요약 | 본 발명은 수평형 박막 열전모듈 제조방법 및 이를 이용하여 제조한 수평형 박막 열전모듈에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 수평형 박막 열전모듈 제조방법 및 이를 이용하여 제조한 수평형 박막 열전모듈은 실리콘 기판의 상면 및/또는 하면에 열전도율이 낮은 실리콘 나이트라이드 박막층을 형성하고, 상기 실리콘 나이트라이드 박막층의 상면에 열전반도체들을 교대로 증착한다.본 발명에 따른 수평형 박막 열전모듈 제조방법 및 이를 이용하여 제조한 수평형 박막 열전모듈에 의하면, 열전반도체를 박막형으로 수평으로 증착하여 그 크기를 최소화할 수 있으며, 열전도율이 낮은 실리콘 나이트라이드 박막층의 상면에 열전반도체를 증착함으로써 열전반도체 양단간의 온도차를 크게 할 수 있어 열전모듈의 냉각효율을 향상시킬 수 있다. |
---|---|
Int. CL | H01L 35/02 (2006.01) H01L 35/34 (2006.01) |
CPC | H01L 35/34(2013.01) H01L 35/34(2013.01) H01L 35/34(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020110081459 (2011.08.17) |
출원인 | 한국기계연구원 |
등록번호/일자 | 10-1119595-0000 (2012.02.16) |
공개번호/일자 | |
공고번호/일자 | (20120306) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 발송처리완료 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2011.08.17) |
심사청구항수 | 13 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국기계연구원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 현승민 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
2 | 이학주 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
3 | 우창수 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
4 | 송준엽 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
5 | 정준호 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
6 | 전성재 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
7 | 이후정 | 대한민국 | 경기도 수원시 영통구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 특허법인다나 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국기계연구원 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2011.08.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0633831-66 |
2 | [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서 [Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination) |
2011.10.06 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0779510-05 |
3 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2011.10.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2011.10.26 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0085694-06 |
5 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2011.11.14 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0664518-42 |
6 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2012.01.16 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2012-0038522-52 |
7 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2012.01.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0038523-08 |
8 | 등록결정서 Decision to grant |
2012.02.07 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0074508-03 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2017.11.28 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5193093-72 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 실리콘 기판의 상면 및 하면에 각각 제1 및 제2 박막층을 형성하는 단계;상기 실리콘 기판의 하면에 형성된 제2박막층을 패터닝하여 상기 실리콘 기판이 노출된 복수의 제1홈부를 형성하는 단계;상기 제1홈부에 의해 노출된 상기 실리콘 기판을 식각하여 홀부를 형성하는 단계;상기 홀부의 상측단부 측에 배치하고, 상기 제1박막층의 상면에 복수의 P형 및 N형 반도체를 교대로 증착하는 단계; 및상기 P형 및 N형 반도체가 상호 통전되게 전극을 증착하는 단계;를 포함하는 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 |
2 |
2 실리콘 기판의 상면 및 하면에 각각 제3 및 제4박막층을 형성하는 단계;상기 실리콘 기판의 상면 및 하면에 형성된 제3 및 제4박막층을 패터닝하여 상기 실리콘 기판이 노출된 복수의 제2홈부와 제3홈부를 상기 실리콘 기판의 상면 및 하면에 각각 교호되게 형성하는 단계;상기 제2홈부 및 제3홈부에 의해 노출된 상기 실리콘 기판을 식각하여 홀부를 형성하는 단계;상기 홀부의 개구된 일측단부의 반대편 타측단부 측에 배치하고, 상기 제3박막층 및 제4박막층의 상면에 복수의 P형 및 N형 반도체를 교대로 증착하는 단계; 및상기 P형 및 N형 반도체가 상호 통전되게 전극을 증착하는 단계;를 포함하는 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 |
3 |
3 청구항 1에 있어서,상기 제1,2박막층은 저압 화학 기상 증착(Low Pressure CVD: LP CVD)법에 의한 실리콘 나이트라이드(Silicon Nitride) 박막층인 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 |
4 |
4 청구항 2에 있어서,상기 제3,4박막층은 저압 화학 기상 증착(Low Pressure CVD: LP CVD)법에 의한 실리콘 나이트라이드(Silicon Nitride) 박막층인 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 |
5 |
5 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,상기 홀부는 상기 실리콘 기판을 웨트 에칭(wet etching)법에 의해 식각하여 형성한 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 |
6 |
6 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,상기 홀부는 개구된 일측단부에서 타측단부 방향으로 점층적으로 폭이 감소되도록 테이퍼지게 형성한 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 |
7 |
7 청구항 1에 있어서,상기 전극을 증착하는 단계는,상기 제1박막층 중 상기 P형 및 N형 반도체가 증착된 부분을 제외한 나머지 부분을 상기 실리콘 기판의 상면 및 하면에서 제거하는 단계; 및마스크를 실리콘 기판, P형 반도체 및 N형 반도체의 상부에 배치하고, 상기 P형 및 N형 반도체의 길이방향의 양단에 소정간격 이격되어 대향되게 각각 전극을 증착하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 |
