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오프셋 전압 상쇄를 이용한 메모리 셀 읽기 회로

  • 기술번호 : KST2019030838
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 메모리 셀 읽기 회로가 개시된다. 개시된 메모리 셀 읽기 회로는 전원 공급을 위해 각각 대칭적으로 연결된 제1 트랜지스터/제2 트랜지스터와, 읽기 동작을 위해 대칭적으로 연결된 제3 트랜지스터/제4 트랜지스터와, 다수의 제1 스위치를 포함하는 센스 앰프; 제2 스위치가 온되는 경우 제5 트랜지스터를 통해 상기 센스 앰프와 연결되는 데이터 셀 및 제3 스위치가 온되는 경우 제6 트랜지스터를 통해 상기 센스 앰프와 연결되는 레퍼런스 셀을 포함하는 셀부; 대칭적으로 연결된 제7 트랜지스터/제8 트랜지스터와, 다수의 제4 스위치와, 다수의 캐패시터를 포함하며, 상기 다수의 제1 스위치 및 상기 다수의 제4 스위치의 온/오프 제어를 통해 상기 제1 트랜지스터의 문턱 전압과 상기 제2 트랜지스터의 문턱 전압을 저장하는 저장부;를 포함하되, 상기 센스 앰프는 상기 저장부에 저장된 전압을 이용하여 메모리 셀의 읽기 동작을 수행한다.
Int. CL G11C 11/16 (2006.01.01) G11C 7/06 (2006.01.01) H01L 43/08 (2006.01.01) H01L 43/12 (2006.01.01)
CPC G11C 11/1673(2013.01) G11C 11/1673(2013.01) G11C 11/1673(2013.01) G11C 11/1673(2013.01) G11C 11/1673(2013.01) G11C 11/1673(2013.01) G11C 11/1673(2013.01)
출원번호/일자 1020150162942 (2015.11.20)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1704933-0000 (2017.02.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170222) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.11.20)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박상규 대한민국 서울특별시 송파구
2 임일영 대한민국 경기도 시흥시 군

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2015-1132348-24
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.05.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.07.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0087783-52
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.07.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0513364-94
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.09.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0889080-48
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.09.12 수리 (Accepted) 1-1-2016-0889079-02
7 등록결정서
Decision to grant
2017.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0068025-49
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전원 공급을 위해 각각 대칭적으로 연결된 제1 트랜지스터/제2 트랜지스터와, 읽기 동작을 위해 대칭적으로 연결된 제3 트랜지스터/제4 트랜지스터와, 다수의 제1 스위치를 포함하는 센스 앰프;제2 스위치가 온되는 경우 제5 트랜지스터를 통해 상기 센스 앰프와 연결되는 데이터 셀 및 제3 스위치가 온되는 경우 제6 트랜지스터를 통해 상기 센스 앰프와 연결되는 레퍼런스 셀을 포함하는 셀부;대칭적으로 연결된 제7 트랜지스터/제8 트랜지스터와, 다수의 제4 스위치와, 다수의 캐패시터를 포함하며, 상기 다수의 제1 스위치 및 상기 다수의 제4 스위치의 온/오프 제어를 통해 상기 제1 트랜지스터의 문턱 전압과 상기 제2 트랜지스터의 문턱 전압을 저장하는 저장부;를 포함하되, 상기 센스 앰프는 상기 저장부에 저장된 전압을 이용하여 메모리 셀의 읽기 동작을 수행하고, 상기 다수의 제4 스위치는 제4-1 스위치 및 제4-2 스위치를 포함하고, 상기 다수의 캐패시터는 제1 캐패시터 및 제2 캐패시터를 포함하되, 상기 제1 캐패시터의 일단은 제1 노드에서 상기 제3 트랜지스터의 