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판정 대상 회로;사용 주파수의 발진 신호를 상기 판정 대상 회로의 일단에 출력하는 공진기;상기 판정 대상 회로의 전단 및 상기 판정 대상 회로의 후단에 결합되어 산란 계수와 관련된 반사 계수를 측정하는 측정기; 및상기 반사 계수가 미리 설정된 임계값 이상인 경우, 결함으로 판정하는 컨트롤러를 포함하는 회로 결함 검출 장치
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제1 항에 있어서,상기 컨트롤러는 제1 회로의 전단 및 상기 제1 회로의 후단에의 산란 계수와 관련된 제1 반사 계수를 상기 사용 주파수의 발진 신호에서 측정하고, 제2 회로의 전단 및 상기 제2 회로의 후단에의 산란 계수와 관련된 제2 반사 계수를 상기 사용 주파수의 발진 신호에서 측정하고, 상기 제1 반사 계수 및 상기 제2 반사 계수에 기초하여 상기 임계값을 설정하는 것을 특징으로 하는 회로 결함 검출 장치
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제2 항에 있어서,상기 제1 반사 계수는, 상기 사용 주파수의 발진 신호에서 상기 제1 회로의 전단으로 입력된 전압대 상기 제1 회로의 전단으로 출력된 전압의 비로 결정되고,상기 제2 반사 계수는, 상기 사용 주파수의 발진 신호에서 상기 제2 회로의 전단으로 입력된 전압대 상기 제2 회로의 전단으로 출력된 전압의 비로 결정되는 것을 특징으로 하는 회로 결함 검출 장치
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제3 항에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 제1 반사 계수 이상 상기 제2 반사 계수 이하의 값을 상기 임계값으로 설정하고,상기 제1 회로는 정상 동작 회로이고, 상기 제2 회로는 결함 동작 회로인 것을 특징으로 하는 회로 결함 검출 장치
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제1 항에 있어서 상기 컨트롤러는,상기 산란 계수와 관련된 상기 반사 계수와 상기 임계값에 기초하여 상기 판정 대상 회로의 잔존 수명을 추정하는 것을 특징으로 하는 회로 결함 검출 장치
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판정 대상 회로 결함 검출 방법에 있어서,사용 주파수의 발진 신호를 상기 판정 대상 회로의 일단에 출력하는 단계;상기 판정 대상 회로의 전단 및 상기 판정 대상 회로의 후단에서의 산란 계수와 관련된 반사 계수를 측정하는 단계; 및상기 반사 계수가 미리 설정된 임계값 이상인 경우, 결함으로 판정하는 단계를 포함하는 회로 결함 검출 방법
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제6 항에 있어서,제1 회로의 전단 및 상기 제1 회로의 후단에의 산란 계수와 관련된 제1 반사 계수를 상기 사용 주파수의 발진 신호에서 측정하는 단계;제2 회로의 전단 및 상기 제2 회로의 후단에의 산란 계수와 관련된 제2 반사 계수를 상기 사용 주파수의 발진 신호에서 측정하는 단계; 상기 제1 반사 계수 및 상기 제2 반사 계수에 기초하여 상기 임계값을 설정하는 단계를 더 포함하는 회로 결함 검출 방법
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제7 항에 있어서,상기 제1 반사 계수는, 상기 사용 주파수의 발진 신호에서 상기 제1 회로의 전단으로 입력된 전압대 상기 제1 회로의 전단으로 출력된 전압의 비로 결정되고,상기 제2 반사 계수는, 상기 사용 주파수의 발진 신호에서 상기 제2 회로의 전단으로 입력된 전압대 상기 제2 회로의 전단으로 출력된 전압의 비로 결정되는 회로 결함 검출 방법
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제8 항에 있어서, 상기 임계값을 설정하는 단계는 상기 제1 반사 계수 이상 상기 제2 반사 계수 이하의 값을 상기 임계값으로 설정하고,상기 제1 회로는 정상 동작 회로이고, 상기 제2 회로는 결함 동작 회로인 회로 결함 검출 방법
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제6 항에 있어서,상기 산란 계수와 관련된 상기 반사 계수와 상기 임계값에 기초하여 상기 판정 대상 회로의 잔존 수명을 추정하는 단계를 더 포함하는 회로 결함 검출 방법
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