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복수의 모델 검사기를 구비하는 모델 검사 장치 및 이를 이용한 모델 검사 방법

  • 기술번호 : KST2015090097
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 정형 명세(formal specification)로 작성된 모델을 다수의 모델 검사기를 사용하여 모델의 상태 공간을 검사할 수 있도록 하는 복수의 모델 검사기를 구비하는 모델 검사 장치 및 이를 이용한 모델 검사 방법에 관한 것이다. 이를 위해 본 발명에 따른 복수의 모델 검사기를 구비하는 모델 검사 장치는, 다중-레벨의 복합 모델 및 복합 모델에 대하여 검사하고자 하는 검증 속성을 입력받고, 입력된 복합 모델을 복수의 서브 모델로 분할하여 분할된 각 서브 모델을 검사할 수 있는 모델 검사기를 선택하는 모델 전처리부; 검사할 수 있는 모델 형식이 서로 상이한 복수의 모델 검사기를 구비하고, 복수의 모델 검사기의 각 모델 검사기는 모델 전처리부의 선택에 따라 검사할 수 있는 모델 형식의 서브 모델을 입력받아 검증 속성을 만족하는지 여부를 검사하는, 모델 검사부; 및 모델 검사부에 구비되는 복수의 모델 검사기로부터의 검사 결과를 출력하는 검사 결과 처리부를 포함한다.
Int. CL G06F 17/00 (2006.01) G06F 11/28 (2006.01)
CPC G06F 11/28(2013.01)
출원번호/일자 1020110135863 (2011.12.15)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0068578 (2013.06.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이해영 대한민국 서울특별시 금천구
2 전인걸 대한민국 서울특별시 구로구
3 김원태 대한민국 충청남도 아산시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.12.15 수리 (Accepted) 1-1-2011-0999846-23
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
다중-레벨의 복합 모델 및 상기 복합 모델에 대하여 검사하고자 하는 검증 속성을 입력받고, 입력된 상기 복합 모델을 복수의 서브 모델로 분할하여 분할된 각 서브 모델을 검사할 수 있는 모델 검사기를 선택하는 모델 전처리부;검사할 수 있는 모델 형식이 서로 상이한 복수의 모델 검사기를 구비하고, 상기 복수의 모델 검사기의 각 모델 검사기는 상기 모델 전처리부의 선택에 따라 검사할 수 있는 모델 형식의 서브 모델을 입력받아 상기 검증 속성을 만족하는지 여부를 검사하는, 모델 검사부; 및상기 모델 검사부에 구비되는 복수의 모델 검사기로부터의 검사 결과를 출력하는 검사 결과 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는, 복수의 모델 검사기를 구비하는 모델 검사 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국전자통신연구원 정보통신산업원천기술개발사업 고신뢰 자율제어 SW를 위한 CPS(Cyber Physical Systems) 핵심기술 개발