요약 | 본 발명은 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 및 그 제조방법에 관한 것으로, 기판 상에 형성된 유기물 반도체 소자를 보호하기 위해 전체 상부면에 접착층 및 유기물과 무기물을 갖는 복합막을 포함하는 엔캡슐레이션 박막을 형성함으로써, 유기물 반도체 소자의 활성층 열화 원인인 수분 및 산소를 차단할 뿐만 아니라 소자의 수명을 연장시킬 수 있는 효과가 있다. 유기 박막 트랜지스터(OTFT), 엡캡슐레이션 박막, 고분자막, 무기막, 유기-무기 복합막 |
---|---|
Int. CL | H01L 29/786 (2006.01) |
CPC | H01L 51/0545(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020040017235 (2004.03.15) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0584721-0000 (2006.05.23) |
공개번호/일자 | 10-2005-0065245 (2005.06.29) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20060530) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 |
대한민국 | 1020030096028 | 2003.12.24
|
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2004.03.15) |
심사청구항수 | 18 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국전자통신연구원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 김기현 | 대한민국 | 대전광역시서구 |
2 | 이정헌 | 대한민국 | 서울특별시동대문구 |
3 | 김성현 | 대한민국 | 대전광역시유성구 |
4 | 양용석 | 대한민국 | 대전광역시유성구 |
5 | 도이미 | 대한민국 | 대전광역시유성구 |
6 | 윤성민 | 대한민국 | 대전광역시서구 |
7 | 서경수 | 대한민국 | 대전광역시유성구 |
8 | 장진 | 대한민국 | 서울특별시동대문구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 신영무 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국전자통신연구원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | 특허출원서 Patent Application |
2004.03.15 | 수리 (Accepted) | 1-1-2004-0105213-33 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2005.09.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2005.10.19 | 수리 (Accepted) | 9-1-2005-0068962-97 |
4 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2005.11.18 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2005-0585722-77 |
5 | 명세서등보정서 Amendment to Description, etc. |
2006.01.18 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2006-0035509-46 |
6 | 의견서 Written Opinion |
2006.01.18 | 수리 (Accepted) | 1-1-2006-0035513-29 |
7 | 등록결정서 Decision to grant |
2006.05.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2006-0289175-71 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2009.08.04 | 수리 (Accepted) | 4-1-2009-5150899-36 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.02.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-0006137-44 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 유기물 반도체 소자에 있어서,상기 유기물 반도체 소자의 전체 상부면에 형성된 접착층과,상기 접착층의 전체 상부면에 형성된 유기물과 무기물을 포함하는 복합막을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
2 |
2 제 1항에 있어서, 상기 복합막은 적어도 하나의 무기막과 적어도 하나의 고분자막이 접착층에 의해 부착된 상태로 적층되어 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
3 |
3 제 2항에 있어서, 상기 복합막은 고분자막 및 무기막이 순차적으로 적층된 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
4 |
4 제 2항에 있어서, 상기 복합막은 제 1고분자막, 무기막 및 제 2고분자막이 순차적으로 적층된 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
5 |
5 제 2항에 있어서, 상기 복합막은 제 1고분자막, 제 2고분자막, 무기막 및 제 3고분자막이 순차적으로 적층된 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
6 |
6 제 2항에 있어서, 상기 복합막은 제 1고분자막, 제 1무기막, 제 2고분자막, 제 2무기막 및 제 3고분자막이 순차적으로 적층된 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
7 |
7 제 2항에 있어서, 상기 복합막은 제 1고분자막, 제 2고분자막, 무기막, 제 3고분자막 및 제 4고분자막이 순차적으로 적층된 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
8 |
8 제 2항에 있어서, 상기 복합막은 제 1고분자막, 제 1무기막, 제 2고분자막, 제 2무기막, 제 3고분자막 및 제 4고분자막이 순차적으로 적층된 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
9 |
9 제 2항에 있어서, 상기 무기막은 알루미늄(Al), 주석 및 아연 들 중 어느 하나 또는 이들 중 적어도 하나를 기본으로 하는 합금막으로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
10 |
10 제 2항에 있어서, 상기 고분자막은 저밀도 폴리에틸렌(low density polyethylene), 초저밀도 폴리에틸렌(LLDPE), 고밀도 폴리에틸렌(high density polyethylene), 폴리프로필렌(polypropylene), 나일론 6(nylon 6), 나일론 66(nylon 66), 나일론 6/9(nylon 6/9), 나일론 6/10(nylon 6/10), 나일론 6/12(nylon 6/12), 나일론 11, 나일론 12, 폴리스타이렌(polystyrene), 폴리에틸렌 테레프탈레이트(polyethylene terephthalate), 폴리카보네이트(polycarbonate), 셀룰로스 아세테이트(cellulose acetate), 폴리비닐 클로라이드(polyvinyl chloride), 폴리비닐리덴 클로라이드(polyvinylidene chloride), 폴리부틸 테레프탈레이트(polybutyl terephthalate) 및 폴리(메트)아크릴레이트(poly(meth)acrylate) 들 중 어느 하나 또는 이들의 조합으로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
11 |
11 제 2항에 있어서, 상기 복합막과 상기 접착층 사이에는 흡습층을 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
12 |
