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전자 디바이스 및 전자 디바이스에서 눈 영역 검출 방법

  • 기술번호 : KST2015127602
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 지문 인식과 관련된 다양한 실시예들이 기술된 바, 한 실시예에 따르면, 전자 디바이스에 있어서, 근적외선 영상을 획득하는 카메라 모듈; 상기 근적외선 영상을 적분 영상으로 변환하고, 상기 적분 영상에서 적어도 하나 이상의 마스크를 이용하여 눈 후보 영역을 검출하고 상기 눈 후보 영역에서 눈동자 영역과 눈썹 영역을 검출하여 눈동자 영역을 검출하고, 상기 눈동자 영역을 기준으로 눈 영역을 검출하는 제어부를 포함할 수 있다. 이외에도 다양한 다른 실시예들이 가능하다.
Int. CL G06T 7/00 (2017.01.01) G06K 9/46 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020130078407 (2013.07.04)
출원인 삼성전자주식회사, 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0005094 (2015.01.14) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.07.04)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 성운탁 대한민국 서울특별시 서초구
2 김재희 대한민국 서울특별시 서대문구
3 손병준 대한민국 서울특별시 구로구
4 박강령 대한민국 서울특별시 송파구
5 정택성 대한민국 경기도 수원시 영통구
6 김동익 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이건주 대한민국 서울 종로구 명륜동*가 ***-* 미화빌딩 이건주특허법률사무소
2 김정훈 대한민국 서울 종로구 명륜동*가 ***-* 미화빌딩 (이건주특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.07.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-0603433-29
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.09.10 수리 (Accepted) 1-1-2013-0825346-06
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.07.04 수리 (Accepted) 1-1-2018-0660256-08
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.11.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0823996-70
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2020.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0148777-02
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번호 청구항
1 1
전자 디바이스에 있어서,근적외선 영상을 획득하는 카메라 모듈;상기 근적외선 영상을 적분 영상으로 변환하고, 상기 적분 영상에서 적어도 하나 이상의 마스크를 이용하여 눈 후보 영역을 검출하고 상기 눈 후보 영역에서 눈동자 영역과 눈썹 영역을 검출하여 눈동자 영역을 검출하고, 상기 눈동자 영역을 기준으로 눈 영역을 검출하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스
2 2
제1항에 있어서, 상기 카메라 모듈은,피사체로부터 반사되는 광신호를 투과시키는 렌즈부;피사체에 근적외선 대역의 빛을 조사하는 근적외선 조명;상기 렌즈부를 통해 입사되는 피사체로부터 반사된 광신호 중 근적외선 영역의 광신호를 통과시키는 근적외선 필터; 및상기 근적외선 필터를 통과한 근적외선 역역의 광신호를 근적외선 영상 신호로 변환하여 출력하는 이미지 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스
3 3
제1항에 있어서, 상기 적어도 하나 이상의 마스크는,메인 블록과 상기 메인 블록을 중심으로 좌측의 제1 서브 블록, 우측의 제2 서브 블록을 포함하는 마스크를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스
4 4
제3항에 있어서, 상기 제어부는,상기 마스크를 이용하여 상기 적분 영상을 탐색하고, 상기 적분 영상 중 상기 메인 블록에 해당하는 픽셀들의 평균 밝기 값과 상기 제1 서브 블록 및 상기 제2 서브 블록 각각에 해당하는 픽셀들의 평균 밝기 값의 차이값이 미리 정해진 임계값보다 큰 영역을 눈 후보 영역으로 검출하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스
5 5
제1항에 있어서, 상기 적어도 하나 이상의 마스크는,가로 방향으로 메인 블록과 좌측의 제1 서브 블록, 우측의 제2 서브 블록을 포함하는 제1 마스크, 세로 방향으로 메인 블록과 상측의 제1 서브 블록, 하측의 제2 서브 블록을 포함하는 제2 마스크, 대각선 방향으로 메인 블록과 좌측상단의 제1 서브 블록, 우측하단의 제2 서브 블록을 포함하는 제3 마스크, 대각선 방향으로 메인 블록과 우측상단의 제1 서브 블록, 좌측하단의 제2 서브 블록을 포함하는 제4 마스크를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스