게이트 전극, 상기 제7 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제4-2 스위치의 일단과 연결되고, 상기 제1 캐패시터의 타단은 상기 제1 트랜지스터의 게이트 전극과 연결되고, 상기 제2 캐패시터의 일단은 제2 노드에서 상기 제4 트랜지스터의 게이트 전극, 상기 제8 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제4-2 스위치의 타단과 연결되고, 상기 제4-1 스위치의 일단은 상기 제7 트랜지스터의 게이트 전극 및 상기 제8 트랜지스터의 게이트 전극과 연결되고, 상기 제4-1 스위치의 타단은 접지와 연결되고, 상기 제7 트랜지스터의 게이트 전극 및 상기 제8 트랜지스터의 게이트 전극은 전원 전압단과 연결되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터의 드레인 전극은 상기 제3 트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 상기 제2 트랜지스터의 드레인 전극은 상기 제4 트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 상기 제3 트랜지스터의 소스 전극 및 상기 제4 트랜지스터의 소스 전극은 서로 연결되고, 상기 제3 트랜지스터의 게이트 전극은 상기 제1 노드와 연결되고, 상기 제4 트랜지스터의 게이트 전극은 상기 제2 노드와 연결되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
4 4
제3항에 있어서, 상기 다수의 제1 스위치는 제1-1 스위치, 제1-2 스위치, 제1-3 스위치, 제1-4 스위치, 제1-5 스위치 및 제1-6 스위치를 포함하되, 상기 제1-1 스위치의 일단은 전원 전압단과 연결되고, 상기 제1-1 스위치의 타단은 상기 제1 트랜지스터의 소스 전극 및 상기 제2 트랜지스터의 소스 전극과 연결되고, 상기 제1-2 스위치의 일단은 상기 제1 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제3 트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 상기 제1-2 스위치의 타단은 상기 제1 캐패시터의 타단 및 상기 제1 트랜지스터의 게이트 전극과 연결되고, 상기 제1-3 스위치의 일단은 상기 제2 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제4 트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 상기 제1-3 스위치의 타단은 상기 제2 캐패시터의 타단 및 상기 제2 트랜지스터의 게이트 전극과 연결되고, 상기 제1-4 스위치의 일단은 상기 제1 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제3 트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 상기 제1-4 스위치의 타단은 상기 제2 노드와 연결되고, 상기 제1-5 스위치의 일단은 상기 제1 노드와 연결되고, 상기 제1-5 스위치의 타단은 상기 제2 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제4 트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 상기 제1-6 스위치의 일단은 상기 제3 트랜지스터의 소스 전극 및 상기 제4 트랜지스터의 소스 전극과 연결되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
5 5
제4항에 있어서, 상기 제5 트랜지스터의 드레인 전극은 상기 제1 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제3 트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 상기 제5 트랜지스터의 소스 전극은 상기 데이터 셀과 연결되고, 상기 제6 트랜지스터의 드레인 전극은 상기 제2 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제4 트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 상기 제6 트랜지스터의 소스 전극은 상기 레퍼런스 셀과 연결되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
6 6
제5항에 있어서, 상기 다수의 제1 스위치, 상기 제2 스위치, 상기 제3 스위치 및 상기 다수의 제4 스위치 각각은 시간적으로 연속된 제1 시간, 제2 시간, 제3 시간, 제4 시간, 제5 시간 및 제6 시간을 포함하는 제어 주기에 따라 제어되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
7 7
