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S 파라미터 패턴의 기계학습을 이용한 회로 결함분석 방법

  • 기술번호 : KST2020009919
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요약 본 발명에 따른 S 파라미터 패턴의 기계학습을 이용한 회로 결함분석 방법이 제공된다. 상기 방법은 회로 결함분석 시스템의 제어부에 의해 수행되고, 결함 회로의 S 파라미터 패턴을 수집하는 결함 회로 S 파라미터 패턴 수집 단계; 상기 수집된 S 파라미터의 패턴을 기반으로 기계 학습을 통해 학습 모델을 생성하는 기계학습 및 학습모델 생성 단계; 및 상기 생성된 학습 모델을 이용하여, 특정 회로의 결함의 종류(type) 및 심각도(severeness)를 분석하는 결함 종류/심각도 분석 단계를 포함하여, S 파라미터 측정법을 이용하여 DC 저항으로 구분되지 않는 회로의 결함을 검출할 수 있다.
Int. CL G01R 27/28 (2006.01.01) G06N 3/08 (2006.01.01) G06N 20/00 (2019.01.01) G01R 31/28 (2006.01.01)
CPC G01R 27/28(2013.01)G01R 27/28(2013.01)G01R 27/28(2013.01)G01R 27/28(2013.01)
출원번호/일자 1020190051655 (2019.05.02)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-2136863-0000 (2020.07.16)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20200722) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.05.02)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강태엽 대전광역시 유성구
2 서동환 대전광역시 유성구
3 박용찬 대전광역시 유성구
4 민준기 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 제일특허법인(유) 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)
2 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2019-0453289-38
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.09.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.12.09 수리 (Accepted) 9-1-2019-0055952-20
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.04.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0286294-54
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.05.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0484533-14
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.05.13 수리 (Accepted) 1-1-2020-0484530-88
7 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2020.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2020-0551196-81
8 등록결정서
Decision to grant
2020.07.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0472058-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
S 파라미터 패턴의 기계학습을 이용한 회로 결함분석 방법에 있어서, 상기 방법은 회로 결함분석 시스템의 제어부에 의해 수행되고,결함 회로의 주파수 별 S 파라미터 패턴을 수집하는 결함 회로 S 파라미터 패턴 수집 단계;상기 수집된 주파수 별 S 파라미터의 패턴을 기반으로 기계 학습을 통해 학습 모델을 생성하는 기계학습 및 학습모델 생성 단계; 및상기 생성된 학습 모델을 이용하여, 특정 회로의 결함의 종류(type) 및 심각도(severeness)를 분석하는 결함 종류/심각도 분석 단계를 포함하고,상기 기계학습 및 학습모델 생성 단계는,상기 결함의 종류와 심각도를 판단하기 위한 랭킹 네트워크(Ranking Network)를 구축하는 랭킹 네트워크 구축 단계를 더 포함하고,상기 랭킹 네트워크는, 상기 결함의 종류를 판단하는 뉴럴 네트워크 모듈을 포함하고,상기 뉴럴 네트워크 모듈은,상기 특정 회로에 대한 결함의 원인을 분류하기 위한 기계적(mechanical) 자극 랭킹 네트워크 모듈, 화학적(chemical) 