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| 요약 |
본 발명에 따른 산란 계수를 이용한 회로 결함 분석 방법 및 장치가 제공된다. 구체적으로 대상 RF(Radio Frequency) 회로; 사용 주파수의 발진 신호를 상기 대상 RF 회로의 일단에 출력하는 공진기; 상기 대상 RF 회로의 전단 및 상기 대상 RF 회로의 후단에 결합되어 산란 계수와 관련된 반사 계수를 측정하는 측정기; 및 상기 반사 계수가 미리 설정된 임계값 이상인 경우, 결함으로 판정하는 컨트롤러를 포함하는 RF 회로 결함 검출 장치에 의해 수행될 수 있으며, 전자회로 내의 컴포넌트 또는 인터커넥트에 발생한 결함을 조기에 검출 하고, 결함의 원인에 대하여 판단하고, 반사파 측정법을 이용하여 기존의 DC 저항으로 구분되지 않는 결함도 검출할 수 있다.
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| Int. CL |
G01R 31/28 (2006.01.01) G01R 23/00 (2006.01.01) G01R 23/16 (2006.01.01)
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| CPC |
G01R 31/2849(2013.01) G01R 31/2849(2013.01) G01R 31/2849(2013.01) G01R 31/2849(2013.01) G01R 31/2849(2013.01)
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| 출원번호/일자 |
1020210155101
(2021.11.11)
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| 출원인 |
국방과학연구소
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| 등록번호/일자 |
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| 공개번호/일자 |
10-2023-0068872
(2023.05.18)
문서열기
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| 공고번호/일자 |
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| 국제출원번호/일자 |
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| 국제공개번호/일자 |
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| 우선권정보 |
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| 법적상태 |
공개 |
| 심사진행상태 |
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| 심판사항 |
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| 구분 |
국내출원/신규 |
| 원출원번호/일자 |
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| 관련 출원번호 |
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| 심사청구여부/일자 |
Y
(2021.11.11)
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| 심사청구항수 |
13 |
