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다단계 카운터의 시험회로 |
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| [KST2015096567][한국전자통신연구원] |
메모리 테스트 패턴 생성기 |
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| [KST2018004398][한국전자통신연구원] |
승용이앙기가 수행하는 이앙 가이드 방법(RIDING-TYPE RICE TRANSPLANTER FOR PERFORMING THE GUIDING PLANTING SEEDLINGS) |
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| [KST2017015934][한국전자통신연구원] |
반도체 소자의 테스트 소켓(TEST SOCKET FOR SEMICONDUCTOR DEVICE) |
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| [KST2015074891][한국전자통신연구원] |
단안정펄스래치를사용한디지탈PCB의누화시험장치 |
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| [KST2015075577][한국전자통신연구원] |
인쇄회로기판 배선의 신호특성 검사를 위한 측정회로및그를이용한신호측정방법 |
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| [KST2015087568][한국전자통신연구원] |
자유공간 측정 결과를 이용한 접지면상 복사 전계 추출 방법 |
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| [KST2015101694][한국전자통신연구원] |
슬릿을 이용한 표준전자파 발생장치 |
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| [KST2015081581][한국전자통신연구원] |
표면탄성파 필터의 내전력 시험 시스템 및 그 방법 |
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| [KST2015087768][한국전자통신연구원] |
전기통신회선의 평형도 측정 장치 및 방법 |
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| [KST2015090283][한국전자통신연구원] |
회로 테스트용 측정장치 |
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| [KST2017006350][한국전자통신연구원] |
시험 자동화 방법 및 장치(TEST AUTOMATION METHOD AND APPARATUS THEREOF) |
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ＩＥＥＥ 1500 래퍼를 갖는 시스템 온 칩 및 그것의 내부지연 테스트 방법 |
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능동 소자의 대신호 모델 구성 방법 |
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빛을 이용한 미세 전기기계 구조의 구동방법 및 상태검증 방법 |
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RF 및 마이크로파 고출력 증폭기를 위한 저비용 고정확 범용 측정 고정 장치(Low Cost High Accuracy Universal Test Fixture for RF and Microwave High Power Amplifiers) |
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| [KST2015090203][한국전자통신연구원] |
코히어런트 광 수신기 성능 측정장치 |
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전자소자 신뢰성 측정 시스템 및 그에 따른 신뢰성 측정 방법 |
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테스트가용이한시간선택형타이머및그테스트방법 |
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아이씨소켓 |
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범용 통신 시험 장치 및 그것의 통신 기기 시험 방법 |
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구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사장치 및방법 |
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정전용량변화검출회로 |
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시변 크기 제곱 코히어런스 함수 추정 장치 |
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| [KST2017006351][한국전자통신연구원] |
시험 자동화 방법 및 장치(TEST AUTOMATION METHOD AND APPARATUS THEREOF) |
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지.티.이.엠셀출력단을이용한복사전계측정방법 |
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| [KST2015088386][한국전자통신연구원] |
반도체 설계 자산 테스트 회로 |
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| [KST2015096780][한국전자통신연구원] |
반도체 소자 테스트 소켓 |
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| [KST2015100361][한국전자통신연구원] |
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| [KST2018011491][한국전자통신연구원] |
전자파 잔향실 |
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