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기술 성장곡선을 이용한 기술수준 평가 방법 및 장치(METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING TECHNOLOGY LEVEL USING TECHNOLOGY GROWTH CURVE)

  • 기술번호 : KST2017014293
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 조사기반의 성장곡선의 검증을 통해 동태적인 기술수준을 평가할 수 있는 기술 성장곡선을 이용한 기술수준 평가 방법 및 장치에 관한 것이다.본 발명의 일실시예에 의한 기술수준 평가 방법은 델파이 조사 결과를 이용하여 조사기반 성장곡선을 도출하는 단계; 상기 조사 결과에 포함된 각 기술에 대한 특허 통계 데이터를 이용하여 특허기반 성장곡선을 도출하는 단계; 상기 도출된 특허기반 성장곡선을 이용하여 상기 조사기반 성장곡선을 검증하는 단계; 및 상기 검증 결과에 따라 새로운 성장곡선을 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G06Q 10/06 (2016.04.01) G06Q 10/04 (2016.04.01)
CPC G06Q 10/06(2013.01) G06Q 10/06(2013.01) G06Q 10/06(2013.01) G06Q 10/06(2013.01) G06Q 10/06(2013.01)
출원번호/일자 1020160022272 (2016.02.25)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0100126 (2017.09.04) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.02.25)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박상성 대한민국 서울특별시 동대문구
2 전성해 대한민국 인천광역시 연수구
3 장동식 대한민국 서울특별시 성북구
4 김성철 대한민국 서울특별시 용산구
5 김종찬 대한민국 경기도 광주시 문

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 윤형근 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
3 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
4 최영중 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)(특허법인(유한) 대아)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2016-0184315-92
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2016.09.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2016.11.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0152656-76
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2016.11.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0824356-34
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.01.05 수리 (Accepted) 1-1-2017-0014649-73
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.01.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0014650-19
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal		 2017.05.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0357109-87
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.07.13 수리 (Accepted) 1-1-2017-0669286-87
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.07.13 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2017-0669287-22
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2017.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0837061-10
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
델파이 조사 결과를 이용하여 조사기반 성장곡선을 도출하는 단계;상기 조사 결과에 포함된 각 기술에 대한 특허 통계 데이터를 이용하여 특허기반 성장곡선을 도출하는 단계;상기 도출된 특허기반 성장곡선을 이용하여 상기 조사기반 성장곡선을 검증하는 단계; 및상기 검증 결과에 따라 새로운 성장곡선을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 조사기반 성장곡선 도출 단계 및 특허기반 성장곡선 도출 단계는 하기 수학식 1을 이용하는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 방법
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 수학식 1의 α 및 β값은 하기 수학식 2로 표현되는 오차자승합이 최소가 되도록 산출되는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 조사기반 성장곡선을 검증하는 단계는 상기 조사기반 성장곡선의 회귀분석 결과를 도출하는 단계;상기 특허기반 성장곡선의 회귀분석 결과를 도출하는 단계; 및상기 두 성장곡선의 회귀계수의 신뢰구간이 중첩되는지 확인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 방법
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 새로운 성장곡선 생성단계는 상기 검증 결과, 두 성장곡선의 회귀계수의 신뢰구간이 중첩되는 부분이 없는 경우, 하기 수학식 3에 따라 새로운 성장곡선을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 방법
6 6
델파이 조사 결과를 이용하여 조사기반 성장곡선을 도출하는 조사기반 성장곡선 도출부;상기 조사 결과에 포함된 각 기술에 대한 특허 통계 데이터를 이용하여 특허기반 성장곡선을 도출하는 특허기반 성장곡선 도출부;상기 도출된 특허기반 성장곡선을 이용하여 상기 조사기반 성장곡선을 검증하는 검증부; 및상기 검증 결과에 따라 새로운 성장곡선을 생성하는 보정 성장곡선 도출부; 및 상기 조사기반 성장곡선 도출부, 상기 특허기반 성장곡선 도출부, 상기 검증부, 상기 보정 성장곡선 도출부를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 장치
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 조사기반 성장곡선 도출부 및 특허기반 성장곡선 도출부는 하기 수학식 1을 이용하는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 장치
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 수학식 1의 α 및 β값은 하기 수학식 2로 표현되는 오차자승합이 최소가 되도록 산출되는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 장치
9 9
제 6 항에 있어서, 상기 검증부는상기 조사기반 성장곡선의 회귀분석 결과를 도출하고, 상기 특허기반 성장곡선의 회귀분석 결과를 도출하고, 상기 두 성장곡선의 회귀계수의 신뢰구간이 중첩되는지 확인하는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 장치
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 보정 성장곡선 도출부는 상기 검증 결과, 두 성장곡선의 회귀계수의 신뢰구간이 중첩되는 부분이 없는 경우, 하기 수학식 3에 따라 새로운 성장곡선을 생성하는 것을 특징으로 하는 기술수준 평가 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육부 고려대학교 산학협력단 BK21PLUS사업 BK21PLUS사업
2 교육부 고려대학교 산학협력단 이공학개인기초연구지원 R＆D 성과확산을 위한 기술사업화 시스템 개발