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광 검출 소자 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015114809
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고집적화가 용이하면서 복잡한 주변 소자에 의한 신호 감쇠를 줄이는 동시에 각 화소 간 다이나믹 접근(dynamic access)을 달성하고, 또한, 균일도를 개선시켜 고정패턴잡음을 해결하는 한편, 극 저조도에서도 이미지(image)를 포착할 수 있는 고감도 광 검출 소자 및 그 제조방법을 제공하기 위한 것으로서, 이를 위해 본 발명은 소스 및 드레인과, 상기 소스 및 드레인 사이에 형성된 채널층과, 상기 채널층과 접하도록 형성된 광 흡수층을 포함하는 광 검출 소자를 제공한다.CCD, CIS, 광 검출 소자, 광 흡수층, 양자 막대, 나노선,
Int. CL H01L 31/10 (2006.01)
CPC H01L 31/10(2013.01) H01L 31/10(2013.01) H01L 31/10(2013.01) H01L 31/10(2013.01)
출원번호/일자 1020080014435 (2008.02.18)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1406911-0000 (2014.06.05)
공개번호/일자 10-2009-0075592 (2009.07.08) 문서열기
공고번호/일자 (20140616) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020080001072   |   2008.01.04
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.01.24)
심사청구항수 23

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최현환 대한민국 대전광역시 유성구
2 원용협 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.02.18 수리 (Accepted) 1-1-2008-0118857-68
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2009-5132002-09
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.07.07 수리 (Accepted) 1-1-2009-0414119-92
4 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2009.08.11 수리 (Accepted) 1-1-2009-5030812-57
5 보정요구서
Request for Amendment
2009.08.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0058345-35
6 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.08.28 수리 (Accepted) 1-1-2009-5033678-49
7 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2013.01.24 수리 (Accepted) 1-1-2013-0071635-66
8 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2013.01.24 수리 (Accepted) 1-1-2013-0071636-12
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
10 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.12.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
11 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.01.10 수리 (Accepted) 9-1-2014-0003523-11
12 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.03.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0190473-50
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.05.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0462659-56
14 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.05.16 수리 (Accepted) 1-1-2014-0462658-11
15 등록결정서
Decision to grant
2014.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0370952-96
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소스 및 드레인;상기 소스 및 드레인 사이에 형성된 채널층; 상기 채널층과 접하도록 형성된 광 흡수층; 및적어도 일부가 상기 광 흡수층에 매립되도록 형성된 제어전극을 포함하는 광 검출 소자
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 상기 제어전극에 의해 이분할된 광 검출 소자
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 상기 채널층과 나란한 방향으로 바(bar) 형태로 형성된 광 검출 소자
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 상기 채널층과 나란한 방향으로 서로 분할된 복수 개의 섬(island) 형태로 형성된 광 검출 소자
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 하나의 반도체 물질로 형성되거나, 복수 개의 반도체 물질이 적층된 다층 구조로 형성된 광 검출 소자
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 상기 제어전극과 접촉되는 부위가 다른 부위에 비해 더 높은 농도로 도핑된 광 검출 소자
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층을 둘러싸도록 형성된 전하 이탈 방지층을 더 포함하는 광 검출 소자
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 전하 이탈 방지층은 절연막으로 형성된 광 검출 소자
11 11
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 상기 채널층을 덮도록 형성된 광 검출 소자
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 채널층을 둘러싸도록 형성된 전하 이탈 방지층을 더 포함하는 광 검출 소자
13 13
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 반도체 물질로 형성된 광 검출 소자
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 제어전극은 금속물질로 형성된 광 검출 소자
15 15
제 1 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 상기 채널층과 서로 다른 밴드 갭 에너지를 갖는 물질로 형성된 광 검출 소자
16 16
소스 및 드레인;상기 소스 및 드레인 사이에 형성된 복수 개의 채널층;상기 채널층 사이에 형성된 복수 개의 광 흡수층;상기 광 흡수층 상부에 형성되거나 또는 적어도 일부가 상기 광 흡수층 내부에 매립되도록 형성된 복수 개의 제어전극;상기 복수 개의 제어전극과 공통으로 연결된 게이트 라인;상기 소스와 연결된 소스 라인; 및상기 드레인과 연결된 드레인 라인을 포함하는 광 검출 소자
17 17
제 16 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 상기 채널층과 나란한 방향으로 바 형태로 형성된 광 검출 소자
18 18
제 16 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 상기 채널층과 나란한 방향으로 복수 개로 분할된 섬 형태로 형성된 광 검출 소자
19 19
제 16 항에 있어서, 상기 광 흡수층을 둘러싸도록 형성된 전하 이탈 방지층을 더 포함하는 광 검출 소자
20 20
기판을 국부적으로 식각하여 채널층과 소스 및 드레인이 형성될 반도체층 패턴을 형성하는 단계;상기 반도체층 패턴의 양측벽에 전하 이탈 방지층을 형성하는 단계;상기 전하 이탈 방지층 사이가 매립되도록 광 흡수층을 형성하는 단계; 및상기 소스 및 드레인이 형성될 반도체층 패턴에 이온을 주입하여 소스 및 드레인을 형성하는 단계를 포함하는 광 검출 소자의 제조방법
21 21
제 20 항에 있어서, 상기 소스 및 드레인을 형성하는 단계 후, 상기 광 흡수층 상부에 제어전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 광 검출 소자의 제조방법
22 22
제 20 항에 있어서, 상기 소스 및 드레인을 형성하는 단계 후, 상기 광 흡수층에 적어도 일부가 매립되도록 제어전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 광 검출 소자의 제조방법
23 23
제 20 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 기판은 SOI(Silicon On Insulator) 기판 또는 벌크(bulk) 기판인 광 검출 소자의 제조방법
24 24
제 20 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광 흡수층은 반도체 물질로 형성하는 광 검출 소자의 제조방법
25 25
제 24 항에 있어서, 상기 제어전극은 금속물질로 형성하는 광 검출 소자의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.