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패널에서 아크를 검출하는 장치 및 방법, 그리고 그 패널

  • 기술번호 : KST2019029490
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 패널에 위치하는 아크검출장치로서, 제1선로에 흐르는 제1전류를 센싱하는 전류센서; 상기 제1전류에 대한 센싱값을 디지털 변환하여 디지털전류데이터를 생성하고 상기 디지털전류데이터에 대한 에지디텍션(edge detection) 처리를 통해 전류에지데이터를 생성하는 에지데이터생성부; 상기 패널 내에 형성되는 광을 검출하는 광학센서; 상기 광학센서에서 검출된 광의 세기와 광세기기준값을 비교하고 상기 전류에지데이터를 에지기준값과 비교하여 제1변동시점을 결정하고 상기 제1변동시점 이후의 상기 제1전류에 대한 센싱값을 디지털 프로세싱하여 주파수데이터를 생성하는 주파수데이터생성부; 및 상기 주파수데이터의 특성에 따라 아크 발생 가능성을 판단하는 아크판단부를 포함하는 아크검출장치를 제공한다.
Int. CL G01R 31/12 (2006.01.01) G01R 19/00 (2006.01.01) G01R 19/252 (2006.01.01) G01R 23/16 (2006.01.01) G01R 19/165 (2006.01.01)
CPC G01R 31/1209(2013.01) G01R 31/1209(2013.01) G01R 31/1209(2013.01) G01R 31/1209(2013.01) G01R 31/1209(2013.01) G01R 31/1209(2013.01)
출원번호/일자 1020150158560 (2015.11.12)
출원인 한국에너지기술연구원
등록번호/일자 10-1734342-0000 (2017.05.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170512) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.11.12)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국에너지기술연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 채수용 대한민국 대전광역시 유성구
2 오세승 대한민국 대전광역시 서구
3 성윤동 대한민국 대전광역시 유성구
4 김규덕 대한민국 대전광역시 서구
5 백종복 대한민국 대전광역시 유성구
6 한수빈 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김은구 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 **, *층(역삼동, 옥산빌딩)(특허법인(유한)유일하이스트)
2 송해모 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 **, *층(역삼동, 옥산빌딩)(특허법인(유한)유일하이스트)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국에너지기술연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2015.11.12 수리 (Accepted) 1-1-2015-1101432-46
2 보정요구서
Request for Amendment		 2015.11.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2015-0174099-93
3 [우선권주장 취하]취하(포기)서
[Withdrawal of Priority Claim] Request for Withdrawal (Abandonment)		 2015.11.24 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2015-1146467-21
4 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document		 2016.02.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0018599-29
5 우선권주장 무효처분통지서
Notice for Disposition of Invalidation of Priority Claim		 2016.02.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0019742-31
6 서류반려통지서
Notice for Return of Document		 2016.03.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0034980-98
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2016.07.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2016.09.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0117713-15
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2016.09.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0658581-06
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2016.10.31 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-1057926-56
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.01.19 수리 (Accepted) 4-1-2017-5010650-13
12 등록결정서
Decision to grant		 2017.03.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0202804-11
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.01.08 수리 (Accepted) 4-1-2019-5004978-55
