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광 간섭계 및 이를 이용한 시료 측정방법

  • 기술번호 : KST2015174152
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 실시예의 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법은 광 간섭계를 이용하여 시료의 간섭무늬 이미지로부터 광 가시도 함수로 표현되는 다수의 단층 이미지를 시료의 깊이 방향을 따라서 얻고, 상기 단층 이미지들을 이용하여 종단면 단층 이미지를 얻고, 상기 종단면 단층 이미지로부터 기준면을 설정하고, 상기 기준면에 의하여 구분된 상기 시료의 두께값과 굴절률을 동시에 측정할 수 있도록 함으로써 종래에 시료의 두께나 굴절률을 측정하는 장비들이 고체나 액체 시료만을 측정할 수 있는 제한에서 벗어나서 다양한 시료의 물질 특성을 연구할 수 있도록 하며, 더 나아가 세포와 같은 생체시료의 특성연구와 같이 의학적으로도 활용할 수 있는 효과가 있다.
Int. CL G01B 11/30 (2006.01) G01B 11/06 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01)
CPC G01B 9/0209(2013.01) G01B 9/0209(2013.01) G01B 9/0209(2013.01) G01B 9/0209(2013.01) G01B 9/0209(2013.01)
출원번호/일자 1020080132443 (2008.12.23)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0073703 (2010.07.01) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.01.14)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이병하 대한민국 광주광역시 북구
2 나지훈 대한민국 광주광역시 북구
3 최우준 대한민국 광주광역시 북구
4 최해룡 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양문옥 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2008-0884448-19
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2009-0023476-16
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.05.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.06.16 수리 (Accepted) 9-1-2010-0036631-68
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.03.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0170535-10
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.05.27 수리 (Accepted) 1-1-2011-0397235-94
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.05.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0397234-48
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5187089-85
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0631024-37
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.01.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0019335-77
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번호 청구항
1 1
광 간섭계를 이용하여 시료의 간섭무늬 이미지로부터 광 가시도 함수로 표현되는 다수의 단층 이미지를 시료의 깊이 방향을 따라서 얻고, 상기 단층 이미지들을 이용하여 종단면 단층 이미지를 얻고, 상기 종단면 단층 이미지로부터 기준면을 설정하고, 상기 기준면에 의하여 구분된 상기 시료의 두께값을 얻는 것을 특징으로 하는 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 시료의 두께값으로부터 상기 시료의 굴절률을 얻는 것을 특징으로 하는 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법
3 3
제 1항에 있어서, 하나의 상기 단층 이미지는 다수개의 상기 간섭무늬 이미지로부터 획득되는 상기 광 가시도 함수에 대한 측정값을 광검출기의 화소 단위로 측정하고, 상기 화소들의 위치 순서대로 상기 측정값을 배열하여 얻는 것을 특징으로 하는 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 기준면은 광을 반사시키는 반사체로 된 시료대인 것을 특징으로 하는 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법
5 5
제 4항에 있어서, 상기 시료는 광이 투과 가능한 액체 상태이고, 상기 액체 상태인 상기 시료의 모양 유지를 위하여 상기 시료대 상에는 상기 시료가 저장되는 홀더가 구비되는 것을 특징으로 하는 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법
6 6
제 4항에 있어서, 상기 시료는 광이 투과 가능한 고체 상태인 것을 특징으로 하는 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법
7 7
제 1항에 있어서, 상기 광 간섭계는 백색광 주사 간섭계인 것을 특징으로 하는 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법
8 8
제 1항에 있어서, 상기 광 간섭계는 전역광 간섭계인 것을 특징으로 하는 광 간섭계를 이용한 시료 측정방법
9 9
광원; 상기 광원에서 안내되는 광을 분할하는 광 분배기; 상기 광 분배기에서 분배된 기준광이 진행하며, 상기 기준광을 반사시키는 기준거울과 상기 기준거울을 구동시키는 기준거울 구동기를 포함하는 기준단; 상기 광 분배기에서 분배된 샘플광이 진행하며 반사체로 된 시료대와 상기 시료대를 구동시키는 시료대 구동기를 포함하는 샘플단; 상기 기준단과 상기 샘플단에서 반사되어 간섭한 광을 검출하는 광검출기; 상기 기준거울 구동기와 상기 시료대 구동기의 동작을 제어하고, 상기 광검출기에서 검출된 간섭무늬 신호로부터 상기 시료를 측정하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광 간섭계
10 10
제 9항에 있어서, 상기 제어부는 상기 시료의 두께값을 산출하고, 상기 두께값에 따라 상기 시료의 굴절률을 산출하는 것을 특징으로 하는 광 간섭계
11 11
제 9항에 있어서, 상기 시료는 광이 투과 가능한 액체상태이고, 상기 액체상태인 상기 시료의 모양 유지를 위하여 상기 시료대 상에는 상기 시료가 저장되는 홀더를 구비하는 것을 특징으로 하는 광 간섭계
12 12
제 9항에 있어서, 상기 시료는 광이 투과 가능한 고체 상태인 것을 특징으로 하는 광 간섭계
13 13
제 9항에 있어서, 상기 광원과 상기 광분배기 사이에는 상기 광원에서의 출광되는 광을 상기 광분배기로 안내하는 광섬유 다발(fiber bundle)이 구비되는 것을 특징으로 하는 광 간섭계
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패밀리정보가 없습니다
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