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머클 트리 기반 메모리 무결성 검증 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2019023927
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 머클 트리 기반 메모리 무결성 검증 방법을 개시한다.검증 기준 시점에 검증대상 메모리의 각 부분 메모리 블록에 대해 해시 함수를 적용하여 산출된 해시값을 각 종단 노드의 값으로 갖는 기준 머클 트리를 구성하는 과정, 상기 기준 머클 트리의 루트 해시값을 온칩(On-chip) 메모리에 저장하는 과정, 검증 수행 시점에 상기 각 부분 메모리 블록에 대해 상기 해시 함수를 적용하여 산출된 해시값을 각 종단 노드의 값으로 갖는 검증 머클 트리를 구성하는 과정, 상기 검증 머클 트리의 루트 해시값을 상기 온칩 메모리에 저장된 기준 머클 트리의 루트 해시값과 비교하여 메모리의 무결성을 검증하는 과정을 포함하고, 상기 기준 머클 트리 및 상기 검증 머클 트리의 내부 노드의 값은 상기 내부 노드의 자식 노드들의 해시값의 합에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 방법을 제공한다.
Int. CL G06F 21/64 (2013.01.01) G06F 21/79 (2013.01.01) G06F 12/14 (2006.01.01)
CPC G06F 21/64(2013.01) G06F 21/64(2013.01) G06F 21/64(2013.01)
출원번호/일자 1020160011954 (2016.01.29)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1786006-0000 (2017.10.10)
공개번호/일자 10-2017-0091248 (2017.08.09) 문서열기
공고번호/일자 (20171017) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.01.29)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤현수 대한민국 대전광역시 유성구
2 김세환 대한민국 대전광역시 유성구
3 김용곤 대한민국 대전광역시 유성구
4 권오민 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이철희 대한민국 서울특별시 강남구 도곡로**길 **(역삼동) 베리타스빌딩, *-*층(베리타스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.01.29 수리 (Accepted) 1-1-2016-0102416-05
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2017.01.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0028615-40
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2017-0246185-19
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.03.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0246243-70
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2017.07.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0524684-81
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2017-0803942-31
7 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)		 2017.08.21 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2017-0804605-38
8 등록결정서
Decision to Grant Registration		 2017.09.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0651856-83
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
검증 기준 시점에 검증대상 메모리의 각 부분 메모리 블록에 대해 해시 함수(Hash function)를 적용하여 산출된 해시값을 각 종단 노드의 값으로 갖는 기준 머클 트리(Merkle tree)를 구성하는 과정;상기 기준 머클 트리의 루트 해시값을 온칩(On-chip) 메모리에 저장하는 과정;검증 수행 시점에 상기 각 부분 메모리 블록에 대해 상기 해시 함수를 적용하여 산출된 해시값(Hash value)을 각 종단 노드의 값으로 갖는 검증 머클 트리를 구성하는 과정; 및상기 검증 머클 트리의 루트 해시값을 상기 온칩 메모리에 저장된 기준 머클 트리의 루트 해시값과 비교하여 메모리의 무결성을 검증하는 과정을 포함하고,상기 기준 머클 트리 및 상기 검증 머클 트리의 내부 노드의 값은 상기 내부 노드의 자식 노드들의 해시값의 합에 의해 결정되고,상기 검증 기준 시점은, 상기 검증대상 메모리의 전체 데이터가 신뢰 가능한 시점이고,상기 검증 수행 시점은, 프로세서에 의한 데이터의 로드(load)가 일어나는 시점, 프로세스의 연산을 통한 결과가 도출되어 이 결과를 저장하는 시점 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 방법
2 2
삭제
3 3
검증 기준 시점에 검증대상 메모리의 각 부분 메모리 블록에 대해 해시 함수(Hash function)를 적용하여 산출된 해시값을 각 종단 노드의 값으로 갖는 기준 머클 트리(Merkle tree)를 구성하는 과정;상기 기준 머클 트리의 루트 해시값을 온칩(On-chip) 메모리에 저장하는 과정;검증 수행 시점에 상기 각 부분 메모리 블록에 대해 상기 해시 함수를 적용하여 산출된 해시값(Hash value)을 각 종단 노드의 값으로 갖는 검증 머클 트리를 구성하는 과정; 및상기 검증 머클 트리의 루트 해시값을 상기 온칩 메모리에 저장된 기준 머클 트리의 루트 해시값과 비교하여 메모리의 무결성을 검증하는 과정을 포함하고,상기 기준 머클 트리 및 상기 검증 머클 트리의 내부 노드의 값은 상기 내부 노드의 자식 노드들의 해시값의 합에 의해 결정되고,상기 해시 함수는, 복수의 원소의 순서에 관계없이, 복수의 원소를 합산한 결과를 해시한 결과와 각 원소를 해시한 결과를 합산한 결과가 동일한 해시값을 나타내는 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 방법
