요약 | 본 발명은 박막 트랜지스터 제조 분야에 관한 것으로서, 증착 및 패터닝 공정을 통해 소스전극, 게이트전극 및 드레인전극을 동시에 형성하면서도 오프셋을 형성할 수 있게 되어, 제조공정에서 마스크의 수를 줄일 수 있는 효과를 거둘 수 있는 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조방법을 제공한다. |
---|---|
Int. CL | H01L 29/786 (2006.01) G02F 1/136 (2006.01) H01L 21/336 (2006.01) |
CPC | H01L 29/78621(2013.01) H01L 29/78621(2013.01) H01L 29/78621(2013.01) H01L 29/78621(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020110105114 (2011.10.14) |
출원인 | 경희대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1273671-0000 (2013.06.04) |
공개번호/일자 | 10-2013-0040386 (2013.04.24) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20130611) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2011.10.14) |
심사청구항수 | 11 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 경희대학교 산학협력단 | 대한민국 | 경기도 용인시 기흥구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 장진 | 대한민국 | 서울특별시 동대문구 |
2 | 강동한 | 대한민국 | 서울특별시 동대문구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 김희곤 | 대한민국 | 대전시 유성구 문지로 ***-*(문지동) *동(웰쳐국제특허법률사무소) |
2 | 김인한 | 대한민국 | 서울특별시 서초구 사임당로 **, **층 (서초동, 신영빌딩)(특허법인세원) |
3 | 박용순 | 대한민국 | 서울특별시 송파구 법원로*길 **, **층 D-****호(문정동)(주심국제특허법률사무소) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 경희대학교 산학협력단 | 경기도 용인시 기흥구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2011.10.14 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0803647-59 |
2 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2011.12.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0991137-95 |
3 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2012.10.23 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2012.11.15 | 수리 (Accepted) | 9-1-2012-0085001-21 |
5 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2012.11.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0727130-87 |
6 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2013.01.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0043644-76 |
7 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2013.01.16 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0043645-11 |
8 | 등록결정서 Decision to grant |
2013.05.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0365952-33 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.03.09 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5029677-09 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.19 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5164254-26 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 기판상에 산화물 반도체와 게이트 절연막을 순차 증착하는 증착단계; 상기 게이트 절연막을 패터닝하는 제1패터닝단계;상기 산화물 반도체를 패터닝하는 제2패터닝단계;상기 게이트 절연막 및 상기 산화물 반도체상에 게이트전극, 소스전극 및 드레인전극을 형성하는 전극형성단계; 를 포함하되,상기 전극형성단계는,상기 게이트전극과 상기 소스전극 사이 및 상기 게이트전극과 상기 드레인전극 사이에 오프셋을 형성하는 것을 포함하여 이루어지는 산화물 반도체 박막 트랜랜지스터 제조 방법 |
2 |
2 청구항 1에 있어서,상기 전극형성단계는,상기 게이트 절연막 및 상기 산화물 반도체상에 금속을 증착하는 단계;상기 증착된 금속을 패터닝하여 상기 게이트 전극, 상기 소스전극 및 상기 드레인 전극을 형성하는 단계; 를 포함하여 이루어지는 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조 방법 |
3 |
3 청구항 2에 있어서, 상기 오프셋의 길이는,1 |
4 |
4 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 전극형성단계 이후에,상기 게이트전극, 상기 소스전극 및 상기 드레인전극 상에 패시베이션 층을 형성하는 단계;상기 패시베이션 층에 컨택홀을 형성하여 상기 드레인전극을 노출시키는 단계; 및상기 컨택홀에 화소전극을 형성하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조방법 |
5 |
5 청구항 4에 있어서,상기 화소전극은,ITO(Indium Tin Oxide), TO(Tin Oxide) 및 ITZO(Indium Tin Zinc Oxide) 중 적어도 어느 하나를 포함하여 형성되는 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조방법 |
6 |
6 청구항 1 내지 3중 어느 한 항에 있어서,상기 증착단계 이전에,상기 기판상에 실리콘 산화 보호막을 증착하는 단계;를 더 포함하여 이루어지는 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조방법 |
7 |
7 청구항 1 내지 3중 어느 한 항에 있어서, 상기 게이트 절연막은,실리콘 산화막 또는 실리콘 질화막으로 형성된 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조 방법 |
8 |
8 청구항 4에 있어서, 상기 패시베이션 층은,실리콘 산화막 또는 실리콘 질화막으로 형성된 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조 방법 |