8 |
8 청구항 2에 있어서,상기 전극을 증착하는 단계는,상기 제3,4박막층 중 상기 P형 및 N형 반도체가 증착된 부분을 제외한 나머지 부분을 상기 실리콘 기판의 상면 및 하면에서 제거하는 단계; 및마스크를 실리콘 기판, P형 반도체 및 N형 반도체의 상부에 배치하고, 상기 P형 및 N형 반도체의 길이방향의 양단에 소정간격 이격되어 대향되게 각각 전극을 증착하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 |
9 |
9 복수의 홀부를 형성한 실리콘 기판;상기 실리콘 기판의 상면에 형성한 제1박막층;상기 홀부의 일측단부가 외부에 개구되도록 상기 실리콘 기판의 하면에 형성한 제2박막층;상기 홀부의 상측에 배치하고, 상기 제1박막층의 상면에 교대로 증착한 복수의 P형 및 N형 반도체; 및상기 P형 및 N형 반도체가 상호 통전되도록 상기 P형 및 N형 반도체의 길이방향 양단에 소정간격 이격되어 대향되게 증착한 전극;을 포함하는 수평형 박막 열전모듈 |
10 |
10 복수의 홀부를 형성한 실리콘 기판;상기 홀부의 일측단부가 외부에 교호되어 개구되도록 상기 실리콘 기판의 상면 및 하면에 각각 형성한 제3 및 제4박막층;상기 홀부의 개구된 일측단부의 반대편 타측단부 측에 배치하고, 상기 제3 및 제4박막층의 상면에 교대로 증착한 복수의 P형 및 N형 반도체; 및상기 P형 및 N형 반도체가 상호 통전되도록 상기 P형 및 N형 반도체의 길이방향 양단에 소정간격 이격되어 대향되게 증착한 전극;을 포함하는 수평형 박막 열전모듈 |
11 |
11 청구항 9에 있어서,상기 제1,2박막층은 실리콘 나이트라이드 박막층인 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈 |
12 |
12 청구항 10에 있어서,상기 제3,4박막층은 실리콘 나이트라이드 박막층인 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈 |
13 |
13 청구항 9 또는 청구항 10에 있어서,상기 홀부는 개구된 일측단부에서 타측단부 방향으로 점층적으로 폭이 감소되도록 테이퍼지게 형성한 것을 특징으로 하는 수평형 박막 열전모듈 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 지식경제부 | 한국기계연구원 | 주요사업-일반 | 3차원 나노구조체 제조기술 고도화 사업 |
2 | 지식경제부 | 한국기계연구원 | 산업기술연구회-협동연구사업 | 차세대 반도체 MCP 핵심기술 개발(3/5) |
공개전문 정보가 없습니다 |
---|
특허 등록번호 | 10-1119595-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20110817 출원 번호 : 1020110081459 공고 연월일 : 20120306 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20120207 청구범위의 항수 : 13 유별 : H01L 35/34 발명의 명칭 : 수평형 박막 열전모듈의 제조방법 및 이에 의해 제조된 수평형 박막 열전모듈 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한국기계연구원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 276,000 원 | 2012년 02월 17일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 326,000 원 | 2014년 12월 30일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 326,000 원 | 2015년 12월 08일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 228,200 원 | 2016년 12월 07일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 415,800 원 | 2017년 12월 04일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 297,000 원 | 2018년 12월 11일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2011.08.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0633831-66 |
2 | [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서 | 2011.10.06 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0779510-05 |
3 | 선행기술조사의뢰서 | 2011.10.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 | 2011.10.26 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0085694-06 |
5 | 의견제출통지서 | 2011.11.14 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0664518-42 |
6 | [명세서등 보정]보정서 | 2012.01.16 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2012-0038522-52 |
7 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2012.01.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0038523-08 |
8 | 등록결정서 | 2012.02.07 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0074508-03 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2017.11.28 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5193093-72 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1415118471 |
---|---|
세부과제번호 | SC0800 |
연구과제명 | 3차원 나노구조체 제조기술 고도화사업 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 산업기술연구회 |
연구주관기관명 | 한국기계연구원 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201101~201512 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1345086672 |
---|---|
세부과제번호 | OD0120 |
연구과제명 | 차세대 반도체 MCP 핵심기술개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 교육과학기술부 |
연구주관기관명 | 한국기계연구원 |
성과제출연도 | 2008 |
연구기간 | 200812~201402 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1415118253 |
---|---|
세부과제번호 | OD0120 |
연구과제명 | 차세대 반도체 MCP 핵심기술 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 산업기술연구회 |
연구주관기관명 | 한국기계연구원 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 200812~201402 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1415118471 |
---|---|
세부과제번호 | SC0800 |
연구과제명 | 3차원 나노구조체 제조기술 고도화사업 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 산업기술연구회 |
연구주관기관명 | 한국기계연구원 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201101~201512 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
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