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표면장력 측정 장치 및 측정 방법(DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SURFACE TENSTION)

  • 기술번호 : KST2017007991
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 실시예에 따른 표면장력 측정 장치는 절연성 액체가 적극을 덮으며 실장되는 적어도 하나의 셀, 전극에 전압을 인가하는 전원부, 전극에 인가된 전압으로 변동되는 비절연성 액체와 절연성 액체의 계면의 저점을 계측하는 계측부 및 계면의 저점에 기초하여 상기 계면의 표면장력을 계산하는 계산부를 포함한다.
Int. CL G01N 13/02 (2017.05.16) G01B 21/16 (2017.05.16) G01B 21/08 (2017.05.16) G01R 27/26 (2017.05.16)
CPC
출원번호/일자 1020170040306 (2017.03.29)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0057180 (2017.05.24) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2015-0104418 (2015.07.23)
관련 출원번호 1020150104418
심사청구여부/일자 Y (2017.03.29)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이정훈 대한민국 서울시 서초구
2 최승열 대한민국 서울시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 아이스퀘어 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로 ***, **층 ***호(대치동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2017.03.29 수리 (Accepted) 1-1-2017-0310403-14
2 보정요구서
Request for Amendment
2017.04.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0048548-94
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.05.10 수리 (Accepted) 1-1-2017-0445808-23
4 등록결정서
Decision to grant
2017.05.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0347499-88
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소정 형태의 기둥에 둘러싸여 형성되며, 하방에 전극이 배치되고, 상기 전극을 덮는 절연성 액체 및 상기 절연성 액체와 섞이지 않고 상기 절연성 액체의 상부에 배치되는 비절연성 액체가 실장되는 적어도 하나의 셀;상기 전극에 전압을 인가하는 전원부;상기 전극에 전압이 인가되어 상기 비절연성 액체와 상기 절연성 액체 사이의 계면이 하방으로 볼록한 형상을 이루면, 상기 계면의 저점을 계측하고, 상기 기둥과 상기 계면이 만나는 지점의 높이와 상기 저점의 높이의 차이인 계면의 처짐 정도를 계측하는 계측부; 및 상기 계면의 처짐 정도에 기초하여 상기 계면의 전기적 파라미터를 계산하고, 계산한 전기적 파라미터에 기초하여 표면장력을 계산하는 계산부를 포함하는, 표면장력 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 전기적 파라미터는, 상기 계면의 정전용량인, 표면장력 측정 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 계산부는,상기 계면의 처짐 정도에 기초하여 상기 계면의 곡률 반경을 계산하고, 상기 계면의 곡률 반경에 기초하여 상기 셀의 중앙에서 소정의 거리만큼 이동된 지점에서의 계면의 높이를 계산하고, 상기 처짐 정도 및 상기 셀의 중앙에서 소정의 거리만큼 이동된 지점에서의 계면의 높이에 기초하여 상기 계면의 정전 용량을 계산하고, 상기 계면의 에너지에서 상기 정전 용량으로 산출된 전기 에너지를 제외하여 구해진 표면 에너지로부터 표면장력을 산출하는, 표면장력 측정 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 계산부는,상기 전극에 인가되는 제1 전압에 기초한 계면의 처짐 정도, 상기 전극에 인가되는 