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평행하지 않은 하전된 미세유동 및 나노유동 채널에서유체의 총괄흐름전위를 산출하는 방법과 이를 수행하는프로그램을 저장한 기록매체

  • 기술번호 : KST2014051371
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 평행하지 않은 하전된 미세유동 또는 나노유동 채널에서, 유체의 총괄흐름전위를 산출하는 방법 및 이를 수행하는 프로그램을 저장한 기록매체에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, MEMS (micro-electro-mechanical system) 소자나 단분자 검출용 채널에서 효과적인 것으로 알려진 평행하지 않은 하전된 채널에서 발생된 계면동전기적 흐름전위와 유속분포 해석이 가능하다. 따라서, 본 발명에 따른 방법을 이용하여, 채널의 기하학적 구조나 용액의 다양한 조건에 따른 계면동전기 프로세스 특성, 제어, 설계 시 정량적이고 신뢰성 있는 자료를 확보할 수 있다. 미세유체학(microfluidics), 계면동전기(electrokinetics), 미세채널 (microchannel), 흐름전위(streaming potential), 전기영동(electrophoresis), 마이크로칩(microchip), 푸아송-볼츠만 식(Poisson-Boltzmann equation), 네이비어-스톡스 식(Navier-Stokes equation), 네른스트-플랑크 식(Nernst-Planck equation), 프로그램(program)
Int. CL B28Y 15/00 (2011.01) G01N 27/26 (2011.01)
CPC G01N 27/26(2013.01)
출원번호/일자 1020030070192 (2003.10.09)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0529208-0000 (2005.11.10)
공개번호/일자 10-2005-0034308 (2005.04.14) 문서열기
공고번호/일자 (20051117) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.10.09)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전명석 대한민국 서울 광진구
2 이태석 대한민국 경기 파주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.10.09 수리 (Accepted) 1-1-2003-0376749-36
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.03.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.04.15 수리 (Accepted) 9-1-2005-0021059-48
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0254019-13
5 의견서
Written Opinion
2005.07.21 수리 (Accepted) 1-1-2005-0394992-16
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.07.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0394988-22
7 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items
2005.07.21 수리 (Accepted) 1-1-2005-0395182-18
8 등록결정서
Decision to grant
2005.11.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0565738-38
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
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번호 청구항
1 1
평행하지 않은 하전된 미세유동 또는 나노유동 채널상에서, 전해질 이온을 함유하는 유체가 흐를 때, 상기 유체의 총괄흐름전위를 산출하는 방법에 있어서,상기 채널을 복수 개의 평행한 단위채널로 분할하는 단계(a);상기 분할된 각 단위채널에서의 흐름전위 및 유체정역학적 저항을 구하는 단계(b); 및상기 각 단위채널에서의 흐름전위 및 유체정역학적 저항의 곱의 합, 및 상기 유체정역학적 저항의 합으로부터 총괄흐름전위를 산출하는 단계(c)를 포함하되,상기 단계(b)에서, 상기 분할된 복수 개의 단위채널 중 채널 입구로부터 j번째 위치하는 단위채널에서의 흐름전위 SP(j)는 하기 수학식 1에 의하여 계산되고, 상기 j번째 단위채널에서의 유체정역학적 저항 R(j)는 하기 수학식 2에 의하여 계산되며;상기 단계(c)에서, 총괄흐름전위 SPov는 하기 수학식 3에 의하여 계산되는 것을 특징으로 하는, 총괄흐름전위를 산출하는 방법:[수학식 1][수학식 2][수학식 3]상기식에서,Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j) 는 각각 상기 j번째 단위채널에서의 현상학적 계수이고,SP(j)는 상기 j번째 단위채널에서의 흐름전위로서, 상기 수학식 1에서 정의된 바와 같으며,R(j)는 상기 j번째 단위채널에서의 유체정역학적 저항으로서, 상기 수학식 2에서 정의된 바와 같고,N은 단위채널의 개수이다
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제 1 항에 있어서,상기 j번째 단위채널에서의 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j) 는 각각 하기 수학식 4 내지 7에 의하여 계산되는 것을 특징으로 하는, 총괄흐름전위를 산출하는 방법:[수학식 4][수학식 5][수학식 6][수학식 7]상기식에서,W는 상기 채널의 두께(thickness)이고,H는 상기 j번째 단위채널의 폭의 절반이며,μ는 유체의 점도이고,z는 전해질 이온의 원자가이며,F는 패러데이 상수이고,c는 전해질 이온의 농도이며,m은 전해질 이온의 이동도이다
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평행하지 않은 하전된 미세유동 또는 나노유동 채널상에서, 전해질 이온을 함유하는 유체가 흐를 때, 상기 유체의 총괄흐름전위를 산출하는 방법에 있어서,상기 채널을 복수 개의 평행한 단위채널로 분할하는 단계(a);상기 분할된 복수 개의 단위채널 중 채널 입구로부터 j번째 위치하는 단위채널의 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j)를 제 4 항에 따른 수학식 4 내지 7에 의하여 구하는 단계(b);상기 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j) 로부터 상기 j번째 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j)를 제 1 항에 따른 수학식 1 및 2에 의하여 구하는 단계(c);상기 단계(b) 및 단계(c)를 모든 단위채널에 대하여 수행하는 단계(d); 및각각의 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j) 로부터 총괄흐름전위 SPov를 제 1 항에 따른 수학식 3에 의하여 산출하는 단계(e)를 포함하는 것을 특징으로 하는, 총괄흐름전위를 산출하는 방법
