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실리사이드 나노점 형성방법 및 실리사이드 나노점이형성되어 있는 적층구조물

  • 기술번호 : KST2015160836
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 실리사이드 나노점(silicide nanodot) 형성방법 및 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물을 개시한다. 본 발명에 따른 실리사이드 나노점 형성방법은 기판 상에 금속층과 산소를 함유하는 실리콘층으로 이루어진 계면이 적어도 하나 형성된 적층구조물을 준비하고 이 적층구조물 상에 전자빔을 조사하여 계면 상에 실리사이드 나노점을 형성하는 것이다. 그리고 본 발명에 따른 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물은 기판과 기판 상에 형성된 금속층과 금속층 상에 형성된 금속층과 동종의 금속이 포함되어 있는 실리사이드 나노점을 구비한다. 본 발명에 따른 실리사이드 나노점 형성방법에 의하면, 실리사이드 나노점의 크기가 실리사이드 나노점을 둘러싸고 있는 산소를 많이 함유한 실리콘에 의해 제한되므로 균일한 형상을 갖는 10nm 이하의 나노점을 형성할 수 있다. 또한, 전자빔을 이용함으로써 손쉽게 크기와 밀도가 균일한 패터닝된 나노점 어레이를 구현할 수 있다. 그리고 본 발명에 따른 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물은 금속층 상에 실리사이드 나노점이 형성되어 있어 나노와이어나 탄소 나노튜브의 촉매나 전계방출소자(field emission display, FED)의 에미션 팁(emission tip) 그리고 에칭이나 산화시에 하드마스크로서 사용될 수 있다.
Int. CL H01L 33/00 (2014.01)
CPC H01L 33/02(2013.01) H01L 33/02(2013.01) H01L 33/02(2013.01) H01L 33/02(2013.01)
출원번호/일자 1020070095633 (2007.09.20)
출원인 재단법인서울대학교산학협력재단
등록번호/일자 10-0907473-0000 (2009.07.06)
공개번호/일자 10-2009-0030383 (2009.03.25) 문서열기
공고번호/일자 (20090710) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.09.20)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김기범 대한민국 서울 관악구
2 위정섭 대한민국 서울 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 송경근 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 ** (방배동) 기산빌딩 *층(엠앤케이홀딩스주식회사)
2 박보경 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **, *층(서초동, 준영빌딩)(특허법인필앤온지)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.09.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0681012-21
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2007.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2007-0884476-42
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2008-5015497-73
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.07.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.08.12 수리 (Accepted) 9-1-2008-0050963-81
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0138639-61
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.06.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0329773-59
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.06.01 수리 (Accepted) 1-1-2009-0329755-37
9 등록결정서
Decision to grant
2009.07.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0279018-46
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 금속층과 산소를 함유하는 실리콘층으로 이루어진 계면이 적어도 하나 형성된 적층구조물을 준비하는 단계; 및 상기 적층구조물에 전자빔(E-beam)을 조사하여 상기 계면 상에 실리사이드 나노점(nanodots)을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 적층구조물은 기판 상에 금속층과 산소를 함유하는 실리콘층이 차례로 형성된 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 실리사이드 나노점을 형성하는 단계는, 상기 전자빔을 실리사이드 나노점을 형성하고자 하는 부분에만 조사하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
4 4
제2항에 있어서, 상기 실리사이드 나노점을 형성하는 단계 이후에, 상기 산소를 함유하는 실리콘층을 제거하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
5 5
제4항에 있어서, 상기 산소를 함유하는 실리콘층을 제거하는 단계는 염소(Cl) 또는 불소(F)를 포함하는 가스 플라즈마를 이용하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
6 6
제2항에 있어서, 상기 실리사이드 나노점을 형성하는 단계는, 상기 실리콘층 상에 레지스트를 형성하는 단계; 상기 레지스트 상에 나노점을 형성하고자 하는 부분에만 전자빔을 조사하는 단계; 상기 레지스트를 현상하여 상기 전자빔이 조사되지 않은 부분의 레지스트를 제거하는 단계; 및 상기 전자빔이 조사된 부분의 레지스트와 상기 레지스트를 현상하는 단계에서 레지스트가 제거됨으로 인해 표면이 노출된 부분의 상기 실리콘층을 에칭하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
7 7
제6항에 있어서, 상기 레지스트와 실리콘층을 에칭하는 단계는 염소 또는 불소를 포함하는 가스 플라즈마를 이용하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
8 8
제6항에 있어서, 상기 레지스트는 HSQ(hydrogen silsesquioxane)인 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
9 9
제6항에 있어서, 상기 레지스트와 실리콘층을 에칭하는 단계 이후에, 상기 레지스트와 실리콘층을 에칭하는 단계에서 에칭되지 않은 실리콘층과 표면이 노출된 상기 금속층을 에칭하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
10 10
제9항에 있어서, 상기 실리콘층과 금속층을 에칭하는 단계는 아르곤(Ar) 플라즈마를 이용하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
11 11
제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 실리콘층에 함유된 산소의 함량은 1 내지 60 원자%의 범위에서 설정되는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점 형성방법
12 12
기판; 상기 기판 상에 형성된 금속층; 및 상기 금속층 상에 형성된 상기 금속층과 동종의 금속이 포함되어 있는 실리사이드 나노점;을 포함하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
13 13
기판; 상기 기판 상에 형성된 산소를 함유하고 있는 실리콘층; 상기 실리콘층 상에 형성된 금속층; 및 상기 금속층의 상면 및 상기 금속층 과 상기 실리콘층의 계면에 형성된 금속층과 동종의 금속이 포함되어 있는 실리사이드 나노점;을 포함하는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
14 14
삭제
15 15
제13항에 있어서, 상기 금속층과 상기 실리콘층의 계면에 형성된 실리사이드 나노점은 상기 금속층의 하면에서 상기 실리콘층의 내부로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
16 16
제12항 또는 제13항에 있어서, 상기 실리사이드 나노점은 SiOx로 둘러싸여 있는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
17 17
제12항 또는 제13항에 있어서, 상기 실리사이드 나노점은 반구형으로 형성된 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
18 18
제12항 또는 제13항에 있어서, 상기 금속층은 Pd, Ni, Co, Ti, Ta, W, Pt, Cr, V, Zr, Hf, Nb, Fe, Ru, Rh, Re, Os, Ir 및 Mo 중에서 선택된 1종 이상으로 이루어진 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
19 19
제12항에 있어서, 상기 실리사이드 나노점은 상기 금속층 상의 일부 영역에만 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
20 20
제19항에 있어서, 상기 일부 영역은 선형인 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
21 21
제19항에 있어서, 상기 일부 영역은 원형인 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
22 22
제12항 또는 제13항에 있어서, 상기 금속층이 패터닝되어 있는 것을 특징으로 하는 실리사이드 나노점이 형성되어 있는 적층구조물
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술부 서울대학교 테라급나노소자개발사업 원자 이미지를 이용한 양자점 형성 기술 개발