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기판 상부에 게이트 전극을 형성하는 단계;상기 게이트 전극 상부에 게이트 절연막을 형성하는 단계;상기 게이트 절연막 상부에 소스 전극 또는 드레인 전극을 형성하는 단계;상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 사이를 덮고, 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극의 일부를 덮도록 유기 반도체층을 형성하는 단계; 및상기 유기 반도체층 상에 40 mg/mL의 TIPS 펜타센(pentacene)과 10 mg/mL 의 폴리스티렌(PS)이 포함된 처리용액을 사용하여 잉크젯 프린팅(ink-jet printing) 방식으로 절연층을 형성하는 단계를 포함하고,상기 절연층은, 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극의 일부와 접촉되는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 절연층을 형성하는 단계는,상기 절연층의 두께를 0
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제 1 항에 있어서,상기 유기 반도체층을 형성하는 단계는,상기 유기 반도체층의 두께를 0
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제 1 항에 있어서,상기 기판은 실리콘 산화물 또는 실리콘 질화물을 포함하는 유리 기판인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 기판은 절연성 유기물을 포함하는 플라스틱 기판인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 8 항에 있어서,상기 절연성 유기물은 폴리에테르술폰, 폴리아크릴레이트, 폴리에테르 이미드, 폴리에틸렌 나프탈레이트, 폴리에틸렌 테레프탈레이트, 폴리페닐렌 설파이드, 폴리알릴레이트, 폴리이미드, 폴리카보네이트, 셀룰로오스 트리아세테이트, 셀룰로오스 아세테이트 프로피오네이트 중에서 선택한 1 종 이상인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 기판은 탄소, 철, 크롬, 망간, 니켈, 티타늄, 물리브덴
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제 1 항에 있어서,상기 게이트 전극은 Au, Ag, Cu, Ni, Pt, Pd, Al, Mo, Al-Nd 합금, Mo-W 합금 중에서 선택한 1 종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 게이트 절연막은 실리콘산화막, 실리콘질화막, 금속산화막, 폴리비닐페놀, 폴리아크릴 및 폴리실록산 중에서 선택한 1 종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 소스 또는 드레인 전극은 Au, Pd, Pt, Ni, Rh, Ru, Ir, Os, Al-Nd 합금, Mo-W 합금, ITO, IZO, NiO, Ag2O, In2o3-Ag2O, CuAlO2, SrCu2O2 및 Zr으로 도핑된 ZnO 중에서 선택한 1 종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 유기 반도체층은 TIPS 펜타센(pentacene)을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 유기 반도체층은 다결정질 구조인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 프린팅 방식은 잉크젯 방식, 오프셋 방식, 스크린 프린팅 및 이들 프린팅의 혼용한 방법인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법
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기판 상부에 형성되는 게이트 전극;상기 게이트 전극 상부에 형성되는 게이트 절연막;상기 게이트 절연막 상부에 형성되는 소스 전극 및 드레인 전극;상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 사이를 덮고, 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극의 일부를 덮도록 형성되는 유기 반도체층; 및상기 유기 반도체층 상에 형성되되, 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극의 일부와 접촉되도록 형성되는 절연층을 포함하되,상기 절연층은, 상기 유기 반도체층 상에 40 mg/mL의 TIPS 펜타센과 10 mg/mL 의 폴리스티렌이 포함된 처리용액을 사용하여 잉크젯 프린팅 방식으로 형성되는, 박막 트랜지스터
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