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평행하지 않은 하전된 미세유동 또는 나노유동 채널상에서, 전해질 이온을 함유하는 유체가 흐를 때, 상기 채널의 임의의 지점에서 상기 유체의 속도분포를 산출하는 방법에 있어서,상기 채널을 복수 개의 평행한 단위채널로 분할하는 단계(a);상기 분할된 복수 개의 단위채널 중 채널 입구로부터 j번째 위치하는 단위채널의 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j)를 제 4 항에 따른 수학식 4 내지 7에 의하여 구하는 단계(b);상기 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j) 로부터 상기 j번째 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j)를 제 1 항에 따른 수학식 1 및 2에 의하여 구하는 단계(c);상기 단계(b) 및 단계(c)를 모든 단위채널에 대하여 수행하는 단계(d);각각의 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j) 로부터 총괄흐름전위 SPov를 제 1 항에 따른 수학식 3에 의하여 산출하는 단계(e); 및상기 총괄흐름전위로부터 네이비어-스톡스 식에 의하여 상기 유체의 속도분포를 산출하는 단계(f)를 포함하는 것을 특징으로 하는, 유체의 속도분포를 산출하는 방법
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평행하지 않은 하전된 미세유동 또는 나노유동 채널상에서, 전해질 이온을 함유하는 유체가 흐를 때, 상기 유체의 총괄흐름전위를 산출하기 위한, 컴퓨터로 해독가능한 기록매체에 있어서,상기 채널을 복수 개의 평행한 단위채널로 분할하는 단계(a);채널의 두께 W, 상기 분할된 복수 개의 단위채널 중 채널 입구로부터 j번째 위치하는 단위채널의 폭의 절반값 H, 유체의 점도 μ, 전해질 이온의 원자가 z, 압력차이 Δp, 벽면 전위 Ψw, 전해질 이온의 농도 c, 및 전해질 이온의 이동도 m의 값을 입력하는 단계(b);상기 j번째 단위채널의 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j)를 제 4 항에 따른 수학식 4 내지 7에 의하여 구하는 단계(c);상기 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j) 로부터 상기 j번째 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j)를 제 1 항에 따른 수학식 1 및 2에 의하여 구하는 단계(d);상기 단계(c) 및 단계(d)를 모든 단위채널에 대하여 수행하는 단계(e); 및각각의 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j) 로부터 총괄흐름전위 SPov를 제 1 항에 따른 수학식 3에 의하여 산출하는 단계(f)를 구현하는 프로그램을 저장한 기록매체
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평행하지 않은 하전된 미세유동 또는 나노유동 채널상에서, 전해질 이온을 함유하는 유체가 흐를 때, 상기 채널의 임의의 지점에서 상기 유체의 속도분포를 산출하기 위한, 컴퓨터로 해독가능한 기록매체에 있어서,상기 채널을 복수 개의 평행한 단위채널로 분할하는 단계(a);채널의 두께 W, 상기 분할된 복수 개의 단위채널 중 채널 입구로부터 j번째 위치하는 단위채널의 폭의 절반값 H, 유체의 점도 μ, 전해질 이온의 원자가 z, 압력차이 Δp, 벽면 전위 Ψw, 전해질 이온의 농도 c, 및 전해질 이온의 이동도 m의 값을 입력하는 단계(b);상기 j번째 단위채널의 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j)를 제 4 항에 따른 수학식 4 내지 7에 의하여 구하는 단계(c);상기 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j) 로부터 상기 j번째 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j)를 제 1 항에 따른 수학식 1 및 2에 의하여 구하는 단계(d);상기 단계(c) 및 단계(d)를 모든 단위채널에 대하여 수행하는 단계(e);각각의 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j) 로부터 총괄흐름전위 SPov를 제 1 항에 따른 수학식 3에 의하여 산출하는 단계(f); 및상기 총괄흐름전위로부터 네이비어-스톡스 식에 의하여 상기 유체의 속도분포를 산출하는 단계(g)를 구현하는 프로그램을 저장한 기록매체
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평행하지 않은 하전된 미세유동 또는 나노유동 채널상에서, 전해질 이온을 함유하는 유체가 흐를 때, 상기 채널의 임의의 지점에서 상기 유체의 속도분포를 산출하기 위한, 컴퓨터로 해독가능한 기록매체에 있어서,상기 채널을 복수 개의 평행한 단위채널로 분할하는 단계(a);채널의 두께 W, 상기 분할된 복수 개의 단위채널 중 채널 입구로부터 j번째 위치하는 단위채널의 폭의 절반값 H, 유체의 점도 μ, 전해질 이온의 원자가 z, 압력차이 Δp, 벽면 전위 Ψw, 전해질 이온의 농도 c, 및 전해질 이온의 이동도 m의 값을 입력하는 단계(b);상기 j번째 단위채널의 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j)를 제 4 항에 따른 수학식 4 내지 7에 의하여 구하는 단계(c);상기 현상학적 계수 Ξ11(j), Ξ12(j), Ξ21(j) 및 Ξ22(j) 로부터 상기 j번째 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j)를 제 1 항에 따른 수학식 1 및 2에 의하여 구하는 단계(d);상기 단계(c) 및 단계(d)를 모든 단위채널에 대하여 수행하는 단계(e);각각의 단위채널의 흐름전위 SP(j) 및 유체정역학적 저항 R(j) 로부터 총괄흐름전위 SPov를 제 1 항에 따른 수학식 3에 의하여 산출하는 단계(f); 및상기 총괄흐름전위로부터 네이비어-스톡스 식에 의하여 상기 유체의 속도분포를 산출하는 단계(g)를 구현하는 프로그램을 저장한 기록매체
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