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.21 수리 (Accepted) 4-1-2019-5166801-48
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.21 수리 (Accepted) 4-1-2019-5166803-39
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.09.01 수리 (Accepted) 4-1-2020-5197654-62
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
패널에 위치하는 아크검출장치로서,제1선로에 흐르는 제1전류를 센싱하는 전류센서;상기 제1전류에 대한 센싱값을 디지털 변환하여 디지털전류데이터를 생성하고 상기 디지털전류데이터에 대한 에지디텍션(edge detection) 처리를 통해 전류에지데이터를 생성하는 에지데이터생성부;상기 패널 내에 형성되는 광을 검출하는 광학센서;상기 광학센서에서 검출된 광의 세기와 광세기기준값을 비교하고 상기 전류에지데이터를 에지기준값과 비교하여 제1변동시점을 결정하고 상기 제1변동시점 이후의 상기 제1전류에 대한 센싱값을 디지털 프로세싱하여 주파수데이터를 생성하는 주파수데이터생성부; 및상기 주파수데이터의 특성에 따라 아크 발생 가능성을 판단하는 아크판단부를 포함하는 아크검출장치
2 2
제1항에 있어서,상기 패널에는 문개폐센서가 포함되어 있고,상기 주파수데이터생성부는,상기 문개폐센서의 신호에 따라 상기 광세기기준값을 변경하는 아크검출장치
3 3
제1항에 있어서,상기 패널에는 문개폐센서가 포함되어 있고,상기 주파수데이터생성부는,상기 문개폐센서의 신호에 따라 상기 패널이 개방된 것으로 판단되는 경우, 검출된 광의 세기와 광세기기준값의 비교 결과를 상기 제1변동시점의 결정에 사용하지 않는 것을 특징으로 하는 아크검출장치
4 4
제1항에 있어서,상기 광학센서는 특정 파장 대역의 광을 선별적으로 통과시키는 광학필터를 더 포함하는 아크검출장치
5 5
제4항에 있어서,상기 특정 파장 대역은 적외선 대역에 위치하는 것을 특징으로 하는 아크검출장치
6 6
제1항에 있어서,상기 광세기기준값은 아크가 발생하지 않은 상황에서 일정 시간 동안 검출된 광의 세기의 평균값에 마진을 더한 값으로 결정되는 것을 특징으로 하는 아크검출장치
7 7
제1항에 있어서,상기 에지데이터생성부는,상기 제1전류에 대한 센싱값을 디지털 변환하는 과정에서 가우시안 컨볼루션(Gaussian Convolution)을 적용하는 것을 특징으로 하는 아크검출장치
8 8
제1항에 있어서,상기 에지디텍션 처리는 라플라시안(Laplacian) 필터 처리 혹은 차동 컨볼루션(difference convolution) 처리인 것을 특징으로 하는 아크검출장치
9 9
제1항에 있어서,상기 주파수데이터생성부는,상기 전류에지데이터의 음(-)의 값만을 이용하여 상기 제1변동시점을 결정하는 것을 특징으로 하는 아크검출장치
10 10
제1항에 있어서,특정 시구간에서 획득된 전류에지데이터들에 대한 평균 및 표준편차에 따라 상기 에지기준값이 생성되는 것을 특징으로 하는 아크검출장치
11 11
제10항에 있어서,상기 주파수데이터생성부는,절대값이 상기 에지기준값 이하이거나 상기 에지기준값 미만인 상기 전류에지데이터를 이용하여 상기 특정 시구간에서 획득된 전류에지데이터들에 대한 평균 및 표준편차를 업데이트하는 것을 특징으로 하는 아크검출장치
12 12
패널 내의 아크를 검출하는 방법에 있어서,제1선로에 흐르는 제1전류의 센싱값을 디지털 변환하여 디지털전류데이터를 생성하는 단계;상기 디지털전류데이터에 대한 에지디텍션(edge detection) 처리를 통해 전류에지데이터를 생성하는 단계;상기 패널 내에 형성되는 광을 검출하는 단계;제1버퍼에 상기 디지털전류데이터를 저장하는 단계;검출된 광의 세기가 광세기기준값 이상이거나 상기 광세기기준값을 초과하고 상기 전류에지데이터가 에지기준값 이상이거나 상기 에지기준값을 초과하면 상기 디지털전류데이터를 제2버퍼에 저장하는 단계;상기 제1버퍼에 저장된 디지털전류데이터에 대한 푸리에변환 처리를 통해 제1주파수데이터를 생성하고 상기 제2버퍼에 저장된 디지털전류데이터에 대한 푸리에변환 처리를 통해 제2주파수데이터를 생성하는 단계; 및상기 제1주파수데이터와 상기 제2주파수데이터의 비교데이터에 따라 아크 발생 가능성을 판단하는 단계를 포함하는 아크검출방법
13 13
제12항에 있어서,상기 패널의 문개폐센서의 신호에 따라 상기 광세기기준값을 변경하는 단계를 더 포함하는 아크검출방법
14 14
외부 광이 차단되는 박스;상기 박스 내에 위치하고 복수의 전기장치로 연결되는 복수의 선로;제1선로에 흐르는 제1전류를 센싱하는 전류센서;상기 박스 내에 형성되는 광을 검출하는 광학센서; 및디지털신호처리가 가능한 디지털프로세서를 포함하고,상기 디지털프로세서는,상기 제1전류에 대한 센싱값을 디지털 변환하여 디지털전류데이터를 생성하고 상기 디지털전류데이터에 대한 에지디텍션(edge detection) 처리를 통해 전류에지데이터를 생성하는 에지데이터생성부,상기 광학센서에서 검출된 광의 세기와 광세기기준값을 비교하고 상기 전류에지데이터를 에지기준값과 비교하여 제1변동시점을 결정하고 상기 제1변동시점 이후의 상기 제1전류에 대한 센싱값을 디지털 프로세싱하여 주파수데이터를 생성하는 주파수데이터생성부 및상기 주파수데이터의 특성에 따라 아크 발생 가능성을 판단하는 아크판단부를 포함하는 패널
15 15
제14항에 있어서,상기 박스에 위치하는 문의 개폐를 센싱하는 문개폐센서를 더 포함하고,상기 주파수데이터생성부는,상기 문개폐센서의 신호에 따라 상기 광세기기준값을 변경하는 것을 특징으로 하는 패널
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4 US20160351042 US 미국 FAMILY

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