제2 전압에 기초한 계면의 처짐 정도, 상기 제1 전압인가시의 계면의 에너지 및 상기 제2 전압인가시의 계면의 에너지의 차에 기초하여 표면장력을 산출하는, 표면장력 측정 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 계산부는,상기 제1 전압인가시의 계면의 에너지 및 상기 제2 전압인가시의 계면의 에너지차에서, 제1 전압에 기초한 계면의 처짐 정도로 산출된 전기 에너지 및 상기 전극에 인가되는 제2 전압에 기초한 계면의 처짐 정도로 산출된 전기 에너지의 차를 제외하여 구해진 표면 에너지의 차로부터 표면장력을 산출하는, 표면장력 측정 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 계면에는 리셉터가 배치되며, 상기 계산부는,상기 전극에 전압 인가시, 상기 리셉터가 배치된 계면의 처짐 정도에 기초하여, 상기 리셉터에 결합하는 타겟 분자의 존재 여부 및 정도를 판단하는, 표면장력 측정 장치
7 7
제1항에 있어서,상기 셀이 둘 이상일 때 상기 둘 이상의 셀은,계면에 리셉터가 배치된 셀과 계면에 리셉터가 배치되지 않은 셀을 적어도 하나씩 포함하고, 상기 계산부는,상기 계면에 리셉터가 배치된 셀과 상기 계면에 리셉터가 배치되지 않은 셀에 전압 인가시, 상기 리셉터가 배치되지 않은 셀의 계면의 처짐 정도와, 상기 리셉터가 배치된 셀의 계면의 처짐 정도를 비교하여, 상기 리셉터에 결합하는 타겟 분자의 존재 여부 및 정도를 판단하는, 표면장력 측정 장치
8 8
제1항에 있어서,상기 셀이 하나 이상일 때 각각의 셀은 적어도 하나의 셀과 연결되는, 표면장력 측정 장치
9 9
소정 형태의 기둥에 둘러싸여 형성되며, 하방에 전극이 배치되고, 상기 전극을 덮는 절연성 액체 및 상기 절연성 액체와 섞이지 않고 상기 절연성 액체의 상부에 배치되는 비절연성 액체가 실장되는 적어도 하나의 셀을 포함하는 표면장력 측정 장치가 수행하는 표면장력을 측정 방법에 있어서,상기 전극에 전압을 인가하는 단계;상기 전극에 전압이 인가되어 상기 비절연성 액체와 상기 절연성 액체 사이의 계면이 하방으로 볼록한 형상을 이루면, 상기 계면의 저점을 계측하고, 상기 기둥과 상기 계면이 만나는 지점의 높이와 상기 계면의 저점의 높이의 차이인 계면의 처짐 정도를 계측하는 단계; 및 상기 계면의 처짐 정도에 기초하여 상기 계면의 전기적 파라미터를 계산하고, 계산한 전기적 파라미터에 기초하여 표면장력을 계산하는 단계를 포함하는, 표면장력 측정 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 계산하는 단계는,상기 계면의 처짐 정도에 기초하여 상기 계면의 곡률 반경을 계산하고, 상기 계면의 곡률 반경에 기초하여 상기 셀의 중앙에서 소정의 거리만큼 이동된 지점에서의 계면의 높이를 계산하고, 상기 처짐 정도 및 상기 셀의 중앙에서 소정의 거리만큼 이동된 지점에서의 계면의 높이에 기초하여 상기 계면의 정전 용량을 계산하고, 상기 계면의 에너지에서 상기 정전 용량으로 산출된 전기 에너지를 제외하여 구해진 표면 에너지로부터 표면장력을 산출하는, 표면장력 측정 방법
11 11
제9항에 있어서,상기 계산하는 단계는,상기 전극에 인가되는 제1 전압에 기초한 계면의 처짐 정도, 상기 전극에 인가되는 제2 전압에 기초한 계면의 처짐 정도, 상기 제1 전압인가시의 계면의 에너지 및 상기 제2 전압인가시의 계면의 에너지 차에 기초하여 표면장력을 산출하는, 표면장력 측정 방법
12 12
제9항에 있어서,상기 셀 중 적어도 하나의 셀의 계면에는 리셉터가 배치되며, 상기 계산하는 단계는,상기 전극에 전압 인가시, 상기 리셉터가 배치된 셀의 계면의 처짐 정도에 기초하여, 상기 리셉터에 결합하는 타겟 분자의 존재 여부 및 정도를 판단하는, 표면장력 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
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1 KR1020170012751 KR 대한민국 FAMILY
2 WO2017014608 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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DOCDB 패밀리 정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 서울대학교 산학협력단 글로벌프론티어연구개발사업 다종 물질 감지 시스템을 위한 고특이적 바이오 리셉터 개발