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하나 이상의 사건(event)에 따라 변화하는 입력을 기술하는 베이시스 함수의 형태의 자극과 모의 시험의 대상이 되는 회로를 입력받는 단계와,상기 입력이 변화할 때에 한하여, 상기 회로의 출력을 업데이트 하는 단계를 포함하고,상기 출력을 업데이트 하는 단계는상기 회로의 전달함수(transfer function)와 상기 베이시스 함수형태의 자극에 관한 복소 주파수 영역(s 영역)의 식을 얻는 단계와,상기 전달함수와 상기 자극을 표현하는 복소 주파수 영역의 식을 연산하여 상기 베이시스 함수 형태의 자극에 대한 상기 회로의 시간 영역의 식으로 변환된 응답을 구하는 단계를 포함하는 회로의 모의 시험 방법
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제1항에 있어서,상기 베이시스 함수는 C*t^(m-1)*e^(-at)*u(t)의 형태인회로의 모의 시험 방법
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제1항에 있어서, 상기 전달함수는 복소 주파수 영역의 식인 회로의 모의 시험 방법
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제1항에 있어서,상기 전달함수는 상기 응답을 얻고자 하는 회로를 표현하는 미분 방정식을 복소 주파수 영역으로 변환하거나, 상기 자극에 대한 응답을 얻고자 하는 회로의 라플라스 등가회로를 이용하여 구하는 회로의 모의 시험 방법
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제1항에 있어서,상기 전달함수와 상기 자극을 표현하는 복소 주파수 영역의 식을 연산하여 시간 영역의 식으로 변환된 응답을 구하는 단계는,상기 전달함수와 상기 자극을 표현하는 복소 주파수 영역의 식을 곱하는 단계와,곱하여진 결과를 부분분수 전개(partial fraction expansion)하는 단계 및,부분분수 전개된 결과를 이용하여 시간 영역의 식으로 변환하는 단계를 포함하는 회로의 모의 시험 방법
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제1항에 있어서, 상기 회로의 모의 시험 방법은 상기 응답을 플로팅(plotting)하는 단계를 더 포함하는 회로의 모의 시험 방법
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제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,상기 회로의 모의 시험 방법은 베릴로그(Verilog), 시스템 베릴로그(System Verilog) 및 VHDL 중 어느 하나 이상의 모의 시험 도구에 의하여 구동되는 회로의 모의 시험 방법
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하나 이상의 사건(event)에 따라 변화하는 입력을 기술하는 베이시스 함수의 형태의 자극과 모의 시험의 대상이 되는 회로를 입력받는 단계와,상기 입력이 변화할 때에 한하여, 상기 회로의 출력을 업데이트 하는 단계를 포함하고,상기 출력을 업데이트 하는 단계는상기 회로의 전달함수(transfer function)와 상기 베이시스 함수형태의 자극에 관한 복소 주파수 영역(s 영역)의 식을 얻는 단계와,상기 전달함수와 상기 자극을 표현하는 복소 주파수 영역의 식을 연산하여 상기 베이시스 함수 형태의 자극에 대한 상기 회로의 시간 영역의 식으로 변환된 응답을 구하는 단계를 포함하는 회로의 모의 시험 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능 저장 매체
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제8항에 있어서,상기 베이시스 함수는 C*t^(m-1)*e^(-at)*u(t)의 형태인회로의 모의 시험 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능 저장 매체
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제8항에 있어서, 상기 전달함수는 복수 주파수 영역(s(s=)영역)의 식인 회로의 모의 시험 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능 저장 매체
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제8항에 있어서,상기 전달함수는 상기 응답을 얻고자 하는 회로를 표현하는 미분 방정식을 복소 주파수 영역으로 변환하거나, 상기 자극에 대한 응답을 얻고자 하는 회로의 라플라스 등가회로를 이용하여 구하는 회로의 모의 시험 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능 저장 매체
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제8항에 있어서,상기 전달 함수와 상기 자극을 표현하는 복소 주파수 영역의 식을 연산하여 시간 영역의 식으로 변환된 응답을 구하는 단계는,상기 전달함수와 상기 자극을 표현하는 복소 주파수 영역의 식을 곱하는 단계와,곱하여진 결과를 부분분수 전개(partial fraction expansion)하는 단계 및,부분분수 전개된 결과를 이용하여 시간 영역의 식으로 변환하는 단계를 포함하는 회로의 모의 시험 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능 저장 매체
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제8항에 있어서, 상기 회로의 모의 시험 방법은 상기 응답을 플로팅(plotting)하는 단계를 더 포함하는 회로의 모의 시험 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능 저장 매체
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