맞춤기술찾기

이전대상기술

표면 접촉각 측정 시스템 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015114093
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 표면 접촉각 측정 시스템은 복수개의 액적을 시료 표면에 적하하는 다중 적하기, 상기 시료 표면에 적하된 복수개의 액적의 평면 이미지을 촬상하는 촬상 장치, 그리고, 상기 액적의 평면 이미지를 이용하여 상기 액적의 표면 접촉각을 도출하는 분석 장치를 포함할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 표면 접촉각 측정 시스템 및 그 방법은 다중 적하기를 이용하여 시료의 소정 영역내에 동시에 복수개의 액적을 적하함으로써 액적의 표면 접촉각을 정확하게 도출할 수 있다.
Int. CL G06T 7/60 (2006.01) G01B 11/26 (2006.01) G01N 13/00 (2006.01)
CPC G01B 11/26(2013.01) G01B 11/26(2013.01) G01B 11/26(2013.01) G01B 11/26(2013.01)
출원번호/일자 1020100041002 (2010.04.30)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0121414 (2011.11.07) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.04.30)
심사청구항수 6

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 강현욱 대한민국 대전광역시 유성구
2 성형진 대한민국 대전광역시 유성구
3 고승환 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 팬코리아특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 역삼***빌딩 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2010-0282869-11
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.06.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.07.14 수리 (Accepted) 9-1-2011-0059950-35
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.08.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0459533-74
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.09.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0735857-12
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.09.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0735855-10
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.03.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0191122-49
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수개의 액적을 시료 표면에 적하하는 다중 적하기,상기 시료 표면에 적하된 복수개의 액적의 평면 이미지을 촬상하는 촬상 장치, 그리고,상기 액적의 평면 이미지를 이용하여 상기 액적의 표면 접촉각을 도출하는 분석 장치를 포함하는 표면 접촉각 측정 시스템
2 2
제1항에서,상기 다중 적하기는 상기 복수개의 액적을 상기 시료 표면에 동시에 적하하는 표면 접촉각 측정 시스템
3 3
제2항에서,상기 다중 적하기는 멀티 피펫인 표면 접촉각 측정 시스템
4 4
제2항에서,상기 복수개의 액적의 부피는 서로 동일한 표면 접촉각 측정 시스템
5 5
제2항에서,상기 분석 장치는 상기 액적의 부피와 상기 액적의 평면 이미지를 이용하여 측정한 상기 액적의 직경을 이용하여 상기 액적의 표면 접촉각을 도출하는 표면 접촉각 측정 시스템
6 6
다중 적하기를 이용하여 복수개의 액적을 동시에 시료 표면에 적하하는 단계,촬상 장치를 이용하여 상기 시료 표면에 적하된 복수개의 액적의 평면 이미지을 촬상하는 단계,상기 액적의 평면 이미지를 이용하여 상기 액적의 표면 접촉각을 도출하는 단계를 포함하는 표면 접촉각 측정 방법
7 7
제6항에서,상기 복수개의 액적의 부피는 서로 동일한 표면 접촉각 측정 방법
8 8
제7항에서,상기 액적의 표면 접촉각을 도출하는 단계는 상기 액적의 평면 이미지를 이용하여 상기 액적의 직경을 측정하는 단계,상기 액적의 직경과 기설정된 상기 액적의 부피와의 관계를 이용하여 상기 액적의 높이를 도출하는 단계,상기 액적의 직경과 상기 액적의 높이를 이용하여 상기 액적의 표면 접촉각을 도출하는 단계를 포함하는 표면 접촉각 측정 방법
9 9
제8항에서,상기 액적의 직경은 상기 복수개의 액적의 직경의 평균값인 표면 접촉각 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.