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스캔형 피하지방 두께 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015145411
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 복수의 광원과 수광부를 사용하여 피하지방의 두께를 스캔방식으로 측정하는 피하지방 두께 측정 장치에 대한 것으로서, 근적외선을 발광하는 복수의 광원, 상기 복수의 광원 각각에 대응되는 복수의 수광부, 상기 복수의 광원과 상기 복수의 수광부가 일측에 배치된 띠 및 상기 복수의 광원을 제어하고, 상기 복수의 수광부로부터 신호를 받아 분석하여 출력하는 제어부를 포함하고, 상기 광원은 대상물의 표면에 근적외선광을 입사시키고, 상기 수광부는 상기 대상물의 내부를 거쳐 다시 표면으로 되돌아 나오는 상기 근적외선을 수광하여 신호를 발생하는 것을 특징으로 한다.근적외선, 피하지방, 스캔, 두께 측정
Int. CL G06F 1/00 (2006.01) G06F 17/00 (2006.01)
CPC A61B 5/1073(2013.01) A61B 5/1073(2013.01)
출원번호/일자 1020070103859 (2007.10.16)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2009-0038530 (2009.04.21) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.10.16)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍혁기 대한민국 경기 성남시 분당구
2 최연식 대한민국 서울 서초구
3 김 훈 대한민국 서울 강남구
4 조영창 대한민국 경기 수원시 영통구
5 박효덕 대한민국 경기 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)
2 노철호 대한민국 경기도 성남시 분당구 판교역로 ***, 에스동 ***호(삼평동,에이치스퀘어)(특허법인도담)
3 서천석 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로**길 **, *층 (서초동, 서초다우빌딩)(특허법인세하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2007.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2007-0738702-31
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2007.11.02 수리 (Accepted) 1-1-2007-0788464-75
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.04.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.04.25 수리 (Accepted) 9-1-2008-0025431-27
5 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2009.04.23 수리 (Accepted) 1-1-2009-0247197-69
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2009.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0319738-28
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2009.10.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0437072-64
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
근적외선을 발광하는 복수의 광원;상기 복수의 광원 각각에 대응되는 복수의 수광부;상기 복수의 광원과 상기 복수의 수광부가 일측에 배치된 띠; 및상기 복수의 광원을 제어하고, 상기 복수의 수광부로부터 신호를 받아 분석하여 출력하는 제어부를 포함하고, 상기 광원은 대상물의 표면에 근적외선광을 입사시키고, 상기 수광부는 상기 대상물의 내부를 거쳐 다시 표면으로 되돌아 나오는 상기 근적외선을 수광하여 신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 피하지방 두께 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 복수의 광원은 상기 띠의 상부에 상기 복수의 수광부는 상기 띠의 하부에 서로 대응되도록 배치된 피하지방 두께 측정 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 복수의 광원과 상기 복수의 수광부는 상기 띠 상에 적어도 하나 이상의 열로서 서로 교대로 배치된 피하지방 두께 측정 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 수광부는 리니어 이미지 센서이고, 상기 광원은 상기 리니어 이미지 센서의 일측에 위치하는 피하지방 두께 측정 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 제어부는 상기 복수의 광원을 순차적으로 점멸하고, 상기 복수의 광원 중 어느 하나만을 점등할 때 상기 복수의 수광부로부터 수신된 신호 중 상기 점멸된 광원에 대응되는 수광부의 신호만을 수신하는 피하지방 두께 측정 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 제어부는 상기 복수의 광원을 순차적으로 점멸한 후 상기 복수의 광원으로부터 수신된 복수의 신호를 분석한 결과를 하나의 이미지 데이터로서 출력하는 피하지방 두께 측정 장치
7 7
제 6 항에 있어서,상기 띠의 위치를 옮기면서 측정을 행할 경우 상기 제어부는 상기 이미지 데이터를 서로 연결하여 하나의 입체 이미지 데이터를 출력하는 피하지방 두께 측정 장치
8 8
제 1 항에 있어서,상기 근적외선의 파장은 800 내지 1700 nm인 피하지방 두께 측정 장치
9 9
제 1 항에 있어서,상기 근적외선의 파장은 800 내지 1350 nm 또는 1500 내지 1700 nm인 피하지방 두께 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 정보통신부 전자부품연구원 IT성장동력사업 초미세 네트워크 컴퓨팅 기반 질병진단 시스템개발