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빔 프로파일 측정장치

  • 기술번호 : KST2015147457
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 빔 프로파일 측정장치는, 양성자 빔을 발생시키는 입자 가속기로부터 인출된 빔의 강도를 측정하기 위해 그 빔의 진행 경로상에 배치되며, 특정위치에서의 빔의 세기를 검출하는 센서유닛; 및 상기 센서유닛을 일축방향으로 이동시키기 위한 구동수단을 포함하는 점에 특징이 있다.
Int. CL G01T 1/16 (2006.01) G01T 1/161 (2006.01)
CPC G01T 1/161(2013.01) G01T 1/161(2013.01)
출원번호/일자 1020060014480 (2006.02.15)
출원인 한국원자력연구원
등록번호/일자 10-0723010-0000 (2007.05.22)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070529) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.02.15)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 채종서 대한민국 서울 노원구
2 박기현 대한민국 경북 포항시 북구
3 정영규 대한민국 경북 포항시 북구
4 안동현 대한민국 서울 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 대한민국(산업통상자원부장관) 세종특별자치시 한누리대
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2006.02.15 수리 (Accepted) 1-1-2006-0109866-99
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2006.11.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0658538-07
3 의견서
Written Opinion		 2007.01.08 수리 (Accepted) 1-1-2007-0018350-75
4 등록결정서
Decision to grant		 2007.04.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0217672-75
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2007-5073714-01
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.06.01 수리 (Accepted) 4-1-2007-5085193-38
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5117707-02
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5117973-29
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5134067-95
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5109542-64
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
양성자 빔을 발생시키는 입자 가속기로부터 인출된 빔의 강도를 측정하기 위해 그 빔의 진행 경로상에 배치되는 빔 프로파일 측정장치에 있어서,특정위치에서의 빔의 세기를 검출하는 센서유닛; 및상기 센서유닛을 일축방향으로 이동시키기 위한 구동수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 빔 프로파일 측정장치
2 2
제1항에 있어서,상기 센서유닛은,상기 빔의 일부가 통과할 수 있는 빔통과공이 상기 일축방향에 대해 교차하는 방향을 따라 다수 배치되어 있는 스크린부재와,상기 각 빔통과공을 통과한 빔과 충돌되며 그 충돌에 의해 전류가 흐르는 복수의 금속부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 빔 프로파일 측정장치
3 3
제2항에 있어서,상기 금속부재에 끼워져 그 금속부재와 전기적으로 연결되는 소켓을 포함하는 것을 특징으로 하는 빔 프로파일 측정장치
4 4
제2항에 있어서,상기 스크린부재는 구리 또는 알루미늄 합금으로 이루어지며,상기 금속부재는 텅스텐을 포함하는 것을 특징으로 하는 빔 프로파일 측정장치
5 5
제2항에 있어서,상기 스크린부재의 상기 빔통과공들을 2열로 배치한 것을 특징으로 하는 빔 프로파일 측정장치
6 6
제1항에 있어서,상기 구동수단은,스텝모터와, 상기 일축방향으로 길게 배치되며 상기 스텝모터에 의해 회전되는 볼스크류와,상기 볼스크류에 나사결합되어 그 볼스크류의 회전에 의해 상기 일축방향으로 이동 가능한 볼너트와,상기 볼너트와 센서유닛에 연결되어 그 볼너트와 센서유닛을 상대고정시키는 연결부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 빔 프로파일 측정장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.