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무전해 도금 처리된 PCB 배선의 부식 방지 첨가제

  • 기술번호 : KST2022017622
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 무전해 도금 처리된 PCB 배선에서 발생하는 부식 해결을 위한 부식 방지 첨가제에 관한 내용이다. 본 발명은 부식방지제를 이용하여 Ni/Au 무전해도금(Electroless nickel immersion gold, 이하 ENIG) 처리된 PCB 배선에서 발생하는 부식을 방지하는 방법이다. 부식방지제를 배선 주변의 고분자 물질 또는 접착제에 혼합하여 사용하여, 복잡한 추가 공정 없이 저렴한 가격으로 PCB 배선의 금속 부식 저항성을 높이는 방법이다.
Int. CL H05K 3/28 (2006.01.01) C23F 11/14 (2006.01.01)
CPC H05K 3/282(2013.01) C23F 11/141(2013.01)
출원번호/일자 1020210030467 (2021.03.09)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0126344 (2022.09.16) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.03.09)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김정구 경기도 성남시 분당구
2 최석열 경기도 수원시 장안구
3 이윤호 경기도 수원시 장안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 차상윤 대한민국 서울특별시 영등포구 경인로 ***, *동 ***호(엔씨 국제특허법률사무소)
2 박종수 대한민국 서울특별시 영등포구 경인로 ***, *동 ***호(엔씨 국제특허법률사무소)
3 남건필 대한민국 서울특별시 영등포구 경인로 ***, *동 ***호(엔씨 국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.03.09 수리 (Accepted) 1-1-2021-0273545-14
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2021.10.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2021.11.25 수리 (Accepted) 1-1-2021-1364112-94
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2021.12.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2022-0079087-57
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2022.05.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0356037-82
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2022.07.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2022-0705023-94
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2022.07.06 수리 (Accepted) 1-1-2022-0705022-48
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번호 청구항
1 1
무전해 도금(ENIG; Electroless nickel immersion gold) 처리된 PCB 배선의 패키징에 이용되는 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC; Epoxy Molding Compound)에 혼합하여 사용되며,하기 첨가제 중 어느 하나 또는 둘 이상의 조합을 포함하는,Dodecyltrimethylammonium chloride[CH3(CH2)11N(CH3)3Cl], Dodecyltrimethylammonium bromide[CH3(CH2)11N(CH3)3Br], Sodium dodecyl sulfate[NaC12H25SO4], 2-butyne-1,4-diol[C4H6O2], Saccharin[C7H5NO3S], Sodium benzenesulfonate[C6H5SO3Na], Cetyltrimethylammonium chloride[C19H42ClN], Polyethyleneimine[C2H5N)n], 4-picoline[C6H7N], Polyethylene glycol[C2nH4n+2On+1], Alanine[HO2CCH(NH2)CH3], Naphthylamine[C10H9N], Benzylidenemethylamine[C8H9N], Serine[C3H7NO3], Threonine[C4H9NO3], Glutamine[C5H10N2O3], Phenylenediamine[C12H12N2], Benzotriazole[C6H5N3], Hexamethylenetetramine[C6H12N4]무전해 도금 처리된 PCB 배선의 부식 방지 첨가제
2 2
무전해 도금(ENIG; Electroless nickel immersion gold) 처리된 PCB 배선의 패키징에 이용되는 언더필(Underfill)에 혼합하여 사용되며,하기 첨가제 중 어느 하나 또는 둘 이상의 조합을 포함하는,Dodecyltrimethylammonium chloride[CH3(CH2)11N(CH3)3Cl], Dodecyltrimethylammonium bromide[CH3(CH2)11N(CH3)3Br], Sodium dodecyl sulfate[NaC12H25SO4], 2-butyne-1,4-diol[C4H6O2], Saccharin[C7H5NO3S], Sodium benzenesulfonate[C6H5SO3Na], Cetyltrimethylammonium chloride[C19H42ClN], Polyethyleneimine[C2H5N)n], 4-picoline[C6H7N], Polyethylene glycol[C2nH4n+2On+1], Alanine[HO2CCH(NH2)CH3], Naphthylamine[C10H9N], Benzylidenemethylamine[C8H9N], Serine[C3H7NO3], Threonine[C4H9NO3], Glutamine[C5H10N2O3], Phenylenediamine[C12H12N2], Benzotriazole[C6H5N3], Hexamethylenetetramine[C6H12N4]무전해 도금 처리된 PCB 배선의 부식 방지 첨가제
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무전해 도금(ENIG; Electroless nickel immersion gold) 처리된 PCB 배선의 회로 접착시 사용되는 ACF(Anisotropic Counductive Film)에 혼합하여 사용되며,하기 첨가제 중 어느 하나 또는 둘 이상의 조합을 포함하는,Dodecyltrimethylammonium chloride[CH3(CH2)11N(CH3)3Cl], Dodecyltrimethylammonium bromide[CH3(CH2)11N(CH3)3Br], Sodium dodecyl sulfate[NaC12H25SO4], 2-butyne-1,4-diol[C4H6O2], Saccharin[C7H5NO3S], Sodium benzenesulfonate[C6H5SO3Na], Cetyltrimethylammonium chloride[C19H42ClN], Polyethyleneimine[C2H5N)n], 4-picoline[C6H7N], Polyethylene glycol[C2nH4n+2On+1], Alanine[HO2CCH(NH2)CH3], Naphthylamine[C10H9N], Benzylidenemethylamine[C8H9N], Serine[C3H7NO3], Threonine[C4H9NO3], Glutamine[C5H10N2O3], Phenylenediamine[C12H12N2], Benzotriazole[C6H5N3], Hexamethylenetetramine[C6H12N4]무전해 도금 처리된 PCB 배선의 부식 방지 첨가제
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제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 Hexamethylenetetramine의 농도는 10 내지 1000 ppm인,무전해 도금 처리된 PCB 배선의 부식 방지 첨가제
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제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 Hexamethylenetetramine의 농도는 100 ppm인,무전해 도금 처리된 PCB 배선의 부식 방지 첨가제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 성균관대학교 개인기초연구(과기정통부)(R&D) 수소, 전기, 열을 복합 생산하는 친환경 알루미늄-공기 전지 시스템 개발