[KST2016013354][한국기술교육대학교] |
반도체 검사장치(DEVICE FOR PERFORMANCE TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR PACKAGE) |
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[KST2014029775][인하대학교] |
엘이디 측정을 위한 하이브리드 MEMS 프로브카드 |
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[KST2016006794][서울대학교] |
반도체 소자의 제조 장치의 공정 모니터링 방법 및 이를 이용한 모니터링 시스템(Method of monitoring process performed by fabrication apparatus of semiconductor device and monitoring system using the same) |
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[KST2019012202][한국과학기술원] |
실리콘 관통전극의 킵-아웃 존 결정 방법 및 킵-아웃 존을 결정하는 프로그램을 저장한 컴퓨터 판독가능 기록매체 |
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[KST2016009005][고려대학교] |
유기 발광 다이오드의 품질 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 유기 발광 다이오드의 품질 검사 장치(METHOD OF INSPECTING QUALITY OF ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE AND INSPECTING APPARATUS OF ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE FOR PERFORMING THE METHOD) |
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[KST2014006481][한국표준과학연구원] |
반도체 웨이퍼 두께 측정 장치 |
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[KST2014012626][한국전기연구원] |
전력반도체 소자의 온도 모니터링 시스템 및 그 방법 |
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[KST2019011235][한국기초과학지원연구원] |
웨이퍼 검사장치 |
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[KST2015012928][] |
제조 공정에서의 제품 불량의 원인 설비를 탐지하는 방법 및 장치 |
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[KST2014052976][한국생산기술연구원] |
필름굽힘 시험장치 |
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[KST2019001759][한국과학기술원] |
기능성 금속산화물 제조 방법 및 이에 의해 제조된 전자소자 |
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[KST2015011379][세종대학교] |
증착 박막의 표면 거칠기 측정방법 및 장치 |
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[KST2014014258][인하대학교] |
자기변형 박막의 영향을 받는 캔틸레버 유한요소 해석 방법 |
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[KST2019014074][한국표준과학연구원] |
확장된 검사 영역을 갖는 웨이퍼 센서, 및 이를 이용한 건식 공정 장치 |
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[KST2015067545][LG그룹] |
반도체 웨이퍼 검사 장치 및 그 제어 방법 |
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[KST2015067542][LG그룹] |
온도 측정 장치, 웨이퍼 열처리 장치 및 웨이퍼 열처리 방법 |
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[KST2016006387][전북대학교] |
자기부상 이중서보 스테이지(DUAL SERVO STAGE USING MAGNETIC LEVITATION TECHNOLOGY) |
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[KST2014002868][한국전자기술연구원] |
무전해도금법을 이용한 프로브카드용 탐침구조물 제조 방법 |
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[KST2014002811][한국전자기술연구원] |
유리잉크 코팅법을 이용한 프로브카드용 탐침의 절연방법 |
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[KST2014012594][한국전기연구원] |
전계 방출 및 전기적 특성 측정을 위한 시스템 |
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[KST2016009758][한국원자력연구원] |
중성자 핵변환 도핑을 위한 조사체 회전 장치(ROTATING APPARATUS OF IRRADIATION RIG FOR NEUTRON TRANSMUTATION DOPING) |
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[KST2014000859][호서대학교] |
마크 분할 검사 방법 |
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[KST2019001472][고려대학교] |
웨이퍼 검사 방법, 및 이를 이용한 반도체 장치 제조 방법 |
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[KST2014035696][성균관대학교] |
단일 웨이퍼 프로브 유닛 및 제조 방법 |
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[KST2014034700][성균관대학교] |
프로브 유닛 및 이를 제조하는 방법 |
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[KST2014034706][한국생산기술연구원] |
포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치 및 그 방법 |
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[KST2014039236][포항공과대학교 산학협력단] |
캐패시티브 커플링에 의한 크로스톡 효과를 고려한 게이트 지연 시간 계산 방법 |
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[KST2019004295][한국전기연구원] |
피에조 엑츄에이터식 1축 정밀 제어모듈과 피에조 엑츄에이터식 1축 정밀 제어장치 |
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[KST2014032924][경희대학교 국제캠퍼스] |
기판의 국소적 온도 조절이 가능한 나노 구조체 제조장치 및 나노 구조체 제조방법 |
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[KST2023002768][성균관대학교] |
파라미터 설정 없이 결함 데이터에서 노이즈 결함을 추출하는 방법 및 장치 |
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