자극 랭킹 네트워크 모듈 및 광 열화(photo degradation) 자극 랭킹 네트워크 모듈을 포함하고,상기 결함 종류/심각도 분석 단계에서 각 결함 시편에 대하여 상기 주파수 별 S 파라미터 패턴을 입력 받아 각 자극 별로 심각도를 채점하는, 회로 결함분석 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 기계학습 및 학습모델 생성 단계는,기계 학습을 위한 Ground Truth Table을 생성하는 Ground Truth Table 생성 단계를 더 포함하고,상기 Ground Truth Table 생성 단계에서,시편 제작된 정상 회로의 S 파라미터 특성에 대한 Ground Truth Table을 생성하는 것을 특징으로 하는, 회로 결함분석 방법
3 3
제2항에 있어서,상기 Ground Truth Table 생성 단계에서,결함의 종류와 심각도가 구분 가능한 상기 결함이 적용된 회로에 대하여, 상기 결함에 따른 S파라미터 특성에 대한 Ground Truth Data를 생성하는 것을 특징으로 하는, 회로 결함분석 방법
4 4
제1항에 있어서,상기 결함 종류/심각도 분석 단계에서,심각도 채점부가 상기 각 결함 시편에 대하여 기계적 자극, 화학적 자극 및 광 열화 자극 별로 심각도를 이산 값으로 결함원인/심각도 분류기에 전달하고, 상기 결함원인/심각도 분류기는 상기 심각도 채점부의 결과로부터 결함의 여부, 결함의 원인 및 심각도를 분류하는, 회로 결함분석 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 결함 종류/심각도 분석 단계에서, 상기 구축된 랭킹 네트워크에 상기 특정 회로의 S 파라미터 패턴을 입력하여 상기 특정 회로의 결함종류 및 심각도를 한번에 판단하는 것을 특징으로 하는, 회로 결함분석 방법
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서,상기 결함 종류/심각도 분석 단계 이후,상기 특정 회로에 대한 실제 결함 종류/심각도를 입력받아 평가하는 실제 결함 종류/심각도 평가 단계를 더 포함하고,상기 입력된 결과가 상기 분석된 결과와 상이한 경우, 상기 입력된 결과와 상기 분석된 결과에 기반하여 상기 랭킹 네트워크를 수정하는 것을 특징으로 하는, 회로 결함분석 방법
8 8
S 파라미터 패턴의 기계학습을 이용한 회로 결함분석 시스템에 있어서, 결함 회로의 주파수 별 S 파라미터 패턴을 수집하도록 구성된 인터페이스부; 및상기 수집된 주파수 별 S 파라미터의 패턴을 기반으로 기계 학습을 통해 학습 모델을 생성하고,상기 생성된 학습 모델을 이용하여, 특정 회로의 결함의 종류(type) 및 심각도(severeness)를 분석하도록 구성된 제어부를 포함하고,상기 제어부는,상기 결함의 종류와 심각도를 판단하기 위한 랭킹 네트워크(Ranking Network)를 구축하고, 상기 랭킹 네트워크는 상기 결함의 종류를 판단하는 뉴럴 네트워크 모듈을 포함하고, 상기 뉴럴 네트워크 모듈은, 상기 특정 회로에 대한 결함의 원인을 분류하기 위한 기계적(mechanical) 자극 랭킹 네트워크 모듈, 화학적(chemical) 자극 랭킹 네트워크 모듈 및 광 열화(photo degradation) 자극 랭킹 네트워크 모듈을 포함하고,각 결함 시편에 대하여 상기 주파수 별 S 파라미터 패턴을 입력 받아 각 자극 별로 심각도를 채점하는, 회로 결함분석 시스템
9 9
제8항에 있어서,상기 인터페이스부는 시편 제작된 정상 회로의 S 파라미터 특성을 수집하고,상기 제어부는,상기 정상 회로의 S 파라미터 특성에 대한 Ground Truth Table을 생성하는 것을 특징으로 하는, 회로 결함분석 시스템
10 10
제9항에 있어서,상기 제어부는,결함의 종류와 심각도가 구분 가능한 상기 결함이 적용된 회로에 대하여, 상기 결함에 따른 S파라미터 특성에 대한 Ground Truth Data를 생성하는, 회로 결함분석 시스템
11 11
제10항에 있어서,상기 제어부는, 상기 구축된 랭킹 네트워크에 상기 특정 회로의 S 파라미터 패턴을 입력하여 상기 특정 회로의 결함종류 및 심각도를 한번에 판단하는 것을 특징으로 하는, 회로 결함분석 시스템
12 12
제8항에 있어서,상기 제어부는,심각도 채점부가 상기 각 결함 시편에 대하여 기계적 자극, 화학적 자극 및 광 열화 자극 별로 심각도를 이산 값으로 결함원인/심각도 분류기에 전달하고, 상기 결함원인/심각도 분류기는 상기 심각도 채점부의 결과로부터 결함의 여부, 결함의 원인 및 심각도를 분류하도록 제어하는, 회로 결함분석 시스템
13 13
제12항에 있어서,상기 제어부는,상기 결함의 종류 및 심각도 분석을 수행한 이후,상기 특정 회로에 대한 실제 결함 종류/심각도를 입력받아 평가하고,상기 입력된 결과가 상기 분석된 결과와 상이한 경우, 상기 입력된 결과와 상기 분석된 결과에 기반하여 상기 랭킹 네트워크를 수정하는 것을 특징으로 하는, 회로 결함분석 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.