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전경 영상 기반의 제품 검사 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2019006342
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전경 영상 기반의 제품 검사 장치 및 방법에 관한 것으로, 생산라인에서 단순 오류 검출을 위한 복잡한 솔루션 설치와 config 등의 작업 없이도 다양한 제품에 대하여 간편하게 단순 오류 검출을 수행하여 비용을 최소화 하기 위한 것이다. 제품 검사 장치는 생산라인에서 검사하고자 하는 제품의 양품을 포함한 전경 영상을 복수회 등록하여 학습된 전경 영상을 생성한다. 제품 검사 장치는 생산라인에 검사하고자 하는 제품이 투입되면, 제품의 현재 전경 영상을 획득한다. 그리고 제품 검사 장치는 현재 전경 영상과 학습된 전경 영상을 비교하여 제품의 양불량을 검사한다.
Int. CL G01N 21/956 (2006.01.01) G06T 7/00 (2017.01.01)
CPC G01N 21/95607(2013.01) G01N 21/95607(2013.01) G01N 21/95607(2013.01) G01N 21/95607(2013.01)
출원번호/일자 1020170160272 (2017.11.28)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0061660 (2019.06.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.02.11)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박용주 경기도 고양시 일산동구
2 임용석 서울특별시 양천구
3 김상윤 서울특별시 은평구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박종한 대한민국 서울특별시 구로구 디지털로**길 * (구로동, 에이스하이엔드타워*차) ***호(한림특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2017.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2017-1184162-61
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2020.02.11 수리 (Accepted) 1-1-2020-0143603-69
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2020.07.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2020.09.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0178121-98
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2020.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0833807-63
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번호 청구항
1 1
제품 검사 장치는 생산라인에서 검사하고자 하는 제품의 양품을 포함한 전경 영상을 복수회 등록하여 학습된 전경 영상을 생성하는 단계;상기 제품 검사 장치는 상기 생산라인에 검사하고자 하는 제품이 투입되면, 상기 제품의 현재 전경 영상을 획득하는 단계; 및상기 제품 검사 장치는 상기 현재 전경 영상과 상기 학습된 전경 영상을 비교하여 상기 제품의 양불량을 검사하는 단계;를 포함하는 전경 영상 기반의 제품 검사 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 생성하는 단계에서,상기 제품 검사 장치는 상기 학습된 전경 영상의 복수의 픽셀 단위로 평균과 표준편차를 산출하는 것을 특징으로 하는 전경 영상 기반의 제품 검사 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 검사하는 단계에서,상기 제품 검사 장치는 상기 현재 전경 영상의 복수의 픽셀 단위로 평균과 표준편차를 산출하는 단계;상기 제품 검사 장치는 상기 현재 전경 영상과 상기 학습된 전경 영상의 표준편차의 차이값을 산출하는 단계; 및상기 제품 검사 장치는 산출된 차이값이 설정된 임계값을 초과하면 상기 제품을 불량품으로 판정하고, 상기 임계값 이내이면 상기 제품을 양품으로 판정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전경 영상 기반의 제품 검사 방법
4 4
제3항에 있어서, 상기 양품으로 판정하는 단계 이후에 수행되는,상기 제품 검사 장치는 양품으로 판정된 상기 현재 전경 영상을 상기 학습된 전경 영상에 배경으로 등록하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전경 영상 기반의 제품 검사 방법
5 5
제4항에 있어서, 상기 등록하는 단계에서,상기 제품 검사 장치는 상기 양품으로 판정된 상기 현재 전경 영상에 가중치를 적용하여 상기 학습된 전경 영상에 배경으로 등록하는 것을 특징으로 하는 전경 영상 기반의 제품 검사 방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 검사하는 단계에서,상기 제품 검사 장치는 제품에서 부품이 누락되거나 부품이 잘못된 위치에 장착되거나 다른 부품으로 잘못 장착되어 있는 지의 여부로 양불량을 검사하는 것을 특징으로 하는 전경 영상 기반의 제품 검사 방법
7 7
생산라인에 설치되어 제품을 포함한 전경 영상을 촬영하는 카메라부;학습된 전경 영상을 저장하는 저장부;상기 생산라인에서 검사하고자 하는 제품의 양품을 포함한 전경 영상을 복수회 등록하여 학습된 전경 영상을 생성하여 상기 저장부에 저장하고, 상기 생산라인에 검사하고자 하는 제품이 투입되면 상기 제품의 현재 전경 영상을 획득하고, 상기 현재 전경 영상과 상기 학습된 전경 영상을 비교하여 상기 제품의 양불량을 검사하는 제어부;를 포함하는 전경 영상 기반의 제품 검사 장치
8 8
제7항에 있어서, 상기 제어부는,상기 학습된 전경 영상의 복수의 픽셀 단위로 평균과 표준편차를 산출하여 상기 저장부에 저장하고,상기 제품 검사 시, 상기 현재 전경 영상의 복수의 픽셀 단위로 평균과 표준편차를 산출한 후, 상기 현재 전경 영상과 상기 학습된 전경 영상의 표준편차의 차이값을 산출하고, 산출된 차이값이 설정된 임계값을 초과하면 상기 제품을 불량품으로 판정하고, 상기 임계값 이내이면 상기 제품을 양품으로 판정하는 것을 특징으로 하는 전경 영상 기반의 제품 검사 장치
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업부 주식회사 크래비스 산업핵심기술개발사업 (R)확장.유연 구조의 조합형 I/O를 지원하는 비전 블럭 개발