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누설 전류를 억제하는 수단이 구비된 강유전체 메모리 소자 및 그 강유전체 메모리 소자의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015125605
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 강유전체 트랜지스터에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 강유전체 메모리 소자는 게이트 전극 기판과 강유전체층 사이에 개재되어 누설 전류를 감소시켜 상기 강유전체층의 강유전 특성을 향상시키는 역할을 하는 인터레이어(interlayer)가 개재되어 있는 것을 특징으로 한다.또한, 본 발명에 따른 강유전체 메모리 소자의 제조 방법은 게이트 전극 기판과 강유전체층 사이에 인터레이어(interlayer)를 형성하는 단계를 포함하여, 강유전체 트랜지스터에서 흔히 발생하는 누설 전류를 크게 감소시키고, 나아가 강유전체 특성을 향상시킬 수 있는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법을 제공하는 것을 기술적 목적으로 한다.
Int. CL H01L 27/115 (2006.01) H01L 21/8247 (2006.01)
CPC H01L 21/28291(2013.01) H01L 21/28291(2013.01) H01L 21/28291(2013.01)
출원번호/일자 1020100017853 (2010.02.26)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1148798-0000 (2012.05.16)
공개번호/일자 10-2011-0098297 (2011.09.01) 문서열기
공고번호/일자 (20120524) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.02.26)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박철민 대한민국 서울특별시 마포구
2 김은희 대한민국 서울특별시 구로구
3 장지연 대한민국 인천광역시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김승욱 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로 ***, ***호(서초동, 두산베어스텔)(아이피마스터특허법률사무소)
2 이채형 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 ** (대치동 동구빌딩 *층) Neo국제특허법률사무소

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0128200-20
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.03.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.04.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0034926-19
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0273324-21
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.07.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-0566026-78
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.08.23 수리 (Accepted) 1-1-2011-0652877-45
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2011-0741022-02
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.09.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0741024-93
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
10 등록결정서
Decision to grant
2012.02.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0106087-67
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
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번호 청구항
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게이트 전극 역할을 하는 기판과, 강유전체층과, 채널층과, 소스 및 드레인 전극을 포함하는 강유전체 메모리 소자에 있어서, 상기 게이트 전극 기판과 강유전체층 사이에 개재되어 누설 전류를 감소시켜 상기 강유전체층의 강유전 특성을 향상시키는 역할을 하는 인터레이어가 개재되어 있고, 상기 강유전체층은 P(VDF-TrEE) 고분자이며, 상기 인터레이어는 polymer brush type 유기 고분자, 전도성 고분자 type 유기 고분자, 액정성 고분자 type 유기 고분자 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자
5 5
청구항 4에 있어서, 상기 인터레이어는 polymer brush type의 PMMA 유기 고분자, 전도성 고분자 type의 PEDOT:PSS 유기 고분자 또는 액정성 고분자 type의 DLC-BCP 유기 고분자인 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자
6 6
청구항 5에 있어서, 상기 인터레이어는 polymer brush type의 PMMA 유기 고분자이고, 그 두께는 3 nm 이하인 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자
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청구항 4에 있어서, 상기 채널층은 펜타신(pentacene)으로 형성된 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자
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게이트 전극 역할을 하는 기판과, 강유전체층과, 채널층, 소스 및 드레인 전극을 포함하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법에 있어서, 상기 게이트 전극 기판과 강유전체층 사이에 인터레이어(interlayer)를 형성하는 단계를 포함하고, 상기 인터레이어는 polymer brush type의 고분자, 전도성 고분자, 액정성 고분자 물질 중 어느 하나의 물질로 형성하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
11 11
청구항 10에 있어서, 상기 인터레이어는 polymer brush type의 고분자로 형성하고, 톨루엔(toluene)을 첨가한 PMMA 용액을 제조하는 단계;상기 PMMA 용액을 기판 상에 스핀코팅하여, PMMA 박막을 형성하는 단계 및상기 PMMA 코팅층을 기판 상에서 열처리하여 고정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
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청구항 11에 있어서, 상기 PMMA 코팅층을 기판 상에서 열처리하여, 고정한 후, 톨루엔을 이용하여, 상기 기판에 고정되지 않은 PMMA 코팅층을 제거하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
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청구항 10에 있어서, 상기 인터레이어를 형성한 후, 상기 인터레이어 상에 P(VDF-TrFE) 용액을 스핀코팅 후 열처리하여, P(VDF-TrFE) 강유전체층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
14 14
청구항 13에 있어서, 상기 P(VDF-TrFE) 강유전체층을 형성한 후, 펜타신을 진공 열증착하여 채널층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
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청구항 14에 있어서, 상기 채널층을 형성한 후, 금속 재료를 증착하여, 상기 채널층 상부에 소스와 드레인을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
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청구항 10에 있어서, 상기 인터레이어는 전도성 고분자로 형성하고,PEDOT:PSS 용액을 기판 상에 스핀코팅하여, PEDOT:PSS 박막을 형성하는 단계 및PEDOT:PSS 박막을 열처리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
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청구항 16에 있어서, 상기 PEDOT:PSS 박막을 열처리한 후, 메틸에틸케톤 용액을 이용하여, 상기 PEDOT:PSS 박막을 세정하고 건조하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
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청구항 10에 있어서, 상기 인터레이어는 액정성 고분자로 형성하고,싸이클로펜타논(cyclopentanone)이 첨가된 DLC-BCP 용액을 제조하는 단계;상기 DLC-BCP 용액을 기판 상에 스핀코팅하여, DLC-BCP 박막을 형성하는 단계 및 상기 DLC-BCP 박막을 열처리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
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청구항 18에 있어서, 상기 DLC-BCP 박막을 열처리하는 단계는,상기 DLC-BCP 박막을 200℃ 이상에서 1차 열처리하는 단계 및 상기 DLC-BCP 박막을 200℃ 이하에서 2차 열처리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 강유전체 메모리 소자의 제조 방법
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