[KST2015075592][한국전자통신연구원] |
다단계 카운터의 시험회로 |
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[KST2015096567][한국전자통신연구원] |
메모리 테스트 패턴 생성기 |
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[KST2015074891][한국전자통신연구원] |
단안정펄스래치를사용한디지탈PCB의누화시험장치 |
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[KST2015075577][한국전자통신연구원] |
인쇄회로기판 배선의 신호특성 검사를 위한 측정회로및그를이용한신호측정방법 |
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[KST2015092560][한국전자통신연구원] |
복수의 샘플들을 테스트하는 테스트 장치 및 그것의 동작 방법 |
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[KST2015074097][한국전자통신연구원] |
티이앰셀을이용한전자파장해측정용피시험체받침대 |
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[KST2015090283][한국전자통신연구원] |
회로 테스트용 측정장치 |
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[KST2015091130][한국전자통신연구원] |
반도체 소자 테스트 장치 |
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[KST2017006350][한국전자통신연구원] |
시험 자동화 방법 및 장치(TEST AUTOMATION METHOD AND APPARATUS THEREOF) |
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[KST2018004455][한국전자통신연구원] |
열전 성능 측정 장치(Device for measuring thermoelectric performance) |
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[KST2019011483][한국전자통신연구원] |
전원 라인 필터의 성능 감시 장치 및 방법 |
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[KST2022020755][한국전자통신연구원] |
전력 신호 고조파 성분 분석을 통한 개별 가전 식별 방법 및 이를 수행하는 장치들 |
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[KST2015082836][한국전자통신연구원] |
IEEE 1500 래퍼를 갖는 시스템 온 칩 및 그것의 내부지연 테스트 방법 |
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[KST2015093713][한국전자통신연구원] |
고출력 증폭기 MMIC를 위한 범용적 측정 장치 |
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[KST2016017560][한국전자통신연구원] |
RF 및 마이크로파 고출력 증폭기를 위한 저비용 고정확 범용 측정 고정 장치(Low Cost High Accuracy Universal Test Fixture for RF and Microwave High Power Amplifiers) |
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[KST2023010341][한국전자통신연구원] |
로드 시그니쳐 기반 동작 가전 식별 방법, 동작 가전 식별 장치, 및 동작 가전 식별 시스템 |
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전자소자 신뢰성 측정 시스템 및 그에 따른 신뢰성 측정 방법 |
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[KST2015099449][한국전자통신연구원] |
테스트가용이한시간선택형타이머및그테스트방법 |
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아이씨소켓 |
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광통신 모듈 수명 시험 장치 |
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[KST2015088386][한국전자통신연구원] |
반도체 설계 자산 테스트 회로 |
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[KST2015100361][한국전자통신연구원] |
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[KST2016017017][한국전자통신연구원] |
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[KST2019004154][한국전자통신연구원] |
이앙기 액추에이터 고장 진단장치 및 진단방법 |
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[KST2022018903][한국전자통신연구원] |
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