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목표 기술 분야의 특허 데이터를 수집하는 특허 데이터 수집부; 상기 수집된 특허 데이터로부터 특허 평가 지수(Patent index)를 산출하는 평가 지수 산출부; 상기 특허 평가 지수를 입력 벡터로 이용하여 자기조직화 지도(Self-Organizing Map; SOM)를 생성하는 SOM 생성부; 상기 자기조직화 지도를 시각화하는 시각화부 및상기 자기조직화 지도에 기반한 분석을 통해 유의미한 데이터를 추출하고, 상기 추출된 유의미한 데이터를 사용자에게 제공하는 분석 결과 제공부를 포함하고,상기 특허 평가 지수는기술 영향력(Technology influence) 지수, 기술 시장성(Technology marketability) 지수, 신규성(Novelty) 지수 및 발명자 등급(Applicant grade) 중 적어도 하나를 포함하며,상기 분석 결과 제공부는상기 자기조직화 지도의 출력 노드 중 상기 기술 영향력 지수가 기설정된 영향력 상한 임계값 이상이고, 상기 발명자 등급이 기설정된 발명자 임계 등급 이상인 노드들에 포함된 핵심 특허들을 상기 유의미한 데이터로 추출하고,상기 자기조직화 지도의 출력 노드 중 상기 신규성 지수가 기설정된 신규성 상한 임계값 이상인 노드에 포함된 원천 기술 특허들을 상기 유의미한 데이터로 추출하며, 상기 자기조직화 지도의 출력 노드 중 상기 기술 시장성 지수가 기설정된 시장성 임계값 이상이고, 상기 신규성 지수가 기설정된 신규성 하한 임계값 이하이며, 상기 기술 영향력 지수가 기설정된 영향력 하한 임계값 이하인 노드에 포함된 유망 기술 특허들을 상기 유의미한 데이터로 추출하는 특허 분석 시스템
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제1항에 있어서, 상기 특허 데이터 수집부는상기 사용자가 입력한 검색식을 이용하여 특허 데이터베이스로부터 상기 목표 기술 분야의 상기 특허 데이터를 수집하는특허 분석 시스템
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제1항에 있어서, 상기 발명자 등급은상기 발명자가 보유한 특허들의 출원 지수, 상기 발명자가 보유한 특허들의 피인용 특허 지수 및 상기 발명자가 보유한 특허들의 패밀리 특허 지수 중 적어도 하나로부터 산출되는 특허 분석 시스템
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제1항에 있어서, 상기 시각화부는상기 자기조직화 지도를 카운트 플롯(Counts plot) 및 코드 플롯(Codes plot) 중 적어도 하나의 형태로 시각화하는 특허 분석 시스템
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제1항에 있어서, 상기 SOM 생성부는상기 자기조직화 지도의 출력 노드 간에 계층적 클러스터링(Hierarchical clustering)을 수행하는특허 분석 시스템
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제6항에 있어서, 상기 시각화부는상기 계층적 클러스터링 결과를 매핑 플롯(Mapping plot)의 형태로 시각화하는특허 분석 시스템
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제1항에 있어서, 상기 시각화부는상기 자기조직화 지도의 출력 노드와 상기 특허 평가 지수 사이의 관계를 매핑(Mapping)하는 히트맵(Heat map)을 생성하고, 상기 히트맵을 통해 상기 자기조직화 지도의 출력 노드의 특징을 직관적으로 시각화하는 특허 분석 시스템
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특허 데이터 수집부에서 목표 기술 분야의 특허 데이터를 수집하는 단계; 평가 지수 산출부에서 상기 특허 데이터로부터 특허 평가 지수(Patent index)를 산출하는 단계; SOM 생성부에서 상기 특허 평가 지수를 입력 벡터로 이용하여 자기조직화 지도(Self-Organizing Map; SOM)를 생성하는 단계; 시각화부에서 상기 자기조직화 지도를 시각화하는 단계 및분석 결과 제공부에서 상기 자기조직화 지도에 기반한 분석을 통해 유의미한 데이터를 추출하고, 상기 추출된 유의미한 데이터를 사용자에게 제공하는 단계를 포함하고,상기 특허 평가 지수는기술 영향력(Technology influence) 지수, 기술 시장성(Technology marketability) 지수, 신규성(Novelty) 지수 및 발명자 등급(Applicant grade) 중 적어도 하나를 포함하며,상기 분석 결과 제공부는상기 자기조직화 지도의 출력 노드 중 상기 기술 영향력 지수가 기설정된 영향력 상한 임계값 이상이고, 상기 발명자 등급이 기설정된 발명자 임계 등급 이상인 노드들에 포함된 핵심 특허들을 상기 유의미한 데이터로 추출하고,상기 자기조직화 지도의 출력 노드 중 상기 신규성 지수가 기설정된 신규성 상한 임계값 이상인 노드에 포함된 원천 기술 특허들을 상기 유의미한 데이터로 추출하며, 상기 자기조직화 지도의 출력 노드 중 상기 기술 시장성 지수가 기설정된 시장성 임계값 이상이고, 상기 신규성 지수가 기설정된 신규성 하한 임계값 이하이며, 상기 기술 영향력 지수가 기설정된 영향력 하한 임계값 이하인 노드에 포함된 유망 기술 특허들을 상기 유의미한 데이터로 추출하는 특허 분석 방법
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제9항에 있어서, 상기 발명자 등급은상기 발명자가 보유한 특허들의 출원 지수, 상기 발명자가 보유한 특허들의 피인용 특허 지수 및 상기 발명자가 보유한 특허들의 패밀리 특허 지수 중 적어도 하나로부터 산출되는특허 분석 방법
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제9항에 있어서, 상기 자기조직화 지도를 생성하는 단계는상기 SOM 생성부에서 상기 자기조직화 지도의 출력 노드 간에 계층적 클러스터링(Hierarchical clustering)을 수행하는 단계를 더 포함하는특허 분석 방법
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제9항에 있어서, 상기 자기조직화 지도를 시각화하는 단계는상기 시각화부에서 상기 자기조직화 지도의 출력 노드와 상기 특허 평가 지수 사이의 관계를 매핑(Mapping)하는 히트맵(Heat map)을 생성하고, 상기 히트맵을 통해 상기 자기조직화 지도의 출력 노드의 특징을 직관적으로 시각화하는 단계를 더 포함하는특허 분석 방법
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