제6항에 있어서, 상기 제1 시간에서, 상기 제1-2 스위치, 상기 제1-3 스위치, 상기 제1-6 스위치 및 상기 제4-1 스위치는 온되고, 상기 제1-1 스위치, 상기 제1-4 스위치, 상기 제1-5 스위치, 상기 제2 스위치, 상기 제3 스위치 및 상기 제4-2 스위치는 오프되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
8 8
제6항에 있어서, 상기 제2 시간에서, 상기 제1-1 스위치, 상기 제1-2 스위치, 상기 제1-3 스위치, 상기 제4-1 스위치는 온되고, 상기 제1-4 스위치, 상기 제1-5 스위치, 상기 제1-6 스위치, 상기 제2 스위치, 상기 제3 스위치 및 상기 제4-2 스위치는 오프되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
9 9
제6항에 있어서, 상기 제3 시간에서, 상기 제1-1 스위치, 상기 제1-4 스위치, 상기 제1-5 스위치, 상기 제2 스위치, 상기 제3 스위치 및 상기 제4-2 스위치는 온되고, 상기 제1-2 스위치, 상기 제1-3 스위치, 상기 제1-6 스위치 및 상기 제4-1 스위치는 오프되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
10 10
제6항에 있어서, 상기 제4 시간에서, 상기 제1-1 스위치, 상기 제1-5 스위치, 상기 제2 스위치, 상기 제3 스위치 및 상기 제4-2 스위치는 온되고, 상기 제1-2 스위치, 상기 제1-3 스위치, 상기 제1-4 스위치, 상기 제1-6 스위치 및 상기 제4-1 스위치는 오프되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
11 11
제6항에 있어서, 상기 제5 시간에서, 상기 제1-1 스위치, 상기 제1-4 스위치, 상기 제1-5 스위치, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치는 온되고, 상기 제1-2 스위치, 상기 제1-3 스위치, 상기 제1-6 스위치, 상기 제4-1 스위치 및 상기 제4-2 스위치는 오프되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
12 12
제6항에 있어서, 상기 제6 시간에서, 상기 제1-1 스위치, 상기 제1-4 스위치, 상기 제1-5 스위치 및 상기 제1-6 스위치는 온되고, 상기 제1-2 스위치, 상기 제1-3 스위치, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치, 상기 제4-1 스위치 및 상기 제4-2 스위치는 오프되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
13 13
제6항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제3 트랜지스터의 드레인 전극이 연결된 지점과, 상기 제2 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제4 트랜지스터의 드레인 전극이 연결된 지점에서 출력 신호가 출력되는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
14 14
전원 공급을 위해 각각 대칭적으로 연결된 제1 트랜지스터/제2 트랜지스터, 읽기 동작을 위해 대칭적으로 연결된 제3 트랜지스터/제4 트랜지스터와, 다수의 제1 스위치를 포함하는 센스 앰프;제2 스위치 및 제5 트랜지스터를 통해 상기 센스 앰프와 연결되는 데이터 셀 및 제3 스위치 및 제6 트랜지스터를 통해 상기 센스 앰프와 연결되는 레퍼런스 셀을 포함하는 셀부;대칭적으로 연결된 제7 트랜지스터/제8 트랜지스터와, 제1 캐패시터, 제2 캐패시터, 제4-1 스위치 및 제4-2 스위치를 포함하되, 상기 제1 캐패시터의 일단이 제1 노드에서 상기 제3 트랜지스터의 게이트 전극, 상기 제7 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제4-2 스위치의 일단과 연결되고, 상기 제1 캐패시터의 타단은 상기 제1 트랜지스터의 게이트 전극과 연결되고, 상기 제2 캐패시터의 일단은 제2 노드에서 상기 제4 트랜지스터의 게이트 전극, 상기 제8 트랜지스터의 드레인 전극 및 상기 제4-2 스위치의 타단과 연결되고, 상기 제4-1 스위치의 일단은 상기 제7 트랜지스터의 게이트 전극 및 상기 제8 트랜지스터의 게이트 전극과 연결되고, 상기 제4-1 스위치의 타단은 접지와 연결되는 저장부;를 포함하되, 상기 센스 앰프는 상기 제1 캐패시터 및 상기 제2 캐패시터에 저장된 전압을 이용하여 메모리 셀의 읽기 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 읽기 회로
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1 산업통상자원부 한양대학교산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발사업 10nm급 STT-MRAM의 MTJ 신뢰성 모델링 및 신뢰성 불량에 강인한 회로 기술 연구