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유기발광다이오드 패널 검사 방법

  • 기술번호 : KST2015132783
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 유기발광다이오드 패널의 품질을 검사하는 방법에 관한 것으로서, 증착공정을 마친 유기발광다이오드 패널에 대한 봉지 공정 수행 전 또는 그 이후에, 노이즈 측정 방법을 이용한 유기발광다이오드 패널에 대한 검사공정을 수행하여, 유기발광다이오드 패널의 품질을 검사할 수 있는, 유기발광다이오드 패널 검사 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다. 이를 위해, 본 발명에 따른 유기발광다이오드 패널 검사 방법은, 유기발광다이오드 패널의 노이즈 특성과 수명과의 상관관계에 대한 정보를 포함하는 룩업테이블을 저장하는 단계; 및 증착 공정이 수행된 유기발광다이오드 패널에 대하여 노이즈를 측정하며, 그 결과를 상기 룩업테이블과 비교하여, 상기 유기발광다이오드 패널의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
Int. CL H01L 51/56 (2006.01)
CPC H01L 51/56(2013.01) H01L 51/56(2013.01) H01L 51/56(2013.01) H01L 51/56(2013.01) H01L 51/56(2013.01)
출원번호/일자 1020100139876 (2010.12.31)
출원인 엘지디스플레이 주식회사, 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0077791 (2012.07.10) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.12.21)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
2 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박성희 대한민국 경기도 의정부시 신촌
2 김규태 대한민국 경기도 광명시 가림로 ***-*
3 장도영 대한민국 서울특별시 강남구
4 강필수 대한민국 서울특별시 구로구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인천문 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층 (역삼동, 신성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
2 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2010-0879269-73
2 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2011.08.31 수리 (Accepted) 1-1-2011-0679056-54
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2011.09.07 수리 (Accepted) 1-1-2011-0698026-85
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
8 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2015.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-1249019-28
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.12.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0910485-66
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.02.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0155592-87
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.02.15 수리 (Accepted) 1-1-2017-0155591-31
12 등록결정서
Decision to grant
2017.06.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0405626-30
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
유기발광다이오드 패널의 노이즈 특성과 수명과의 상관관계에 대한 정보를 포함하는 룩업테이블을 저장하는 단계; 및증착 공정이 수행된 유기발광다이오드 패널에 대하여 노이즈를 측정하며, 그 결과를 상기 룩업테이블과 비교하여, 상기 유기발광다이오드 패널의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하고,상기 룩업테이블은, 양질로 판단된 유기발광다이오드 패널에 형성된 유기발광다이오드 층의 두께 변화, 도핑량의 변화, 표면 처리시 가스 유량 변화, 표면 처리 시간 변화, 표면 처리에 인가된 전력 변화 중 적어도 어느 하나에 대한 노이즈와 주파수와의 관계를 이용하여 설정되는, 유기발광다이오드 패널 검사 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 노이즈 측정을 위해 상기 유기발광다이오드 패널에 정전압 또는 정전류를 인가하여 시간에 따른 그 변화 비율을 측정하는, 유기발광다이오드 패널 검사 방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 노이즈 측정은, 상기 유기발광다이오드 패널에 대한 시간에 관한 변화율을 주파수에 관한 변화율로 변환하는, 유기발광다이오드 패널 검사 방법
4 4
삭제
5 5
제 1 항에 있어서,상기 노이즈 측정은,상기 증착 공정에 의해 상기 유기발광다이오드 패널에 캐소드(Cathode) 증착이 이루어진 후에 이루어지는, 유기발광다이오드 패널 검사 방법
6 6
제 1 항에 있어서,상기 노이즈 측정 과정 전에, 상기 유기발광다이오드 패널에 일정 시간 전류를 인가하여 상기 유기발광다이오드 패널을 에이징(Aging) 시키는 단계를 더 포함하는, 유기발광다이오드 패널 검사 방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 유기발광다이오드 패널을 에이징(Aging)시 인가되는 전류는, AC 또는 DC일 수 있으며, 0
8 8
제 1 항에 있어서,상기 노이즈 측정에 이용되는 정전압은 -50V 내지 50V 인, 유기발광다이오드 패널 검사 방법
9 9
제 1 항에 있어서,상기 노이즈 측정에 이용되는 정전류는 -10A 내지 10A 인, 유기발광다이오드 패널 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.