12 제 11항에 있어서, 상기 흡습층은 칼슘(Calcium), 실리카겔(Silica gel), 제오라이트(Zeolite) 및 알칼리(Alkali) 금속들 중 적어도 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
13 |
13 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 접착층은 에폭시 베이스드 수지(epoxy based resin) 또는 아크릴 베이스드 수지(acrylate based resin)로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 |
14 |
14 유기물 반도체 소자에 제조방법에 있어서,(a) 기판 상에 유기물 반도체 소자를 형성하는 단계;(b) 상기 유기물 반도체 소자의 전체 상부면에 접착층을 형성하는 단계; 및(c) 상기 접착층의 전체 상부면에 유기물과 무기물을 포함하는 복합막을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막의 제조방법 |
15 |
15 제 14항에 있어서, 상기 단계(c)에서 상기 복합막은 필름 형태로 가공하여 형성하는 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막의 제조방법 |
16 |
16 제 14항에 있어서, 상기 단계(c)에서 상기 복합막의 형성 시, 판형상의 무기막 상에 고분자를 용융 접착하여 고분자막으로 형성하는 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막의 제조방법 |
17 |
17 제 14항에 있어서, 상기 단계(c)에서 상기 복합막의 형성 시, 적어도 하나의 무기막 및 적어도 하나의 고분자막을 접착층에 의해 부착하여 적층시키는 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막의 제조방법 |
18 |
18 제 17항에 있어서, 상기 복합막과 상기 접착층 사이에 흡습층을 형성하는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막의 제조방법 |
19 |
18 제 17항에 있어서, 상기 복합막과 상기 접착층 사이에 흡습층을 형성하는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막의 제조방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
패밀리정보가 없습니다 |
---|
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
특허 등록번호 | 10-0584721-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
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1 |
출원 연월일 : 20040315 출원 번호 : 1020040017235 공고 연월일 : 20060530 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20060522 청구범위의 항수 : 6 유별 : H01L 29/786 발명의 명칭 : 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 및 그 제조방법 존속기간(예정)만료일 : 20160524 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 526,500 원 | 2006년 05월 24일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 436,000 원 | 2009년 05월 04일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 436,000 원 | 2010년 04월 30일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 436,000 원 | 2011년 05월 11일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 784,000 원 | 2012년 05월 09일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 328,000 원 | 2013년 04월 24일 | 납입 |
제 9 년분 | 금 액 | 328,000 원 | 2014년 04월 30일 | 납입 |
제 10 년분 | 금 액 | 570,000 원 | 2015년 04월 27일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | 특허출원서 | 2004.03.15 | 수리 (Accepted) | 1-1-2004-0105213-33 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2005.09.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2005.10.19 | 수리 (Accepted) | 9-1-2005-0068962-97 |
4 | 의견제출통지서 | 2005.11.18 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2005-0585722-77 |
5 | 명세서등보정서 | 2006.01.18 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2006-0035509-46 |
6 | 의견서 | 2006.01.18 | 수리 (Accepted) | 1-1-2006-0035513-29 |
7 | 등록결정서 | 2006.05.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2006-0289175-71 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2009.08.04 | 수리 (Accepted) | 4-1-2009-5150899-36 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.02.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-0006137-44 |
기술번호 | KST2015031201 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 한국전자통신연구원 |
기술명 | 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 및 그 제조방법 |
기술개요 |
본 발명은 유기물 반도체 소자의 엔캡슐레이션 박막 및 그 제조방법에 관한 것으로, 기판 상에 형성된 유기물 반도체 소자를 보호하기 위해 전체 상부면에 접착층 및 유기물과 무기물을 갖는 복합막을 포함하는 엔캡슐레이션 박막을 형성함으로써, 유기물 반도체 소자의 활성층 열화 원인인 수분 및 산소를 차단할 뿐만 아니라 소자의 수명을 연장시킬 수 있는 효과가 있다. 유기 박막 트랜지스터(OTFT), 엡캡슐레이션 박막, 고분자막, 무기막, 유기-무기 복합막 |
개발상태 | |
기술의 우수성 | |
응용분야 | |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1440000490 |
---|---|
세부과제번호 | iitaA1-03-0036-00 |
연구과제명 | 차세대디스플레이기술개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 지식경제부 |
연구주관기관명 | 한국전자통신연구원 |
성과제출연도 | 2003 |
연구기간 | 200302~200601 |
기여율 | 0.5 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1440001097 |
---|---|
세부과제번호 | 2004-S-086 |
연구과제명 | 플렉서블디스플레이 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 정보통신연구진흥원 |
연구주관기관명 | 한국전자통신연구원 |
성과제출연도 | 2005 |
연구기간 | 200302~200801 |
기여율 | 0.5 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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