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복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사부호의 복호화 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015083323
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 입력비트를 패리티 검사행렬을 이용하여 복호화함에 있어서, 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 결정된 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용하여 패리티 검사행렬을 순차적으로 부분 병렬 처리함으로써, 복잡도를 줄이면서 복호처리를 고속으로 수행할 수 있으며 더 나아가 다양한 부호어의 길이 및 부호율을 지원할 수 있게 하는, 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치 및 그 방법을 제공하고자 한다. 이를 위하여, 본 발명은 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치에 있어서, 패리티 검사행렬을 처리할 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 복수의 기본 패리티 검사행렬을 결정하기 위한 패리티 검사행렬 선택 수단; 입력비트에 대한 대수 근사화 확률값을 상기 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 입력받기 위한 비트 입력 수단; 상기 패리티 검사행렬을, 상기 입력받은 대수 근사화 확률값과 상기 결정된 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용하여 순차적으로 부분 병렬 처리하기 위한 검사행렬 처리 수단; 및 상기 부분 병렬 처리된 패리티 검사행렬 값으로부터 비트 레벨을 판단하여 상기 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 상기 입력비트를 복원하기 위한 비트 처리 수단을 포함한다. 저밀도 패리티 검사 부호, 패리티 검사행렬, 기본 패리티 검사행렬, 부분 병렬 처리, 부호어
Int. CL H03M 13/11 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070131487 (2007.12.14)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-1077552-0000 (2011.10.21)
공개번호/일자 10-2009-0063948 (2009.06.18) 문서열기
공고번호/일자 (20111028) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.12.14)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오종의 대한민국 대전 유성구
2 윤찬호 대한민국 대전 유성구
3 유철희 대한민국 대전 중구
4 최은영 대한민국 대전 유성구
5 이석규 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.12.14 수리 (Accepted) 1-1-2007-0902521-22
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.01.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.02.19 수리 (Accepted) 9-1-2009-0011881-11
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.05.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0216789-19
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2009.07.22 수리 (Accepted) 1-1-2009-0446361-18
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2009.08.24 수리 (Accepted) 1-1-2009-0516947-38
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2009-0581658-51
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.09.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0581657-16
10 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2010.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0033109-14
11 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.03.25 수리 (Accepted) 1-1-2010-0190830-62
12 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.04.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0263412-81
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.05.20 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2010-0325044-14
14 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2010-0325045-60
15 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2010.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0431234-48
16 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.11.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0775995-96
17 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2010-0867278-58
18 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0072299-16
19 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0147441-41
20 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.02.28 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2011-0147439-59
21 등록결정서
Decision to grant
2011.09.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0546471-50
