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박막 스트레스 측정장치 및 이를 위한 프로브의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015111638
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 박막 스트레스 측정장치 및 이에 사용되는 광섬유다발 프로브의 제작방법에 대해 개시하고 있다. 본 발명의 박막 스트레스 측정장치는, 광원부, 광원에서 나온 광을 기판의 이면에 반사시켜 반사된 광을 광 검출기에 입사시키는 센서부, 광 검출기, 검출된 광의 세기를 증폭하여 처리하는 부분으로 구성된다. 센서부분은 광섬유다발 프로브로서, 이는 복수의 입사용 광섬유 가닥들과, 입사용 광섬유 가닥들의 각각의 주위에 대칭적으로 분포하게 위치한 복수의 수신용 광섬유 가닥들과, 이들을 내부에 삽입하여 집적시키기 위한 모세관으로 이루어진다. 이러한 광섬유 가닥들을 배치함에 있어서, 가장 좋은 감도를 갖도록 실제 실험결과와 일치하는 전산시늉 프로그램을 사용할 수 있다. 본 발명에 따르면, 박막 형성시 필연적으로 발생하는 스트레스를 실시간, 초고감도로 측정할 수 있다.프로브, 스트레스, 광섬유, 박막
Int. CL G01L 1/24 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019990001423 (1999.01.19)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-0279017-0000 (2000.10.26)
공개번호/일자 10-2000-0051142 (2000.08.16) 문서열기
공고번호/일자 (20010115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1999.01.19)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영석 대한민국 서울특별시서초구
2 정종률 대한민국 경기도수원시권선구
3 신성철 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 허진석 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로***, **,**층(역삼동, 동희빌딩)(특허법인아주김장리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원서
Patent Application
1999.01.19 수리 (Accepted) 1-1-1999-0003019-36
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.02.06 수리 (Accepted) 4-1-1999-0030399-30
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.06.21 수리 (Accepted) 4-1-1999-0085486-82
4 등록사정서
Decision to grant
2000.10.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0270180-48
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2004-0001933-29
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.03.19 수리 (Accepted) 4-1-2004-0012166-74
7 출원인정보변경(경정)신고서
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2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
8 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
9 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
10 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
11 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
12 출원인정보변경(경정)신고서
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2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
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번호 청구항
1 1

광원과;

박막이 형성되는 기판의 이면에 상기 광원으로부터 나온 광을 입사시키기 위한 복수의 입사용 광섬유 가닥들과, 상기 기판의 이면에서 반사된 광을 수신하도록 상기 입사용 광섬유 가닥들의 각각의 주위에 대칭적으로 분포하게 위치한 복수의 수신용 광섬유 가닥들과, 상기 입사 및 수신용 광섬유 가닥들의 일부를 내부에 삽입하여 집적시키기 위한 모세관을 포함하는 광섬유 다발 프로브와;

박막이 형성됨에 따라 상기 기판에 휨이 발생하도록 상기 기판의 일측단만을 고정하는 기판 홀더와;

상기 기판의 이면과 프로브 사이의 거리를 조절하기 위한 수단과;

상기 수신용 광섬유에서 나오는 광을 전기신호로 변환하는 광 검출수단을 구비하는 박막 스트레스 측정장치

2 2

제1항에 있어서, 상기 입사 및 수신용 광섬유 가닥들의 각각이 전단응력에 의한 손상을 받지 않도록 에폭시에 의해 그 측면이 피복된 것을 특징으로 하는 박막 스트레스 측정장치

3 3

제1항에 있어서, 상기 광원이 할로겐 램프인 것을 특징으로 하는 박막 스트레스 측정장치

4 4

제1항에 있어서, 상기 거리 조절수단이 미세 마이크로미터가 부착된 이동계인 것을 특징으로 하는 박막 스트레스 측정장치

5 5

제1항에 있어서, 상기 변환된 전기신호를 증폭하는 수단과;

상기 증폭된 전기신호에서 직류신호만을 받고 잡음을 제거하기 위한 저역 통과 필터수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 스트레스 측정장치

6 6

제1항에 있어서, 진공챔버 내에서 형성되는 박막에 적용하기 위해, 상기 진공챔버 내부의 기밀을 유지한 상태에서 상기 입사용 및 수신용 광섬유 가닥들을 그 내부로 인입하기 위한 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 스트레스 측정장치

7 7

박막이 형성되는 기판의 이면에 광을 입사시키기 위한 복수의 입사용 광섬유 가닥들과, 상기 기판의 이면에서 반사된 광을 수신하기 위한 복수의 수신용 광섬유 가닥들의 측면을 각각 에폭시로 피복하는 단계와;

상기 입사용 및 수신용 광섬유 가닥들을 모세관 내부에 삽입하여 집적하는 단계와;

상기 입사용 및 수신용 광섬유 가닥들의 단부를 연마하는 단계를 구비하는 박막 스트레스 측정장치용 프로브의 제조방법

8 8

제7항에 있어서, 상기 광섬유 가닥들을 집적하는 단계에서 각각의 광섬유 가닥의 고정위치를 결정하는 방법이:

상기 입사용 및 수신용 광섬유 가닥들의 배치형태를 2차원 무작위 구조로 변화시키는 단계와;

상기 기판의 이면과 프로브 사이의 간격을 변화시켜 가며, 상기 입사용 광섬유 가닥들에 광을 도입하여 기판의 이면에서 반사시키는 단계와;

상기 수신용 광섬유 가닥들을 통해 상기 반사광을 수신하는 단계와;

상기 수신된 광을 검출하는 단계와;

상기 기판의 이면과 프로브 사이의 간격 변화에 따른 검출광의 세기변화를 가장 크게 만드는 입사용 및 수신용 광섬유 가닥들의 위치를 선택하는 단계를 통하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막 스트레스 측정장치용 프로브의 제조방법

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1 US6476906 US 미국 DOCDBFAMILY
2 WO2004074801 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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