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광 도파로의 손실 및 모드패턴 측정시스템

  • 기술번호 : KST2015145072
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 1. 발명이 속한 기술 분야광 도파로의 도파 손실 및 모드패턴의 크기를 측정하기 위한 장치의 구성과 측정된 결과를 분석하는 연산방식에 관한 것이다.2. 발명의 목적광 도파로의 손상 없이 입사되는 광원의 편광에 따라 신뢰성 있는 도파 손실을 측정하고 광 도파로에 존재하는 모드 패턴의 형태 및 크기를 정확히 측정하고자 하는 데 있다.3. 발명의 구성간섭성이 있는(coherent) 광원을 사용하여 일정한 결정방향을 갖는 광 도파로 내에 파브리-페로트(Fabry-Perot) 공명을 일으키고, 광 도파로 샘플을 가열하여 광 도파로 내 굴절률을 변화시키면서 출력되는 광의 세기 변화로부터 도파 손실을 측정하며, 간섭성이 없는(incoherent) 광원을 사용하여 광 도파로를 진행하는 모드 패턴의 형태 및 크기를 측정할 수 있는 장치 구성 및 연산방식 등이 제시된다.4. 발명의 효과광 도파로의 도파 손실과 모드패턴의 형태 및 크기를 재현성 있게 정확히 측정할 수 있다.광 도파로, 손실측정, 가시도, 모드패턴, 렌즈, 도파 손실
Int. CL B82Y 35/00 (2011.01) G01M 11/02 (2011.01) B82Y 15/00 (2011.01) B82Y 25/00 (2011.01)
CPC G01M 11/30(2013.01) G01M 11/30(2013.01)
출원번호/일자 1020020077005 (2002.12.05)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0459998-0000 (2004.11.25)
공개번호/일자 10-2004-0049156 (2004.06.11) 문서열기
공고번호/일자 (20041204) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2002.12.05)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 양우석 대한민국 경기도성남시분당구
2 이한영 대한민국 경기도용
3 허현 대한민국 전라남도순천시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조담 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 평택시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2002.12.05 수리 (Accepted) 1-1-2002-0404609-10
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2004.07.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2004.08.13 수리 (Accepted) 9-1-2004-0047389-63
4 등록결정서
Decision to grant		 2004.11.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0494166-44
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

간섭성이 있는 협대역 레이저를 출력하는 광원;

상기 광원에서 출력된 광의 편극을 변환시킬 수 있는 반파장 회전판;

상기 반파장 회전판을 통과한 광을 TM 모드 또는 TE 모드로 세팅시키는 편광기;

광 도파로 입력부에서의 공명을 방지하기 위한 광 감쇠기

상기 광 감쇠기를 통과한 광의 초점을 조절하여 광 도파로 샘플로 입사시키는 제 1 렌즈;

상기 광 도파로 샘플을 가열시켜 굴절률을 변화시키는 히터;

상기 광 도파로 샘플에서 출력되는 광의 초점을 조절하는 제 2 렌즈;

상기 제 2 렌즈의 후단에 위치되어 상기 광 도파로 샘플을 통과한 광만을 통과시키는 조리개;

상기 조리개를 통과한 광의 세기를 검출하여 그에 상응하는 전류를 출력하는 광 검출기;

광 검출기가 출력하는 전류를 측정하는 나노 암페어 메타; 및

상기 나노 암페어 메타가 측정한 전류 값으로 광 도파로 샘플의 손실계수를 계산하는 컴퓨터로 구성된 광 도파로의 손실 측정시스템

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 렌즈는;

반사광이 없게 AR막이 코팅된 것을 특징으로 하는 광 도파로의 손실 및 모드패턴 측정시스템

3 3

제 1 항에 있어서, 상기 컴퓨터는;

다음의 수학식 10에 따라 손실계수 4

간섭성이 없는 협대역 레이저를 출력하는 광원;

상기 광원에서 출력된 광의 편극을 변환시킬 수 있는 반파장 회전판;

상기 반파장 회전판을 통과한 광을 TM 모드 또는 TE 모드로 세팅시키는 편광기;

상기 반파장 회전판을 통과한 광의 초점을 조절하여 광 도파로 샘플로 입사시키는 제 1 렌즈;

상기 광 도파로 샘플에서 출력되는 광의 초점을 조절하는 제 2 렌즈;

상기 제 2 렌즈의 후단에 위치되어 상기 광 도파로 샘플을 통과한 광만을 통과시키는 조리개;

상기 조리개를 통과한 광을 촬영하는 적외선 카메라; 및

상기 적외선 카메라가 촬영한 광의 영상으로 모드패턴을 측정하는 컴퓨터로 구성된 광 도파로의 모드패턴 측정시스템

5 5

제 3 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 렌즈는;

반사광이 없게 AR막이 코팅된 것을 특징으로 하는 광 도파로의 손실 및 모드패턴 측정시스템

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.