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모스전계효과트랜지스터의게이트절연막형성방법

  • 기술번호 : KST2015074473
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 제조 공정에 있어서 초곡집적회로(ULSI)에 사용되는 MOSFET의 게이트 절연막을 형성하는 방법에 관한 것으로서, 특징 종래의 방법에 비해 낮은 온도와 짧은 시간에 게이트 절연막을 형성시켜 짧은-채널 효과(short-channel effect)를 줄이고, 성장된 절연막과 기판의 계면에 소정의 불순물을 주입시켜 절연막의 신뢰성을 개선시킬 수 있는 게이트 절연막 형성방법에 관한 것이다.본 발명은 2기압 내지 100기압의 산소 분위기에서 열전기로 또는 급속 열처리장치를 이용하여 산화막을 성장시키고 성장된 산화막을 1기압 또는 2기압 내지 100기압의 N2O 분위기에서 열처리 공정을 수행함으로써, 게이트 절연막의 신뢰성을 최대로 확보하면서 공정온도를 낮추고 고정시간을 단축시키는 것이다.또한, 게이트 절연막과 기판과 계면에 질소를 효과적으로 주입하려 p+ 다결정실리콘에 의한 게이트 형성시 불순물인 붕소가 채널영역으로 주입되는 것을 억제시킨다.
Int. CL H01L 29/78 (2006.01) H01L 21/336 (2006.01)
CPC H01L 21/823462(2013.01)
출원번호/일자 1019940030616 (1994.11.21)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0148034-0000 (1998.05.21)
공개번호/일자 10-1996-0019609 (1996.06.17) 문서열기
공고번호/일자 (19981102) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.11.21)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 노태문 대한민국 대전직할시유성구
2 이대우 대한민국 대전직할시유성구
3 김광수 대한민국 대전직할시유성구
4 강진영 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전직할시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.11.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0138198-38
2 출원심사청구서
Request for Examination
1994.11.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0138199-84
3 특허출원서
Patent Application
1994.11.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0138197-93
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.04 수리 (Accepted) 1-1-1994-0138200-43
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.20 수리 (Accepted) 1-1-1994-0138201-99
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1998.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0077202-63
7 의견서
Written Opinion
1998.02.26 수리 (Accepted) 1-1-1994-0138202-34
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1998.02.26 수리 (Accepted) 1-1-1994-0138203-80
9 등록사정서
Decision to grant
1998.05.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0077203-19
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

초고집적회로에 사용되는 모스전계효과 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 2기압 내지 100기압의 O2 가스 분위기 하에서 열전기로를 사용하여 산화막을 성장시키는 열산화 공정과, 1기압의 N2O 가스 분위기 하에서의 급속열처리 방법(Rapid Thermal Annealing)을 이용한 열처리 공정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 게이트 절연막의 형성방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 열처리 공정이 2기압 내지 100기압의 N2O 가스 분위기 하에서의 열전기로를 이용한 것을 특징으로 하는 계이트 절연막의 형성방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 열산화 공정이 급속열처리 방법을 이용한 것을 특징으로 하는 게이트 절연막의 형성방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 열처리 고정이 질소를 함유한 가스 대신에 불소(F), 탄소(C) 및 염소(Cl)중의 어느 하나가 포함되어 있고, 수소(H)가 포함되지 않는 가스를 사용하는 것을 특징으로 하는 게이트 절연막의 형성방법

5 5

초고집적회로에 사용되는 모스 전계효과 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 2기압 내지 100기압의 O2 및 N2O 가 혼합된 혼합가스 분위기 하에 열전기로를 사용하여 산화막을 성장시키는 열산화 공정과, 1기압의 N2 또는 O2 가스 분위기 하에서의 급속열처리 방법을 이용한 열처리 공정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 게이트 절연막의 형성방법

6 6

제5항에 있어서, 상기 열처리 공정이 2기압 내지 100기압에서 열전기로를 사용하는 것을 특징으로 하는 게이트 절연막의 형성방법

7 7

제5항에 있어서, 상기 열처리 공정이 질소를 함유한 가스 대신에 불소(F), 탄소(C) 및 염소(C)중의 어느 하나가 포함되어 있고, 수소(H)가 포함되지 않는 가스를 사용하는 것을 특징으로 하는 게이트 절연막의 형성방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.