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영상 분석 스트레인 측정을 위한 스패클 패턴 생성 장치 및 이를 이용한 스트레인 측정 방법(SPECKLE PATTERNING DEVICE FOR MEASURING STRAIN USING IMAGE ANALYSIS AND METHOD FOR MEASURING STRAIN USING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2016008909
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 영상 분석 스트레인 측정을 위한 스패클 패턴 생성 장치 및 이를 이용한 스트레인 측정 방법이 개시된다. 개시된 스패클 패턴 생성 장치는 복수의 제1관통형 홀을 포함하는 제1마스크; 및 상기 제1마스크의 하부면에 착탈되며, 복수의 제2관통형 홀을 포함하는 제2마스크를 포함하며, 상기 제1 및 제2관통형 홀은 마스크의 상부면에서 하부면 방향으로 지름이 감소하는 형상이며, 상기 제1관통형 홀의 하부면 지름은 상기 제2관통형 홀의 하부면 지름보다 크다.
Int. CL G01N 3/08 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01) G01B 11/16 (2006.01)
CPC G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01)
출원번호/일자 1020150131799 (2015.09.17)
출원인 한양대학교 에리카산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0041760 (2016.04.18) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020140134720   |   2014.10.07
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.09.17)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤종헌 대한민국 경기도 안산시 단원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 민영준 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로 ****, *층(도곡동, 차우빌딩)(맥스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.09.17 수리 (Accepted) 1-1-2015-0907354-31
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.04.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0275407-87
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.06.16 수리 (Accepted) 1-1-2017-0575516-67
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.06.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0575510-94
5 등록결정서
Decision to grant
2017.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0726806-47
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번호 청구항
1 1
영상 분석 스트레인 측정을 위한 스패클 패턴을 생성하는 장치에 있어서,기판; 상기 기판상에 마련된 복수의 스터드를 포함하며,상기 스터드의 일단에는 나선형 구조체가 마련되며,상기 나선형 구조체에 흡착되는 잉크의 양은상기 나선형 구조체의 회전수에 따라 결정되는스패클 패턴 생성 장치
2 2
삭제
3 3
제 1항에 있어서,상기 스터드의 지름 또는 간격은스패클 패턴 생성을 위한 잉크의 점도에 따라 결정되는스패클 패턴 생성 장치
4 4
영상 분석 스트레인 측정을 위한 스패클 패턴을 생성하는 장치에 있어서,복수의 제1관통형 홀을 포함하는 제1마스크; 및상기 제1마스크의 하부면에 착탈되며, 복수의 제2관통형 홀을 포함하는 제2마스크를 포함하며,상기 제1 및 제2관통형 홀은 마스크의 상부면에서 하부면 방향으로 지름이 감소하는 형상이며,상기 제1관통형 홀의 하부면 지름은 상기 제2관통형 홀의 하부면 지름보다 큰스패클 패턴 생성 장치
5 5
제 4항에 있어서,상기 제1관통형 홀의 경사각은상기 제2관통형 홀의 경사각과 동일한스패클 패턴 생성 장치
6 6
제 4항에 있어서,상기 제1관통형 홀의 하부면 지름은상기 제2관통형 홀의 상부면 지름과 동일한스패클 패턴 생성 장치
7 7
제 4항에 있어서,상기 제1 및 제2관통형 홀의 경사각은스패클 패턴 생성을 위한 잉크의 점도에 따라 결정되는스패클 패턴 생성 장치
8 8
영상 분석 스트레인 측정을 위한 스패클 패턴을 생성하는 장치에 있어서,복수의 제1스터드가 마련된 제1기판; 및상기 제1기판의 상부면에 착탈되며, 복수의 제2스터드가 마련된 제2기판을 포함하며,상기 제2기판은, 상기 제2스터드가 상기 제1기판의 관통부를 통과하여 상기 제1기판과 결합되는스패클 패턴 생성 장치
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제 8항에 있어서,상기 제1스터드의 지름은상기 제2스터드의 지름과 동일한스패클 패턴 생성 장치
10 10
제 8항에 있어서,상기 제1 및 제2스터드의 일단에는홀 또는 나선형 구조체가 마련되는스패클 패턴 생성 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.