4 4
제3항에 있어서,상기 검증대상 메모리에서 상기 온칩으로 데이터 로드가 일어나는 부분 메모리 블록이 복수 개인 경우, 데이터 로드가 일어날 때마다 해당 부분 메모리 블록을 오프칩(Off-chip) 메모리에 할당된 큐(Queue)에 순차로 저장하고, 상기 큐에 대해 상기 해시 함수를 적용하여 산출된 제1 해시값을 온칩 메모리에 저장하는 과정; 및상기 검증 수행 시점에 상기 큐에 대해 상기 해시 함수를 적용한 제2 해시값을 산출하고, 상기 온칩 메모리에 저장한 제1 해시값과 상기 제2 해시값을 비교하여 상기 큐에 대한 무결성을 검증하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 방법
5 5
제3항에 있어서,상기 해시 함수는,입력 데이터 값이 변화하는 경우, 해시값 갱신을 위한 연산값이 입력 데이터 값의 증가에 비례하여 증가하는 특성 및 해시값 갱신을 위한 연산값이 입력 데이터 값의 감소에 비례하여 감소하는 특성을 추가로 더 갖는 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 온칩에 로드되어 있는 데이터를 수정한 경우, 상기 수정된 데이터를 대응하는 부분 메모리 블록으로 인출하는 과정; 상기 인출된 데이터의 무결성을 검증하는 과정; 및상기 인출된 데이터에 대하여 상기 해시 함수를 적용한 해시값 및 수정 전 데이터에 대하여 상기 해시 함수를 적용한 해시값을 산출하여 상기 기준 머클 트리의 루트 해시값을 갱신하는 과정를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 기준 머클 트리의 루트 해시값을 갱신하는 과정은,상기 온칩 메모리에 저장된 기존의 기준 머클 트리의 루트 해시값에 상기 인출된 데이터의 해시값을 합하고, 상기 수정 전 데이터의 해시값을 빼준 값으로 기존 머클 트리의 루트 해시값을 갱신하는 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 방법
8 8
검증 기준 시점에 검증대상 메모리의 각 부분 메모리 블록에 대해 해시 함수를 적용하여 산출된 해시값을 각 종단 노드의 값으로 갖는 기준 머클 트리를 구성하는 기준 머클 트리 구성부;상기 기준 머클 트리의 루트 해시값을 온칩(On-chip) 메모리에 저장하는 기준 루트 해시값 저장부;검증 수행 시점에 상기 각 부분 메모리 블록에 대해 상기 해시 함수를 적용하여 산출한 해시값을 각 종단 노드의 값으로 하는 검증 머클 트리를 갖는 검증 머클 트리 구성부;상기 검증 머클 트리의 루트 해시값을 상기 온칩 메모리에 저장된 기준 머클 트리의 루트 해시값과 비교하여 메모리의 무결성을 검증하는 메모리 무결성 검증부; 및상기 검증대상 메모리에서 상기 온칩으로 데이터 로드가 일어나는 부분 메모리 블록이 복수 개인 경우, 데이터 로드가 일어날 때마다 해당 부분 메모리 블록을 오프칩 메모리에 할당된 큐에 순차로 저장하고, 상기 큐에 대해 상기 해시 함수를 적용하여 산출된 제1 해시값을 온칩 메모리에 저장하고, 상기 검증 수행 시점에 상기 큐에 대해 상기 해시 함수를 적용한 제2 해시값을 산출하고, 상기 온칩 메모리에 저장한 제1 해시값과 상기 제2 해시값을 비교하여 상기 큐에 대한 무결성을 검증하는 데이터 로드 정보 처리부를 포함하고,상기 기준 머클 트리 및 상기 검증 머클 트리의 내부 노드의 값은 상기 내부 노드의 자식 노드들의 해시값의 합에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 장치
9 9
삭제
10 10
제 8항에 있어서, 상기 온칩에 로드되어 있는 데이터를 수정한 경우, 상기 수정된 데이터를 대응하는 부분 메모리 블록으로 인출하는 과정; 상기 인출된 데이터의 무결성을 검증하는 과정; 및상기 인출된 데이터에 대하여 해시값을 산출하여 상기 기준 머클 트리의 루트 해시값을 갱신하는 과정을 수행하는 데이터 수정 정보 처리부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 무결성 검증 장치
11 11
하드웨어와 결합되어,검증 기준 시점에 검증대상 메모리의 각 부분 메모리 블록에 대해 해시 함수를 적용하여 산출된 해시값을 각 종단 노드의 값으로 갖는 기준 머클 트리를 구성하는 과정;상기 기준 머클 트리의 루트 해시값을 온칩 메모리에 저장하는 과정;검증 수행 시점에 상기 각 부분 메모리 블록에 대해 상기 해시 함수를 적용하여 산출된 해시값을 각 종단 노드의 값으로 갖는 검증 머클 트리를 구성하는 과정; 및상기 검증 머클 트리의 루트 해시값을 상기 온칩 메모리에 저장된 기준 머클 트리의 루트 해시값과 비교하여 메모리의 무결성을 검증하는 과정을 실행시키기 위하여 컴퓨터 판독가능한 기록매체에 저장되고,상기 기준 머클 트리 및 상기 검증 머클 트리의 내부 노드의 값은 상기 내부 노드의 자식 노드들의 해시값의 합에 의해 결정되고,상기 검증 기준 시점은, 상기 검증대상 메모리의 전체 데이터가 신뢰 가능한 시점이고,상기 검증 수행 시점은, 프로세서에 의한 데이터의 로드(load)가 일어나는 시점, 프로세스의 연산을 통한 결과가 도출되어 이 결과를 저장하는 시점 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 컴퓨터프로그램
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 성균관대학교 산학협력단 정보통신. 방송 연구개발 사업-SW컴퓨팅산업원천기술개발 사업 스마트TV 2.0 소프트웨어 플랫폼
2 미래창조과학부 한국과학기술원 이공분야기초연구사업 생존성 향상과 서비스 품질 유지를 위한 가상화 기반 침입감내 시스템 연구