6 6
제5항에 있어서, 상기 제어부는,상기 제1 마스크를 이용하여 상기 적분 영상에서 제1 눈 후보 영역을 검출하고, 상기 제1 눈 후보 영역에서 상기 제2 마스크를 이용하여 제2 눈 후보 영역을 검출하고, 상기 제2 눈 후보 영역에서 상기 제3 마스크를 이용하여 제3 눈 후보 영역을 검출하고, 상기 제3 눈 후보 영역에서 상기 제4 마스크를 이용하여 제4 눈 후보 영역을 검출하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스
7 7
제6항에 있어서, 상기 제어부는,상기 제4 눈 후보 영역에서 눈동자 영역과 눈썹 영역을 검출하고,상기 눈동자 영역과 눈썹 영역의 기하학적 위치 관계를 이용하여 눈동자 영역을 검출하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스
8 8
제7항에 있어서, 상기 제어부는,상기 눈동자 영역을 기준으로 눈 영역 검출 기준을 미리 정해진 비율만큼 확대하고, 상기 확대된 눈 영역 검출 기준에 따라 눈 영역을 검출하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스
9 9
전자 디바이스에서 눈 영역 검출 방법에 있어서,근적외선 영상을 획득하는 과정;근적외선 영상을 적분 영상으로 변환하는 과정;상기 적분 영상에서 적어도 하나 이상의 마스크를 이용하여 눈 후보 영역을 검출하는 과정;상기 눈 후보 영역에서 눈동자 영역과 눈썹 영역을 검출하여 눈동자 영역을 검출하는 과정; 및상기 눈동자 영역을 기준으로 눈 영역을 검출하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 획득된 근적외선 영상을 미리 정해진 비율로 축소하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
11 11
제9항에 있어서, 상기 적어도 하나 이상의 마스크는,메인 블록과 상기 메인 블록을 중심으로 좌측의 제1 서브 블록, 우측의 제2 서브 블록을 포함하는 마스크를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
12 12
제11항에 있어서, 상기 적분 영상에서 적어도 하나 이상의 마스크를 이용하여 눈 후보 영역을 검출하는 과정은,상기 마스크를 이용하여 상기 적분 영상을 탐색하는 과정; 상기 적분 영상 중 상기 메인 블록에 해당하는 픽셀들의 평균 밝기 값과 상기 제1 서브 블록 및 상기 제2 서브 블록 각각에 해당하는 픽셀들의 평균 밝기 값의 차이값을 산출하는 과정; 및상기 차이값이 미리 정해진 임계값보다 큰 영역을 눈 후보 영역으로 검출하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
13 13
제9항에 있어서, 상기 적어도 하나 이상의 마스크는,가로 방향으로 메인 블록과 좌측의 제1 서브 블록, 우측의 제2 서브 블록을 포함하는 제1 마스크, 세로 방향으로 메인 블록과 상측의 제1 서브 블록, 하측의 제2 서브 블록을 포함하는 제2 마스크, 대각선 방향으로 메인 블록과 좌측상단의 제1 서브 블록, 우측하단의 제2 서브 블록을 포함하는 제3 마스크, 대각선 방향으로 메인 블록과 우측상단의 제1 서브 블록, 좌측하단의 제2 서브 블록을 포함하는 제4 마스크를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
14 14
제13항에 있어서, 상기 적분 영상에서 상기 적어도 하나 이상의 마스크를 이용하여 눈 후보 영역을 검출하는 과정은,상기 제1 마스크를 이용하여 상기 적분 영상에서 제1 눈 후보 영역을 검출하는 과정;상기 제1 눈 후보 영역에서 상기 제2 마스크를 이용하여 제2 눈 후보 영역을 검출하는 과정;상기 제2 눈 후보 영역에서 상기 제3 마스크를 이용하여 제3 눈 후보 영역을 검출하는 과정; 및상기 제3 눈 후보 영역에서 상기 제4 마스크를 이용하여 제4 눈 후보 영역을 검출하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
15 15
제14항에 있어서, 상기 눈 후보 영역에서 눈동자 영역과 눈썹 영역을 검출하여 눈동자 영역을 검출하는 과정은,상기 제4 눈 후보 영역에서 눈동자 영역과 눈썹 영역을 검출하는 과정; 및상기 눈동자 영역과 눈썹 영역의 기하학적 위치 관계를 이용하여 눈동자 영역을 검출하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
16 16
제15항에 있어서, 상기 눈동자 영역을 기준으로 눈 영역을 검출하는 과정은,상기 눈동자 영역을 기준으로 눈 영역 검출 기준을 미리 정해진 비율만큼 확대하는 과정; 및상기 확대된 눈 영역 검출 기준에 따라 눈 영역을 검출하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
17 17
제16항에 있어서, 상기 미리 정해진 비율은 2배인 것을 특징으로 하는 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09684828 US 미국 FAMILY
2 US20150009314 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2015009314 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9684828 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.