9 |
9 청구항 1 내지 3중 어느 한 항에 있어서, 상기 산화물 반도체는 비정질 인듐 갈륨 징크 옥사이드 (amorphous indium-gallium-zinc oxide, a-IGZO)로 형성된 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조 방법 |
10 |
10 기판상에 순차 증착된 산화물 반도체와 게이트 절연막, 패터닝된 게이트 절연막과 패터닝된 산화물 반도체 상에 형성되는 게이트전극, 소스전극 및 드레인전극을 포함하되, 상기 게이트전극과 상기 소스전극 사이 및 상기 게이트전극과 상기 드레인전극 사이에 오프셋이 형성되는 산화물 반도체 박막 트랜지스터를 포함하는 능동 구동 디스플레이 장치 |
11 |
11 기판상에 순차 증착된 산화물 반도체와 게이트 절연막, 패터닝된 게이트 절연막과 패터닝된 산화물 반도체 상에 형성되는 게이트전극, 소스전극 및 드레인전극을 포함하되, 상기 게이트전극과 상기 소스전극 사이 및 상기 게이트전극과 상기 드레인전극 사이에 오프셋이 형성되는 산화물 반도체 박막 트랜지스터를 포함하는 능동 구동 센서 장치 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 지식경제부 | 서울대학교 산학협력단 | 산업원천기술개발사업 | 고품위 plastic AMOLED 원천 기술 개발 |
특허 등록번호 | 10-1273671-0000 |
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표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20111014 출원 번호 : 1020110105114 공고 연월일 : 20130611 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20130528 청구범위의 항수 : 11 유별 : H01L 29/786 발명의 명칭 : 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조방법, 이에 따라 제조된 산화물 반도체 박막 트랜지스터를 포함하는 디스플레이 장치 및 능동구동센서 장치 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 경희대학교 산학협력단 경기도 용인시 기흥구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 237,000 원 | 2013년 06월 05일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 197,400 원 | 2016년 06월 07일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 197,400 원 | 2017년 03월 28일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 145,230 원 | 2018년 06월 08일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 259,000 원 | 2019년 04월 23일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 259,000 원 | 2020년 04월 01일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2011.10.14 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0803647-59 |
2 | [출원서등 보정]보정서 | 2011.12.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0991137-95 |
3 | 선행기술조사의뢰서 | 2012.10.23 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 | 2012.11.15 | 수리 (Accepted) | 9-1-2012-0085001-21 |
5 | 의견제출통지서 | 2012.11.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0727130-87 |
6 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2013.01.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0043644-76 |
7 | [명세서등 보정]보정서 | 2013.01.16 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0043645-11 |
8 | 등록결정서 | 2013.05.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0365952-33 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.03.09 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5029677-09 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.19 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5164254-26 |
기술번호 | KST2014059368 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 경희대학교 국제캠퍼스 |
기술명 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조방법, 이에 따라 제조된 산화물 반도체 박막 트랜지스터를 포함하는 디스플레이 장치 및 능동구동센서 장치 |
기술개요 |
본 발명은 박막 트랜지스터 제조 분야에 관한 것으로서, 증착 및 패터닝 공정을 통해 소스전극, 게이트전극 및 드레인전극을 동시에 형성하면서도 오프셋을 형성할 수 있게 되어, 제조공정에서 마스크의 수를 줄일 수 있는 효과를 거둘 수 있는 산화물 반도체 박막 트랜지스터 제조방법을 제공한다. |
개발상태 | 기술개발완료 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 반도체 박막 제조 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매 |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1415131581 |
---|---|
세부과제번호 | 10035225 |
연구과제명 | 고품위 plastic AMOLED 원천 기술 개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201003~201502 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1415115392 |
---|---|
세부과제번호 | 10035225 |
연구과제명 | 고품위 plastic AMOLED 원천 기술 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 서울대학교산학협력단 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201003~201502 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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