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서로 대향하는 상면 및 하면을 가지는 기판을 제공하는 것;상기 기판의 상면 상에 에피층을 형성하는 것; 상기 기판의 상면에 접촉하는 하부패드를 형성하는 것;상기 에피층 상에 제1 전극, 제2 전극, 및 제3 전극을 포함하는 반도체 칩을 형성하는 것; 상기 기판을 관통하는 하부 비아홀을 형성하여, 상기 하부패드를 노출시키는 것; 및상기 기판의 하면을 덮으며, 상기 하부 비아홀 내로 연장되어 상기 하부패드와 접하는 하부 금속막을 형성하는 것을 포함하되, 상기 하부패드를 형성하는 것은: 상기 에피층을 제거하여 상기 기판의 상면을 노출시키는 것; 및상기 노출된 상면 상에 하부패드를 형성하는 것을 포함하고, 상기 하부패드는 상기 기판 및 상기 제2 전극 사이에 개재되며, 상기 제2 전극과 수직적으로 중첩되는 반도체 장치 제조방법
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서로 대향하는 상면 및 하면을 가지는 기판을 제공하는 것;상기 기판의 상면 상에 개구부를 가지는 에피층을 형성하는 것; 상기 에피층의 상기 개구부 내에 상기 기판의 상면에 접촉하는 하부패드를 형성하는 것;상기 에피층 상에 제1 전극, 제2 전극, 및 제3 전극을 포함하는 반도체 칩을 형성하는 것; 상기 반도체 칩 상에 상기 제1 전극을 노출시키는 절연막을 형성하는 것; 상기 절연막을 덮으며, 상기 제1 전극과 접하는 상부 금속막을 형성하는 것; 상기 상부 금속막 상에 상부 비아홀을 가지는 지지기판을 형성하는 것; 상기 지지기판 상에 상기 상부 비아홀 내로 연장된 상부 패드를 형성하는 것; 상기 기판을 관통하는 하부 비아홀을 형성하여, 상기 하부패드를 노출시키는 것; 및상기 기판의 하면을 덮으며, 상기 하부 비아홀 내로 연장되어 상기 하부패드와 접하는 하부 금속막을 형성하는 것을 포함하되, 상기 상부 패드는 상기 상부 금속막을 통하여 상기 제1 전극과 연결되는 반도체 장치 제조방법
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제 1항에 있어서, 상기 하부 비아홀을 형성하는 것은: 상기 기판의 하면을 연마하는 것; 및상기 기판의 하면을 식각하여 상기 하부 패드를 노출시키는 것 포함하는 반도체 장치 제조방법
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제 1항에 있어서, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 중에서 어느 하나는 소스 전극이고, 다른 하나는 드레인 전극이며, 상기 제3 전극은 게이트 전극인 반도체 장치 제조방법
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제 1항에 있어서, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 중에서 어느 하나는 에미터 전극이고, 다른 하나는 컬렉터 전극이며, 상기 제3 전극은 베이스 전극인 반도체 장치 제조방법
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7
서로 대향되는 상면 및 하면을 가지고, 그 내부를 관통하는 하부 비아홀을 가지는 기판; 상기 기판의 상면에 배치되며, 개구부를 가지는 에피층;상기 개구부 내에 배치된 하부 패드; 상기 에피층 상에 제공되며, 제1 전극, 제2 전극, 및 제3 전극을 포함하는 반도체 칩; 및상기 기판의 하면을 덮으며, 상기 하부 비아홀을 통해 상기 하부 패드와 연결된 하부 금속막을 포함하되, 상기 개구부는 상기 기판의 상면을 노출시키고, 상기 하부 패드는: 상기 제2 전극과 접하는 제1 면;상기 제1 면과 대향하는 제2 면; 및그리고 상기 제1 면과 상기 제2 면을 잇는 측면을 포함하고, 상기 측면은 상기 에피층에 접하는 반도체 장치
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제 7항에 있어서, 상기 반도체 칩 상에 제공되어, 상기 제1 전극을 노출시키는 절연막; 상기 절연막을 덮으며, 상기 제1 전극과 연결된 상부 금속막;상기 상부 금속막 상에 배치되고, 상부 비아홀을 가지는 지지기판; 및상기 지지기판 상에 배치되어, 상기 상부 비아홀 내로 연장된 상부 패드를 더 포함하되, 상기 상부 비아홀은 상기 상부 금속막을 노출시키는 반도체 장치
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10
제 7항에 있어서, 상기 제1 전극은 드레인 전극이고,상기 제2 전극은 소스 전극이고, 상기 제3 전극은 게이트 전극인 반도체 장치
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11
서로 대향되는 상면 및 하면을 가지는 기판; 상기 기판의 상면 상에 제공되어, 제1 전극, 제2 전극, 및 제3 전극을 포함하는 반도체칩; 상기 반도체 칩 상에 제공되고, 상기 제1 전극과 전기적으로 연결된 상부 금속막;상기 상부 금속막 상에 배치된 지지기판;상기 지지기판 상에 배치되어, 상기 상부 금속막과 전기적으로 연결되는 상부 패드; 상기 기판 및 상기 제2 전극 사이에 개재된 하부패드; 및상기 기판의 하면을 덮는 하부 금속막을 포함하되, 상기 기판은 상기 하부 패드를 노출시키는 하부 비아홀을 가지고, 상기 하부 금속막은 상기 하부 비아홀 내로 연장되어, 상기 하부 패드와 접촉하는 반도체 장치
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제 11항에 있어서, 상기 기판의 상면 상에 차례로 적층된 버퍼층 및 채널층을 더 포함하는 반도체 장치
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제 12항에 있어서, 상기 하부패드는상기 제2 전극과 접하는 제1 면;상기 제1 면과 이격되며, 상기 기판의 상면과 접하는 제2 면; 및상기 제1 면 및 제2 면을 잇는 측면을 포함하되, 상기 측면은 상기 버퍼층 및 상기 채널층에 접하는 반도체 장치
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제 11항에 있어서, 상기 상부 금속막은: 상기 제1 전극과 접하는 제1 상부금속막 및 상기 제2 전극과 접하는 제2 상부금속막을 포함하고, 상기 제1 상부 금속막은 상기 제2 상부금속막과 이격배치된 반도체 장치
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제 11항에 있어서, 상기 상부패드는 상기 제1 전극과 수직적으로 이격된 반도체 장치
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제 11항에 있어서, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 중에서 어느 하나는 소스 전극이고, 다른 하나는 드레인 전극이고, 상기 제3 전극은 게이트 전극인 반도체 장치
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제 11항에 있어서,상기 기판은 10 내지 100μm의 두께를 가지는 반도체 장치
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