서 장치

  • 기술번호 : KST2015116345
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 CMOS 픽셀 구조 및 이를 2차원 배열로 구성한 CMOS 영상 센서에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 감도가 높고 선형 동작 범위가 넓은 능동 픽셀로 구성되는 CMOS 영상 센서에 관한 것이다. 2차원 배열로 구성되는 단위 픽셀을 포함하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조에 있어서, 단위 픽셀은, 입력 광에 대응하여 전하를 생성하는 포토 다이오드; 생성된 전하를 전압으로 바꾸는 전하증폭 트랜지스터와 피드백 커패시터; 전하증폭 트랜지스터와 피드백 커패시터를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터; 및 단위 픽셀을 선택하기 위한 낮을 문턱 전압을 가지는 셀렉트 트랜지스터를 포함하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조가 제공될 수 있다.
Int. CL H04N 5/355 (2011.01.01) H04N 5/374 (2011.01.01)
CPC H04N 5/3559(2013.01) H04N 5/3559(2013.01)
출원번호/일자 1020130047282 (2013.04.29)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0128637 (2014.11.06) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.04.10)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조규성 대한민국 대전 유성구
2 배준형 대한민국 대전 유성구
3 이정태 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.04.29 수리 (Accepted) 1-1-2013-0375544-51
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.04.10 수리 (Accepted) 1-1-2018-0355671-66
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.01.29 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.03.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0040650-68
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.04.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0281197-48
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2019.06.18 수리 (Accepted) 1-1-2019-0622750-06
11 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2019.07.18 무효 (Invalidation) 1-1-2019-0738910-46
12 보정요구서
Request for Amendment
2019.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2019-0124777-73
13 무효처분통지서
Notice for Disposition of Invalidation
2019.09.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2019-0149968-16
14 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2019.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0860096-16
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
2차원 배열로 구성되는 단위 픽셀을 포함하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조에 있어서,상기 단위 픽셀은,입력 광에 대응하여 전하를 생성하는 포토 다이오드;상기 생성된 전하를 전압으로 바꾸는 전하증폭 트랜지스터와 피드백 커패시터;상기 전하증폭 트랜지스터와 피드백 커패시터를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터; 및상기 단위 픽셀을 선택하기 위한 낮을 문턱 전압을 가지는 셀렉트 트랜지스터를 포함하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
2 2
제1항에 있어서,상기 단위 픽셀의 컬럼을 연결하는 컬럼 출력 라인; 및상기 컬럼 출력 라인을 통해 상기 단위 픽셀에 전류를 공급하는 전류원을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
3 3
제2항에 있어서,상기 전하증폭 트랜지스터와 상기 전류원을 연결하여 공통 소스 증폭기(Common Source Amplifier) 구조를 형성하는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
4 4
제3항에 있어서,상기 공통 소스 증폭기 구조의 입력과 출력 사이에는 상기 피드백 커패시터가 연결되며,상기 포토 다이오드에서 생성된 전하는 상기 피드백 커패시터에 축적되는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
5 5
제2항에 있어서,상기 전류원은 하나의 PMOS 트랜지스터로 구성되며, 상기 PMOS 트랜지스터의 W/L(Width/Length) 비율에 따라 상기 단위 픽셀의 공통 소스 증폭기에 공급되는 전류의 양이 결정되는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
6 6
제2항에 있어서,상기 전류원은 둘 이상의 PMOS 트랜지스터의 캐스코드(Cascode) 형태로 연결되어 구성함으로써 상기 전류원의 출력 저항을 증가시키는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
7 7
제1항에 있어서,상기 셀렉트 트랜지스터는 네이티브 트랜지스터(Native TR) 또는 문턱 전압 조절(Threshold Voltage Adjustment) 임플란트 과정(Implant Step)을 거친 트랜지스터로 구현되는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
8 8
제1항에 있어서,상기 포토 다이오드는 넓은 공핍 영역을 가지기 위해 비저항이 큰 에피텍셜(Epitaxial) 웨이퍼(Wafer) 상에 구현되는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
9 9
제1항에 있어서,상기 피드백 커패시터는 CMOS 공정에서 구현할 수 있는 MiM(Metal-insulator-Metal), PiP(Poly-insulator-Poly), 또는 MOS(Metal-Oxide-Semiconductor) 커패시터에 해당하는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
10 10
2차원 배열로 구성되는 단위 픽셀; 상기 단위 픽셀의 컬럼을 연결하는 컬럼 출력 라인; 및상기 컬럼 출력 라인을 통해 상기 단위 픽셀에 전류를 공급하는 하나의 PMOS 트랜지스터로 구성되는 전류원을 포함하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조에 있어서,상기 단위 픽셀은,입력 광에 대응하여 전하를 생성하는 포토 다이오드;상기 생성된 전하를 전압으로 바꾸는 전하증폭 트랜지스터와 피드백 커패시터;상기 전하증폭 트랜지스터와 피드백 커패시터를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터; 및상기 단위 픽셀을 선택하기 위한 낮을 문턱 전압을 가지는 셀렉트 트랜지스터를 포함하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
11 11
2차원 배열로 구성되는 단위 픽셀; 상기 단위 픽셀의 컬럼을 연결하는 컬럼 출력 라인; 및상기 컬럼 출력 라인을 통해 상기 단위 픽셀에 전류를 공급하는 둘 이상의 PMOS 트랜지스터의 캐스코드 형태로 구성되는 전류원을 포함하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조에 있어서,상기 단위 픽셀은,입력 광에 대응하여 전하를 생성하는 포토 다이오드;상기 생성된 전하를 전압으로 바꾸는 전하증폭 트랜지스터와 피드백 커패시터;상기 전하증폭 트랜지스터와 피드백 커패시터를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터; 및상기 단위 픽셀을 선택하기 위한 낮을 문턱 전압을 가지는 셀렉트 트랜지스터를 포함하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
12 12
제10항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,상기 전하증폭 트랜지스터와 상기 전류원을 연결하여 공통 소스 증폭기(Common Source Amplifier) 구조를 형성하는 것을 특징으로 하는 고감도 CMOS 영상 센서 구조
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 한국과학기술원 방사선기술개발사업 실리콘 대면적 영상센서 및 방사선 계측기 기술 개발