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저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 장치 및 그방법

  • 기술번호 : KST2015083707
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드 갱신에 있어서, 입력 비트의 첫 번째 최소값 및 두 번째 최소값을 각 비트별로 산출하고 산출된 첫 번째 최소값 또는 두 번째 최소값을 이용하여 검사노드의 각 차수에 해당하는 최소값을 결정함으로써, 검사노드를 갱신하는 과정을 효율적으로 수행할 수 있게 하는, 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 장치 및 그 방법을 제공하고자 한다. 이를 위하여, 본 발명은 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 장치에 있어서, 입력 비트의 첫 번째 최소값을 각 비트별로 산출하고, 상기 산출된 첫 번째 최소값을 이용하여 두 번째 최소값을 함께 산출하기 위한 최소값 산출 수단; 상기 산출된 첫 번째 및 두 번째 최소값을 검사노드별로 행분해하여 노드별 첫 번째 및 두 번째 최소값을 산출하기 위한 노드 최소값 산출 수단; 및 상기 산출된 노드별 첫 번째 및 두 번째 최소값 중 어느 하나의 최소값을 상기 입력 비트의 각 차수에 해당하는 최소값으로 결정하기 위한 최소값 결정 수단을 포함한다. 입력 비트, 첫 번째 최소값, 두 번째 최소값, 검사노드 갱신, 행분해, 저밀도 패리티 검사 부호
Int. CL H03M 13/11 (2006.01) H04L 1/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070133822 (2007.12.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-1065480-0000 (2011.09.08)
공개번호/일자 10-2009-0066336 (2009.06.24) 문서열기
공고번호/일자 (20110919) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.12.19)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오종의 대한민국 대전 유성구
2 정민호 대한민국 대전 유성구
3 이일구 대한민국 서울 동대문구
4 이석규 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2007.12.19 수리 (Accepted) 1-1-2007-0912470-71
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2009.02.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2009.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2009-0013750-96
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2009.05.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0226451-72
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2009.07.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0463175-76
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2009.07.28 수리 (Accepted) 1-1-2009-0463177-67
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
8 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal		 2009.12.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0531372-39
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0118467-13
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.03.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0182470-96
11 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2010-0258998-95
12 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.05.20 무효 (Invalidation) 1-1-2010-0325268-34
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2010.05.24 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2010-0329136-10
14 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2010.05.24 수리 (Accepted) 1-1-2010-0329137-55
15 보정요구서
Request for Amendment		 2010.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0048307-45
16 무효처분통지서
Notice for Disposition of Invalidation		 2010.06.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0058037-02
17 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal		 2010.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0431860-10
18 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.11.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0775993-05
19 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2010-0866896-86
20 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2011.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0072286-23
21 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0146744-02
22 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.02.28 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2011-0146743-56
23 등록결정서
Decision to grant		 2011.08.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0493953-23
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
저밀도 패리티 검사 부호를 Min-Sum 방식을 이용하여 복호하기 위한 검사노드 갱신 장치에 있어서, 미리 결정된 비트의 수를 갖는 복수의 입력 메시지들을 최상위 비트(MSB)부터 최하위 비트(LSB)까지 입력받아 각 입력 메시지들을 첫 번째 비트부터 마지막 비트까지 순차적으로 비교하여 최소값 후보군에서 제외함으로써 첫 번째 최소값을 산출하는 첫 번째 최소값 산출수단; 상기 복수의 입력 메시지들 중 상기 첫 번째 최소값을 제외한 메시지들의 최상위 비트부터 최하위 비트까지 순차적으로 입력받아 상기 각 메시지들의 최상위 비트 값의 합을 미리 결정된 값과 비교하여 미리 결정된 값과 같은 경우 두 번째 최소값을 결정하고, 다른 경우 첫 번째 최소값의 최상위 비트를 이용하여 산출하기 위한 두 번째 최소값 산출수단 을 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 행분해 옵션 적용 시 상기 메시지 값들을 미리 결정된 행분해 방식에 의거하여 2개의 행으로 행분해 하여 입력하며, 상기 첫 번째 최소값 산출수단과 상기 두 번째 최소값 산출수단은 상기 분해된 각 행에 대응하여 구비되고, 각 행에 대응하는 각각의 첫 번째 최소값 산출수단과 상기 두 번째 최소값 산출수단들은 각 행의 입력값에서 각각 첫 번째 최소값 및 두 번째 최소값을 계산함을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 장치
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 행분해 신호와 상기 분해된 각각의 상기 첫 번째 최소값 산출 수단들 및 두 번째 최소값 산출 수단들의 출력 값들을 수신하여 오프셋을 적용하여 상기 행 분해된 각 행별 첫 번째 최소값들 및 두 번째 최소값들을 출력하는 최소값 산출부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 장치
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 각 행별 첫 번째 최소값들 및 두 번째 최소값들을 수신하여 상기 검사 노드의 첫 번째 최소값 및 두 번째 최소값을 결정하는 최소값 결정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 장치
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
저밀도 패리티 검사 부호를 Min-Sum 방식을 이용하여 복호하기 위한 검사노드 갱신 방법에 있어서, 미리 결정된 비트의 수를 갖는 복수의 입력 메시지들을 최상위 비트(MSB)부터 최하위 비트(LSB)까지 입력받아 각 입력 메시지들을 첫 번째 비트부터 마지막 비트까지 순차적으로 비교하여 최소값 후보군에서 제외함으로써 첫 번째 최소값을 산출하는 첫 번째 최소값 산출 단계; 상기 복수의 입력 메시지들 중 상기 첫 번째 최소값을 제외한 메시지들의 최상위 비트부터 최하위 비트까지 순차적으로 입력받아 상기 각 메시지들의 최상위 비트 값의 합을 미리 결정된 값과 비교하여 미리 결정된 값과 같은 경우 두 번째 최소값을 결정하고, 다른 경우 첫 번째 최소값의 최상위 비트를 이용하여 산출하기 위한 두 번째 최소값 산출 단계 를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 방법
8 8
제 7 항에 있어서, 행분해 옵션 적용 시 상기 메시지 값들을 미리 결정된 행분해 방식에 의거하여 2개의 행으로 행분해 하는 행 분해 단계를 더 포함하고, 상기 분해 단계 이후에 상기 행 분해된 메시지들을 각각 상기 첫 번째 최소값 산출 단계 및 상기 두 번째 최소값 산출 단계에서 처리하도록 하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 행 분해되어 계산된 각각의 상기 첫 번째 최소값들 및 두 번째 최소값들에 오프셋을 적용하여 상기 행 분해된 각 행렬 첫 번째 최소값들 및 두 번째 최소값들을 출력하는 최소값 산출 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 방법
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 각 행별 첫 번째 최소값들 및 두 번째 최소값들을 수신하여 상기 검사 노드의 첫 번째 최소값 및 두 번째 최소값을 결정하는 최소값 결정 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 고속 검사노드 갱신 방법
11 11
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12 12
삭제
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1 US20090164540 US 미국 FAMILY

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1 정보통신부 및 정보통신연구진흥원 한국전자통신연구원 IT성장동력기술개발 3Gbps급 4G 무선 LAN 시스템 개발