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복수개의 시편들이 일렬로 배치되도록 복수개의 시편들을 지지하는, 지지부;상기 복수개의 시편들에 직류 전류를 공급하는, 전류공급부;상기 복수개의 시편들 각각의 두 지점에 연결된 한쌍의 채널을 구비하는, 복수개의 채널부들;상기 복수개의 채널부들과 연결되며, 상기 복수개의 채널부들을 개별적으로 온/오프시켜 상기 두 지점 사이의 전위차를 선택적으로 출력하는, 스위칭부; 및나노볼트미터(nanovoltmeter)를 구비하여 상기 스위칭부로부터 선택적으로 출력된 전위차를 측정하는 전압측정부;를 구비하며,상기 복수개의 시편들 중 서로 인접하는 두 시편들이 서로 전기적으로 연결되어 직렬 회로를 구성하고,상기 복수개의 채널부들 각각은 상기 스위칭부에 병렬적으로 연결된, 균열 검출 장치
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제 1 항에 있어서,상기 지지부는 서로 이격되어 배치되는 복수개의 서브지지부들을 포함하고,상기 복수개의 시편들 각각은, 상기 복수개의 서브지지부들 중 서로 인접하는 두 서브지지부들 사이에 배치되는, 균열 검출 장치
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제 1 항에 있어서,상기 지지부는 상기 복수개의 시편들을 상기 복수개의 시편들의 길이방향으로 인장하는 가력부를 포함하는, 균열 검출 장치
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제 1 항에 있어서,상기 전류공급부로부터 공급되는 전류를 측정하는 전류측정부를 더 구비하는, 균열 검출 장치
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제 1 항에 있어서,상기 복수개의 채널부들을 순차적으로 온/오프시키도록 상기 스위칭부를 제어하는 제어부;를 더 구비하는 균열 검출 장치
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복수개의 시편들이 일렬로 배치되도록 복수개의 시편들을 지지하는 단계;복수개의 시편들에 직류 전류를 공급하는 단계;스위칭부를 이용하여 복수개의 시편들 각각의 두 지점에 연결된 한쌍의 채널을 구비하는 복수개의 채널부들을 개별적으로 온/오프시켜 두 지점 사이의 전위차를 선택적으로 출력하는 단계; 및나노볼트미터(nanovoltmeter)를 이용하여 상기 스위칭부로부터 선택적으로 출력된 전위차를 측정하는 단계;를 포함하며,상기 복수개의 시편들 중 서로 인접하는 두 시편들이 서로 전기적으로 연결되어 직렬 회로를 구성하고,상기 복수개의 채널부들 각각은 상기 스위칭부에 서로 병렬적으로 연결된, 균열 검출 방법
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제 8 항에 있어서,복수개의 시편들을 복수개의 시편들의 길이방향으로 인장하는 단계;를 더 포함하는, 균열 검출 방법
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제 8 항에 있어서,두 개의 시편들에 공급되는 전류를 측정하는 단계;를 더 포함하는, 균열 검출 방법
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제 8 항에 있어서,상기 두 지점 사이의 전위차를 선택적으로 출력하는 단계는,복수개의 채널부들을 순차적으로 온/오프시키도록 제어하는 단계; 및복수개의 채널부들 중 온 상태인 채널부의 전위차를 출력하는 단계;를 포함하는, 균열 검출 방법
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