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기판;상기 기판의 상부에 배치된 제 1 전극;상기 제 1 전극의 상부에 배치된 가변 저항층으로서, 상기 가변 저항층은 산소 분위기에서 열처리에 의해 비격자 산소 이온이 생성 가능한 금속 산화물 박막으로 이루어진, 가변 저항층; 및상기 가변 저항층 상부에 배치된 제 2 전극을 포함한,저항 메모리 소자
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제 1 항에 있어서,상기 산소 분위기에서의 열처리는, 상압에서 O2 또는 O3 분위기에서 열처리된,저항 메모리 소자
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제 1 항에 있어서,상기 산소 분위기에서의 열처리는, 상압에서 UV 조사된 O2 분위기에서 열처리된,저항 메모리 소자
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제 1 항에 있어서,상기 가변 저항층이 결정질 HfO2 로 이루어진,저항 메모리 소자
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 전극이 Pt인,저항 메모리 소자
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기판 상에 제 1 전극을 형성하는 단계;상기 제 1 전극의 상부에 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 형성하는 단계;상기 가변 저항층 상부에 제 2 전극을 형성하는 단계; 및상기 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 산소 분위기에서 열처리하는 단계를 포함하는,저항 메모리 소자 제조 방법
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제 6 항에 있어서,상기 제 1 전극의 상부에 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 형성하는 단계는,테트라키스-에틸메틸아미노하프늄 및 H2O 전구체를 준비하는 단계; 및원자층 증착법(atomic layer deposition; ALD)에 의해 300℃에서 제 1 전극 위에 HfO2 박막층을 성장시키는 단계를 포함하는,저항 메모리 소자 제조 방법
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8
제 6 항에 있어서, 상기 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 산소 분위기에서 열처리하는 단계는, 상압에서 O2 분위기에서 열처리하는 것을 특징으로 하는, 저항 메모리 소자 제조 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 HfO2 박막으로 이루어진 가변 저항층을 산소 분위기에서 열처리하는 단계는, 상압에서 UV 조사된 O2 분위기에서 열처리하는 것을 특징으로 하는, 저항 메모리 소자 제조 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 제 1 전극이 Pt인 것을 특징으로 하는, 저항 메모리 소자 제조 방법
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