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광을 조사하는 광원부; 상기 광원부로부터 조사된 광을 분리하여 샘플측과 레퍼런스측으로 조사하고, 상기 샘플측과 상기 레퍼런스측에서 반사되어 온 광이 입사하는 빔스플리터; 상기 빔스플리터로부터 반사된 간섭광의 이미지를 획득하는 이미징부가 포함되고, 상기 광원부에 제공되는 선형편광자;상기 샘플측과 상기 레퍼런스측에 제공되어 상기 선형편광자를 통과한 선편광을 타원편광으로 만드는 사분의일파장판; 및상기 이미징부에 제공되어, 편광의 수평성분과 수직성분을 시간 선택하여 통과시키는 선택편광투과장치가 더 포함되고, 상기 이미징부에는 단일의 카메라가 제공되며,상기 선택편광투과장치에는, 외력에 의해서 편광상태가 가변되는 편광스위치와, 상기 편광스위치를 통과한 광이 입사하는 선형편광자가 포함되는 편광 민감 전역 광단층 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 샘플측에 제공되는 사분의일파장판의 주축은 상기 선편광의 광축과 45도 기울어지고, 상기 레퍼런스측에 제공되는 사분의일파장판의 주축은 상기 선편광의 광축과 22
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제 1 항에 있어서, 상기 편광스위치에는, 강유전성 액정이 사용되는 편광 민감 전역 광단층 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 선택편광투과장치가 한 주기 동작할 때, 상기 카메라는 여덟번 촬영하는 편광 민감 전역 광단층 장치
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연산기능, 통신기능, 및 저장기능이 적어도 부여될 수 있는 제어장치;상기 제어장치에 의해서 제어되고, 위상변조된 간섭신호를 제공하는 위상변조기;상기 제어장치에 의해서 제어되고, 간섭광으로 제공되는 타원편광의 광축을 회전시켜서 수직성분 또는 편광의 수평성분이 선택적으로 통과하도록 하는 선택편광투과장치; 및상기 제어장치에 의해서 제어되고, 상기 선택편광투과장치를 통과한 광을 촬영하는 카메라가 포함되고,상기 선택편광투과장치에는, 외력에 의해서 편광상태가 가변되는 편광스위치와, 상기 편광스위치를 통과한 광이 입사하는 선형편광자가 포함되고,상기 제어장치는, 상기 위상변조기의 한 주기 동안, 상기 편광스위치는 반주기가 진행하고, 상기 카메라는 네 번의 촬영을 수행하는 편광 민간 전역 광단층 장치의 제어시스템
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샘플측과 레퍼런스측으로부터의 반사광이 서로 간섭하는 간섭광을 획득하는 것;상기 간섭광의 수직성분과 수평성분을 시간적으로 분리하여 이미지화 하는 것; 및상기 수직성분과 상기 수평성분을 각각 합하여 단일 이미지정보로 제공하고, 각각의 상기 단일 이미지정보를 비교하여 복굴절 정보를 획득하는 것이 포함되고,상기 복굴절 정보는, 수평성분의 상기 단일 이미지정보와 수직성분의 상기 단일 이미지정보를 나누고 제곱근과 아크 탄젠트를 취하여 획득되는 편광 민감 전역 광단층 장치의 제어방법
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