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치에 있어서, 패리티 검사행렬을 처리할 부행렬 크기 및 미리 결정된 병렬화 수치에 근거하여, 상기 부행렬 별로 하나의 행과 관련된 기본 패리티 검사행렬들로 구성되는 복수의 상기 기본 패리티 검사행렬들을 결정하기 위한 패리티 검사행렬 선택 수단; 입력비트에 대한 대수 근사화 확률값을 상기 부행렬 크기 및 상기 병렬화 수치에 따라 입력받기 위한 비트 입력 수단; 상기 패리티 검사행렬을, 상기 입력받은 대수 근사화 확률값과 상기 결정된 복수의 기본 패리티 검사행렬들을 이용하여 순차적으로 부분 병렬 처리하기 위한 검사행렬 처리 수단; 및 상기 부분 병렬 처리된 패리티 검사행렬 값으로부터 비트 레벨을 판단하여 상기 부행렬 크기 및 상기 병렬화 수치에 따라 상기 입력비트를 복원하기 위한 비트 처리 수단 을 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 검사행렬 처리 수단은, 상기 입력받은 대수 근사화 확률값과 상기 결정된 복수의 기본 패리티 검사행렬들의 변수노드들을 상기 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 순환 시프트시키는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 검사행렬 처리 수단은, 상기 입력받은 대수 근사화 확률값과 상기 결정된 복수의 기본 패리티 검사행렬들의 변수노드들을 상기 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 부행렬 별로 순환 시프트시켜 변수노드 메시지를 계산하기 위한 변수노드 처리 수단; 및 상기 계산된 변수노드 메시지를 부행렬 별로 검사노드 연산 과정을 거쳐 검사노드 메시지를 계산하여 상기 변수노드 처리 수단으로 전달하기 위한 검사노드 처리 수단 을 포함하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 비트 입력 수단은, 서로 다른 입력비트에 대한 대수 근사화 확률값을 각각 입력받는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 변수노드 처리 수단은, 상기 각각 입력받은 대수 근사화 확률값과 서로 다른 기본 패리티 검사행렬들의 변수노드들을 상기 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 부행렬 별로 순환 시프트시켜 변수노드 메시지를 각각 계산하는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 변수노드 처리 수단은, 상기 각각 입력받은 대수 근사화 확률값과 서로 다른 기본 패리티 검사행렬들의 변수노드들을 순환 시프트시키되, 상기 대수 근사화 확률값 및 상기 변수노드들의 순환 시프트 연결을 스위칭을 이용하여 변경하는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 서로 다른 기본 패리티 검사행들렬은, 상기 패리티 검사행렬에 따라 정해진 부행렬 크기로 나눈 나머지 값이 일치하는 부행렬의 순환 시프트 값을 가지는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치
8 8
제 3 항에 있어서, 상기 비트 처리 수단은, 상기 부분 병렬 처리된 패리티 검사행렬의 변수노드별 에지값과 상기 입력받은 대수 근사화 확률값의 변수노드 합을 계산하기 위한 변수노드 합 계산 수단; 상기 계산된 변수노드 합에 해당하는 비트 레벨을 판단하여 상기 입력비트를 복원하기 위한 비트 판단 수단; 및 상기 복원된 입력비트를 출력하기 위한 비트 출력 수단 을 포함하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 장치
9 9
저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법에 있어서, 패리티 검사행렬을 처리할 부행렬 크기 및 미리 결정된 병렬화 수치에 근거하여, 상기 부행렬마다 하나의 행과 관련된 기본 패리티 검사행렬들로 구성되는 복수의 상기 기본 패리티 검사행렬들을 결정하는 패리티 검사행렬 선택 단계; 입력비트에 대한 대수 근사화 확률값을 상기 부행렬 크기 및 상기 병렬화 수치에 따라 입력받는 비트 입력 단계; 상기 패리티 검사행렬을, 상기 입력받은 대수 근사화 확률값과 상기 결정된 복수의 기본 패리티 검사행렬들을 이용하여 순차적으로 부분 병렬 처리하는 검사행렬 처리 단계; 및 상기 부분 병렬 처리된 패리티 검사행렬 값으로부터 비트 레벨을 판단하여 상기 부행렬 크기 및 상기 병렬화 수치에 따라 상기 입력비트를 복원하는 비트 처리 단계 를 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 검사행렬 처리 단계는, 상기 입력받은 대수 근사화 확률값과 상기 결정된 복수의 기본 패리티 검사행렬들의 변수노드들을 상기 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 순환 시프트시키는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 검사행렬 처리 단계는, 상기 입력받은 대수 근사화 확률값과 상기 결정된 복수의 기본 패리티 검사행렬들의 변수노드들을 상기 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 부행렬 별로 순환 시프트시켜 변수노드 메시지를 계산하는 변수노드 처리 단계; 및 상기 계산된 변수노드 메시지를 부행렬 별로 검사노드 연산 과정을 거쳐 검사노드 메시지를 계산하는 검사노드 처리 단계 를 포함하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 비트 입력 단계는, 서로 다른 입력비트에 대한 대수 근사화 확률값을 각각 입력받는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법
13 13
제 12 항에 있어서, 상기 변수노드 처리 단계는, 상기 각각 입력받은 대수 근사화 확률값과 서로 다른 기본 패리티 검사행렬들의 변수노드들을 상기 부행렬 크기 및 병렬화 수치에 따라 부행렬 별로 순환 시프트시켜 변수노드 메시지를 각각 계산하는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 변수노드 처리 단계는, 상기 각각 입력받은 대수 근사화 확률값과 서로 다른 기본 패리티 검사행렬들의 변수노드들을 순환 시프트시키되, 상기 대수 근사화 확률값 및 상기 변수노드들의 순환 시프트 연결을 스위칭을 이용하여 변경하는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법
15 15
제 14 항에 있어서, 상기 서로 다른 기본 패리티 검사행렬들은, 상기 패리티 검사행렬에 따라 정해진 부행렬 크기로 나눈 나머지 값이 일치하는 부행렬의 순환 시프트 값을 가지는 것을 특징으로 하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법
16 16
제 11 항에 있어서, 상기 비트 처리 단계는, 상기 부분 병렬 처리된 패리티 검사행렬의 변수노드별 에지값과 상기 입력받은 대수 근사화 확률값의 변수노드 합을 계산하는 변수노드 합 계산 단계; 상기 계산된 변수노드 합에 해당하는 비트 레벨을 판단하여 상기 입력비트를 복원하는 비트 복원 단계 를 포함하는 복수의 기본 패리티 검사행렬을 이용한 저밀도 패리티 검사 부호의 복호화 방법
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1 정보통신부 및 정보통신연구진흥원 한국전자통신연구원 IT성장동력기술개발 3Gbps급 4G 무선 LAN 시스템 개발