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저항 메모리 소자 및 이의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015143730
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 저항 메모리 소자 및 이의 제조 방법에 관한 발명으로서, 구체적으로는 산소 분위기에서의 열처리에 의해 비격자 산소 이온의 생성이 가능한 금속 산화물(예를 들어 HfO2)을 가변 저항층으로 이용함으로써 일렉트로 포밍 프로세스(electro-forming process)가 생략된 채로 저항 변화 메모리 특성이 발생되는 저항 메모리 소자 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
Int. CL H01L 21/8247 (2006.01) H01L 27/115 (2006.01)
CPC H01L 45/04(2013.01) H01L 45/04(2013.01) H01L 45/04(2013.01) H01L 45/04(2013.01)
출원번호/일자 1020120056605 (2012.05.29)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0133395 (2013.12.09) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.05.29)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김형섭 대한민국 서울특별시 서초구
2 이명수 대한민국 서울특별시 양천구
3 안치홍 대한민국 경기도 화성

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남건필 대한민국 서울특별시 영등포구 경인로 ***, *동 ***호(엔씨 국제특허법률사무소)
2 차상윤 대한민국 서울특별시 영등포구 경인로 ***, *동 ***호(엔씨 국제특허법률사무소)
3 박종수 대한민국 서울특별시 영등포구 경인로 ***, *동 ***호(엔씨 국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2012-0425758-97
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.20 수리 (Accepted) 4-1-2012-5131828-19
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.27 수리 (Accepted) 4-1-2012-5137236-29
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.07.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0499910-80
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.09.16 수리 (Accepted) 1-1-2013-0843550-25
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.09.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0843551-71
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2014.01.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0013351-37
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.03.04 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2014-0210613-79
9 [대리인해임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Dismissal of Sub-agent] Report on Agent (Representative)
2014.03.04 수리 (Accepted) 1-1-2014-0211639-23
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.03.04 수리 (Accepted) 1-1-2014-0210614-14
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.07.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0476400-68
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판;상기 기판의 상부에 배치된 제 1 전극;상기 제 1 전극의 상부에 배치된 가변 저항층으로서, 상기 가변 저항층은 산소 분위기에서 열처리에 의해 비격자 산소 이온이 생성 가능한 금속 산화물 박막으로 이루어진, 가변 저항층; 및상기 가변 저항층 상부에 배치된 제 2 전극을 포함한,저항 메모리 소자
2 2
제 1 항에 있어서,상기 산소 분위기에서의 열처리는, 상압에서 O2 또는 O3 분위기에서 열처리된,저항 메모리 소자
3 3
제 1 항에 있어서,상기 산소 분위기에서의 열처리는, 상압에서 UV 조사된 O2 분위기에서 열처리된,저항 메모리 소자
4 4
제 1 항에 있어서,상기 가변 저항층이 결정질 HfO2 로 이루어진,저항 메모리 소자
5 5
제 1 항에 있어서,상기 제 1 전극이 Pt인,저항 메모리 소자
6 6
기판 상에 제 1 전극을 형성하는 단계;상기 제 1 전극의 상부에 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 형성하는 단계;상기 가변 저항층 상부에 제 2 전극을 형성하는 단계; 및상기 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 산소 분위기에서 열처리하는 단계를 포함하는,저항 메모리 소자 제조 방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 제 1 전극의 상부에 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 형성하는 단계는,테트라키스-에틸메틸아미노하프늄 및 H2O 전구체를 준비하는 단계; 및원자층 증착법(atomic layer deposition; ALD)에 의해 300℃에서 제 1 전극 위에 HfO2 박막층을 성장시키는 단계를 포함하는,저항 메모리 소자 제조 방법
8 8
제 6 항에 있어서, 상기 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 산소 분위기에서 열처리하는 단계는, 상압에서 O2 분위기에서 열처리하는 것을 특징으로 하는, 저항 메모리 소자 제조 방법
9 9
제 6 항에 있어서, 상기 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 산소 분위기에서 열처리하는 단계는, 상압에서 UV 조사된 O2 분위기에서 열처리하는 것을 특징으로 하는, 저항 메모리 소자 제조 방법
10 10
제 6 항에 있어서, 상기 제 1 전극이 Pt인 것을 특징으로 하는, 저항 메모리 소자 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.