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센싱용 광을 발생시키는 광원;지문을 인식할 손가락이 접촉되는 스캐닝 기판;상기 광원으로부터 입사된 광을 광축 방향과 평행인 제1 p 편광과 광축에 수직인 제1 s 편광 방향으로 분리시키는 제1 편광 빔 스플리터; 상기 분리된 제1 s 편광이 손가락의 제1 지문으로부터 확산 반사되어 상기 제1 편광 빔 스플리터로 재입사되며, 상기 재입사된 광이 상기 제1 편광 빔 스플리터를 거쳐서 출력되는 1 출력광을 인식하여 제1지문 이미지 신호를 발생시키는 제1 이미지 센서;상기 제1 편광 빔 스플리터로부터 분리된 제1 p 편광 성분에 대하여 1/2 파장의 광로차를 발생시켜서 제2 s 편광으로 변환시키는 1/2 파장판; 및상기 1/2 파장판에서 변환된 제2 s편광을 상기 광축 방향에 수직인 방향으로 변환시키는 제2 편광 빔 스플리터; 를 포함하며,상기 변환된 제2 s 편광이 손가락의 제2 지문으로부터 확산 반사되어 상기 제2 편광 빔 스플리터로 재입사되며, 상기 이미지센서에 의해 상기 재입사된 광이 상기 제2 편광 빔 스플리터를 거쳐서 출력되는 2 출력광을 인식하여 제2지문 이미지 신호를 발생시키는 것을 특징으로 하는 광학 지문 인식 장치
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제2항에 있어서,상기 제1지문 이미지 신호와 상기 제2지문 이미지 신호를 합성하여 지문의 특징 패턴을 인식하고, 데이터베이스에 저장된 특정 지문과 대조하여 결과를 출력하는 지문 인식 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 지문 인식 장치
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제2항에 있어서,상기 광원과 제1 편광 빔 스플리터 사이에 상기 광원에서 발생되는 입사광을 평행빔으로 변환시켜주는 시준렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 지문 인식 장치
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제2항에 있어서,상기 제1 s 편광이 손가락의 제1 지문으로부터 확산 반사되어 상기 제1 편광 빔 스플리터로 재입사된 광은 표피를 침투하여 반사되는 p' 편광 성분과 표피에서 반사되는 s' 편광 성분이 같이 존재하는 빔으로 변환된 것이며, 상기 s' 편광 성분은 상기 제1 편광 빔 스플리터에서 반사되고, 상기 제1 출력광은 상기 제1 편광 빔 스플리터를 통과한 p' 편광 성분으로 형성된 것을 특징으로 하는 광학 지문 인식 장치
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제2항에 있어서,상기 광원은 가시광 대역의 파장을 갖는 LED 광인 것을 특징으로 하는 광학 지문 인식 장치
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제2항에 있어서,상기 광학 지문 인식장치는, 실제의 지문의 이미지 형태를 위조한 PDMA, 폴리카보네이트 또는 실리콘 재질로 제조된 위조지문에 대하여는 상기 실제의 지문과 다르게 인식하는 것을 특징으로 하는 광학 지문 인식 장치
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