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패리티 검사행렬 생성 방법에 있어서,
행렬에 대한 부행렬의 순환 시프트값을 산출하는 부행렬 산출 단계; 및
상기 산출된 부행렬의 순환 시프트값을 상기 행렬에 배열하되, 상기 행렬의 어느 한 열에 대해서 "0 행렬"을 제외한 부행렬의 순환 시프트값을 서로 중복되지 않는 순환 시프트값으로 배열하여 패리티 검사행렬을 생성하는 패리티 검사행렬 생성 단계
를 포함하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 패리티 검사행렬 생성 방법
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제 1 항에 있어서,
상기 패리티 검사행렬 생성 단계는,
상기 생성된 패리티 검사행렬의 패리티 블록 중, 어느 한 행에 대해서 "0 행렬"을 제외한 부행렬의 순환 시프트값을 동일한 값으로 배열하는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 패리티 검사행렬 생성 방법
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3
제 2 항에 있어서,
상기 패리티 검사행렬 생성 단계는,
상기 생성된 패리티 검사행렬의 패리티 블록 중, 상기 배열된 부행렬의 순환 시프트값을 상기 패리티 검사행렬의 행 값을 상기 부행렬의 크기값으로 나눈 나머지 값으로 결정하는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 패리티 검사행렬 생성 방법
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4
제 3 항에 있어서,
상기 패리티 검사행렬의 패리티 블록은,
이중 대각 형태의 부행렬의 순환 시프트값을 포함하는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 패리티 검사행렬 생성 방법
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5
제 3 항에 있어서,
상기 패리티 검사행렬의 패리티 블록은,
동일한 행 및 열에 해당하는 원소 집합들을 포함하되, 상기 포함된 원소 집합들은 서로 각 행 및 열에 대해서 구별되는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 패리티 검사행렬 생성 방법
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6
저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치에 있어서,
입력 비트를 입력받기 위한 비트 입력 수단;
상기 입력받은 입력 비트와, 고속 복호를 위해 어느 한 열에 대해서 "0 행렬"을 제외한 부행렬의 순환 시프트값으로 배열된 패리티 검사행렬의 정보 블록을 곱하여 정보 벡터를 생성하기 위한 정보 벡터 생성 수단;
상기 생성된 정보 벡터와 상기 패리티 검사행렬의 패리티 블록에 관한 선형 방정식을 독립적인 선형 방정식으로 분리하여 패리티 비트를 생성하기 위한 패리티 비트 생성 수단; 및
상기 입력받은 입력 비트와 상기 생성된 패리티 비트를 결합하여 부호어를 출력하기 위한 비트 출력 수단;
을 포함하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
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| 7 |
7
저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치에 있어서,
입력 비트를 입력받기 위한 비트 입력 수단;
상기 입력받은 입력 비트와, 고속 복호를 위한 패리티 검사행렬의 정보 블록을 곱하여 정보 벡터를 생성하기 위한 정보 벡터 생성 수단;
상기 생성된 정보 벡터와 상기 패리티 검사행렬의 패리티 블록에 관한 선형 방정식을 독립적인 선형 방정식으로 분리하여 패리티 비트를 생성하기 위한 패리티 비트 생성 수단; 및
상기 입력받은 입력 비트와 상기 생성된 패리티 비트를 결합하여 부호어를 출력하기 위한 비트 출력 수단;을 포함하며,
여기서, 상기 패리티 검사행렬은, 어느 한 열에 대해서 "0 행렬"을 제외한 부행렬의 순환 시프트값이 서로 중복되지 않는 순환 시프트값으로 배열된 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
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8
제 7 항에 있어서,
상기 패리티 비트 생성 수단은,
임의의 패리티 비트를 미리 지정하고, 상기 미리 지정된 패리티 비트를 상기 분리된 독립적인 선형 방정식에 역으로 적용하여 패리티 비트를 생성하는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
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9
제 8 항에 있어서,
상기 패리티 비트 생성 수단은,
상기 생성된 정보 벡터를 부행렬의 크기 단위로 나누어 행블록이 증가함에 따라 순차적으로 순환 시프트시키는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
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10
제 9 항에 있어서,
상기 패리티 비트 생성 수단은,
상기 분리된 독립적인 선형 방정식을 부행렬 단위로 병렬 처리하는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
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11
저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법에 있어서,
입력 비트를 입력받기 위한 비트 입력 단계;
상기 입력받은 입력 비트와, 고속 복호를 위해 어느 한 열에 대해서 "0 행렬"을 제외한 부행렬의 순환 시프트값으로 배열된 패리티 검사행렬의 정보 블록을 곱하여 정보 벡터를 생성하는 정보 벡터 생성 단계;
상기 생성된 정보 벡터와 상기 패리티 검사행렬의 패리티 블록에 관한 선형 방정식을 독립적인 선형 방정식으로 분리하여 패리티 비트를 생성하는 패리티 비트 생성 단계; 및
상기 입력받은 입력 비트와 상기 생성된 패리티 비트를 결합하여 부호어를 출력하는 단계;
를 포함하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
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12
저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법에 있어서,
입력 비트를 입력받기 위한 비트 입력 단계;
상기 입력받은 입력 비트와, 고속 복호를 위한 패리티 검사행렬의 정보 블록을 곱하여 정보 벡터를 생성하는 정보 벡터 생성 단계;
상기 생성된 정보 벡터와 상기 패리티 검사행렬의 패리티 블록에 관한 선형 방정식을 독립적인 선형 방정식으로 분리하여 패리티 비트를 생성하는 패리티 비트 생성 단계; 및
상기 입력받은 입력 비트와 상기 생성된 패리티 비트를 결합하여 부호어를 출력하는 단계;를 포함하며,
여기서, 상기 패리티 검사행렬은, 어느 한 열에 대해서 "0 행렬"을 제외한 부행렬의 순환 시프트값이 서로 중복되지 않는 순환 시프트값으로 배열된 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
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13
제 12 항에 있어서,
상기 패리티 비트 생성 단계는,
임의의 패리티 비트를 미리 지정하고, 상기 미리 지정된 패리티 비트를 상기 분리된 독립적인 선형 방정식에 역으로 적용하여 패리티 비트를 생성하는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
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14
제 13 항에 있어서,
상기 패리티 비트 생성 단계는,
상기 생성된 정보 벡터를 부행렬의 크기 단위로 나누어 행블록이 증가함에 따라 순차적으로 순환 시프트시키는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
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15
제 14 항에 있어서,
상기 패리티 비트 생성 단계는,
상기 분리된 독립적인 선형 방정식을 부행렬 단위로 병렬 처리하는 것을 특징으로 하는 낮은 복잡도 및 고속 복호를 위한 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
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