맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

컬럼 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ＡＤＣ 및 이를 포함하는 ＣＭＯＳ 이미지 센서

  • 기술번호 : KST2015188268
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC에 관한 것으로서, 입력 전압(VIN)과 시간에 따라 일정한 기울기를 갖고 증가하는 램프(Ramp) 입력을 비교하고, 비교 결과를 싱크 시프트 출력부로 출력하는 비교부; C-FPN 제거용 메모리로부터 입력받은 C-FPN 제거용 정보와 비교부의 비교 결과에 기초하여 싱크 신호를 시프트하는 싱크 시프트 블록부; n 비트의 디지털 카운터 출력값을 n 비트 메모리 또는 C-FPN 제거용 메모리에 출력하는 n 비트 카운터; n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 시프트된 싱크 신호를 이용하여 저장하는 n 비트 메모리; 및 기준전압에 대응하는 n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 싱크 시프트 블록부에 제공하는 C-FPN 제거용 메모리를 포함하고, 싱크 신호는 n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 결정하는데 사용되는 신호인 것을 특징으로 하며, 컬럼 ADC 간의 변환특성 차이를 해결함으로써, CIS에서의 C-FPN 특성을 제거할 수 있어 향상된 이미지를 구현할 수 있다.
Int. CL H04N 5/378 (2011.01) H03M 1/12 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100122859 (2010.12.03)
출원인 동국대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1211082-0000 (2012.12.05)
공개번호/일자 10-2012-0061523 (2012.06.13) 문서열기
공고번호/일자 (20121212) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.03)
심사청구항수 11

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 동국대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 중구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 송민규 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 문준호 대한민국 서울특별시 동대문구
3 김대윤 대한민국 서울특별시 강동구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인충현 대한민국 서울특별시 서초구 동산로 **, *층(양재동, 베델회관)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 동국대학교 산학협력단 서울특별시 중구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.12.03 수리 (Accepted) 1-1-2010-0799106-96
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2011.07.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-0569667-38
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search		 2011.07.27 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search		 2011.08.02 수리 (Accepted) 9-1-2011-0063495-12
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.09.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0518871-19
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2011.11.11 수리 (Accepted) 1-1-2011-0892819-70
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.12.06 수리 (Accepted) 4-1-2011-5243351-46
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2011.12.12 수리 (Accepted) 1-1-2011-0985074-10
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2012.01.13 수리 (Accepted) 1-1-2012-0034301-86
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2012.02.13 수리 (Accepted) 1-1-2012-0113765-22
11 지정기간연장관련안내서
Notification for Extension of Designated Period		 2012.03.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0022717-22
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.03.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0202495-65
13 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2012-0202494-19
14 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.05.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0283171-56
15 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2012.07.11 수리 (Accepted) 1-1-2012-0554188-64
16 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2012.08.13 수리 (Accepted) 1-1-2012-0647902-16
17 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.09.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0745927-23
18 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.09.14 수리 (Accepted) 1-1-2012-0745926-88
19 등록결정서
Decision to grant		 2012.11.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0693011-10
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2014-0002002-62
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.16 수리 (Accepted) 4-1-2019-5163486-33
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
입력 전압(VIN)과 시간에 따라 일정한 기울기를 갖고 증가하는 램프(Ramp) 입력을 비교하고, 비교 결과를 싱크 시프트 출력부로 출력하는 비교부;상기 비교부의 비교 결과에 기초하여 싱크 신호를 생성하는 카운터를 동작시켜 싱크 신호를 생성하여 출력하고, C-FPN 제거용 메모리로부터 입력받은 C-FPN 제거용 정보를 이용하여 상기 싱크 신호를 출력하는 시간을 시프트하는 싱크 시프트 블록부;n 비트의 디지털 카운터 출력값을 n 비트 메모리 또는 C-FPN 제거용 메모리에 출력하는 n 비트 카운터;상기 n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 상기 시프트된 싱크 신호를 이용하여 저장하는 n 비트 메모리; 및기준전압에 대응하는 상기 n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 상기 싱크 시프트 블록부에 제공하는 C-FPN 제거용 메모리를 포함하고,상기 싱크 신호는 상기 n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 결정하는데 사용되는 신호인 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC
2 2
제 1 항에 있어서,상기 싱크 시프트 블록부는상기 비교부의 비교결과를 이용하여 2n LSB(n은 정수)의 범위를 제어하기 위해 n개의 DFF로 이루어진 LSB 제어 카운터를 포함하는 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC
3 3
제 1 항에 있어서,상기 n 비트 메모리와 상기 C-FPN 제거용 메모리는 SRAM(static random access memory)인 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC
4 4
제 1 항에 있어서,상기 ADC는 싱글 슬로프 ADC인 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 싱크 시프트 블록부의 싱크 신호는 상기 n 비트 메모리 또는 상기 C-FPN 제거용 메모리에 상기 n 비트 카운터의 출력값을 저장하기 위한 쓰기 시간과 저장된 상기 n 비트 카운터의 출력값을 읽는 읽기 시간을 제어하는 신호인 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC
6 6
제 1 항에 있어서,상기 ADC는 컬럼(Column) ADC인 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC
7 7
제 1 항에 있어서,상기 비교부의 출력이 0에서 1로 변하는 순간, 상기 싱크 시프트 블록부가 싱크 신호를 생성하여 상기 n 비트 카운터의 출력을 상기 n 비트 메모리에 저장하는 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC
8 8
입력 전압(VIN)과 시간에 따라 일정한 기울기를 갖고 증가하는 램프(Ramp) 입력을 비교하고, 비교 결과를 싱크 시프트 출력부로 출력하는 비교부;상기 비교부의 비교 결과에 기초하여 싱크 신호를 생성하는 카운터를 동작시켜 싱크 신호를 생성하여 출력하고, C-FPN 제거용 메모리로부터 입력받은 C-FPN 제거용 정보를 이용하여 상기 싱크 신호를 출력하는 시간을 시프트하는 싱크 시프트 블록부;n 비트의 디지털 카운터 출력값을 n 비트 메모리 또는 C-FPN 제거용 메모리에 출력하는 n 비트 카운터;상기 n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 상기 시프트된 싱크 신호를 이용하여 저장하는 n 비트 메모리; 및기준전압에 대응하는 상기 n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 상기 싱크 시프트 블록부에 제공하는 C-FPN 제거용 메모리를 포함하고,상기 입력 전압은 픽셀 어레이를 구성하는 각 픽셀에 대응하는 전압이고, 상기 싱크 신호는 상기 n 비트 카운터의 디지털 카운터 출력값을 결정하는데 사용되는 신호인 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC를 포함하는 CMOS 이미지 센서
9 9
제 8 항에 있어서,상기 싱크 시프트 블록부는상기 비교부의 비교결과를 이용하여 2n LSB(n은 정수)의 범위를 제어하기 위해 n개의 DFF로 이루어진 LSB 제어 카운터를 포함하는 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC를 포함하는 CMOS 이미지 센서
10 10
제 8 항에 있어서,상기 ADC로 입력되는 입력 전압은 픽셀 어레이로부터 입력되는 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC를 포함하는 CMOS 이미지 센서
11 11
제 8 항에 있어서,상기 기준전압을 출력하는 픽셀 row 열을 픽셀 어레이에 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고정 패턴 노이즈를 제거하기 위한 ADC를 포함하는 CMOS 이미지 센서
지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2012074287 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
2 WO2012074287 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2012074287 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
2 WO2012074287 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 동국대학교 산학협력단 일반연구자지원사업(기본) 소프트웨어 기반 무선통신용 고성능 아날로그-디지털 변환기 개발 [2/3]