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반도체 기판 상에 금속 나노 입자를 형성하는 금속 나노 입자 형성 단계;상기 반도체 기판을 에칭하는 제1 식각 단계; 상기 금속 나노 입자를 제거하는 금속 나노 입자 제거 단계; 및상기 제1 식각 단계에서 에칭된 반도체 기판을 에칭하여 나노 구조체를 형성하는 제2 식각 단계를 포함하되,상기 금속 나노 입자 형성 단계 이전에, 상기 반도체 기판 상에 유전체 박막을 증착하는 유전체 박막 증착 단계를 더 포함하고, 상기 금속 나노 입자 형성 단계는, 상기 유전체 박막 상에 상기 금속 나노 입자를 형성하는 단계이고, 상기 제1 식각 단계는, 상기 유전체 박막 및 상기 반도체 기판을 에칭하여 상기 유전체 박막을 상기 반도체 기판 상에 패터닝하는 단계이며, 상기 금속 나노 입자 제거 단계는, 상기 유전체 박막 상에 형성된 상기 금속 나노 입자를 제거하는 단계이고, 상기 제2 식각 단계는, 상기 제1 식각 단계에서 패터닝 된 유전체 박막 및 상기 제1 식각 단계에서 에칭된 반도체 기판을 에칭하여 나노 구조체를 형성하는 단계이며,상기 금속 나노 입자 형성 단계는, 금속 나노 대입자와 상기 금속 나노 대입자보다 크기가 작은 금속 나노 소입자가 동시에 성장하는 바이모달(bimodal) 성장 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 반도체 기판은 결정질 실리콘 웨이퍼로 형성되고,상기 제2 식각 단계는,상기 제1 식각 단계에서 패터닝 된 유전체 박막 및 상기 제1 식각 단계에서 에칭된 반도체 기판을 에칭하여, 피라미드 또는 타원 홀 형상을 지닌 실리콘 나노 구조체를 형성하는 단계인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 제2 식각 단계는,상기 제1 식각 단계에서 패터닝 된 유전체 박막 및 상기 제1 식각 단계에서 에칭된 반도체 기판을 에칭하여 나노 구조체를 형성하되,상기 나노 구조체의 깊이를 100nm 내지 1000nm로 형성하는 단계인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 유전체 박막은, 실리콘계 질화물, 실리콘계 산화물, 실리콘 산화 질화물 또는 알루미늄계 산화물로 이루어지고, 단층 또는 다층 박막 형태인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 유전체 박막의 두께는 50nm 내지 400nm인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 금속 나노 입자는 융점이 250ºC 이하인 In, sn 또는 In과 Sn의 합금으로 형성되고,상기 금속 나노 입자 형성 단계는,열처리 없이 상온에서 상기 유전체 박막 상에 상기 금속 나노 입자를 형성하는 단계인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 금속 나노 입자의 공칭 두께는 50nm 내지 200nm 인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 바이모달 성장 과정을 통해 생성된 상기 금속 나노 소입자의 크기는 상기 금속 나노 대입자 크기의 0% 초과50% 이하이고, 상기 금속 나노 대입자의 평균 직경은 0nm 초과 1000nm 이하인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 제1 식각 단계는,상기 유전체 박막 및 상기 반도체 기판을 에칭하여 상기 유전체 박막을 상기 반도체 기판 상에 패터닝하되,상기 유전체 박막 및 상기 반도체 기판을 100nm 내지 500nm의 깊이로 에칭하는 단계인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 있어서,상기 제2 식각 단계는,상기 제1 식각 단계에서 패터닝 된 유전체 박막과 불화수소, 질산, 아세트산 및 인산 중 어느 하나 또는 둘 이상이 혼합된 용액을 이용하여 상기 반도체 기판을 습식 에칭하고, 타원 홀 형상의 나노 구조체를 형성하는 단계인 것을 특징으로 하는 반도체 기판을 텍스쳐링 하는 방법
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제2항에 따라 제조된 것을 특징으로 하는 반도체 기판
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제13항의 반도체 기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 태양 전지
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