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나노와이어 소자 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015146423
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 나노와이어 소자 제조 방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 실리콘 기판을 사용하여 실리콘 나노와이어를 제조한 후 다른 기판 위에 실리콘 나노와이어를 전사시키고 전극 구조물을 형성시키는 나노와이어 소자 제조 방법에 관한 것이다.본 발명의 나노와이어 소자 제조 방법은 실리콘 기판에 제1열산화막을 형성하는 제1단계; 상기 실리콘 기판에 칼럼구조를 형성하는 제2단계; 칼럼구조가 형성된 상기 실리콘 기판에 지지기둥 구조물 및 나노와이어 구조물을 형성하는 제3단계; 상기 제1열산화막을 제거하는 제4단계 상기 실리콘 기판에 제2열산화막을 형성하는 제5단계; 및 상기 제2열산화막을 제거하는 제6단계를 포함하는 나노와이어 제조 방법으로 제조된 나노와이어가 형성된 제1 기판을 준비하는 단계; 산화막이 형성된 제2 기판에 점착제를 균일하게 코팅하는 단계; 상기 나노와이어를 상기 제2 기판에 트랜스퍼시키는 단계; 상기 점착제를 제거하는 단계; 및 상기 점착제가 제거된 제2 기판상에 전극 구조물을 형성시키는 단계로 이루어짐에 기술적 특징이 있다.따라서, 본 발명의 나노와이어 소자 제조 방법은 실리콘 나노와이어를 제조한 기판에서 절연막이 형성된 다른 기판으로 실리콘 나노와이어를 전사하는 패턴 트랜스퍼 방법을 이용함으로써 전자빔 리소그라피 공정과 SOI 웨이퍼를 사용하지 않고서도 나노와이어 소자를 생산할 수 있는 장점이 있다.또한, 본 발명의 나노와이어 소자 제조 방법은 실리콘을 식각하여 실리콘 나노와이어를 제조함으로써 별도의 나노와이어 정렬과정이 필요 없다.또한, 본 발명의 나노와이어 소자 제조 방법은 역삼각형 단면을 갖는 실리콘 나노와이어 구조물을 형성한 후 2차 열산화 공정 또는 3차 열산화 공정으로 실리콘을 산화시킴으로써 수십 ㎚ 크기의 단면을 갖는 단결정 실리콘 나노와이어를 용이하게 제조할 수 있는 효과가 있다.또한, 본 발명의 나노와이어 소자 제조 방법은 실리콘 나노와이어가 전사된 기판에 전기적 컨택을 위한 전극 구조물을 후속 공정으로 제작할 수 있음으로 해서 나노와이어 소자를 웨이퍼 단위의 공정에서 제조하는 것이 가능하고, 이로 인해 대량생산이 가능하여 저가의 나노와이어 소자의 제조를 할 수 있는 효과가 있다.나노와이어, 트랜스퍼
Int. CL B82Y 40/00 (2011.01) B82B 3/00 (2011.01)
CPC H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01)
출원번호/일자 1020050088325 (2005.09.22)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0740531-0000 (2007.07.11)
공개번호/일자 10-2007-0033794 (2007.03.27) 문서열기
공고번호/일자 (20070718) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.09.22)
심사청구항수 27

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이국녕 대한민국 경기 성남시 분당구
2 성우경 대한민국 경기도 성남시 분당구
3 정석원 대한민국 경기도 오산시
4 김원효 대한민국 경기 용인시 구
5 신규식 대한민국 경기도 남양주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서천석 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로**길 **, *층 (서초동, 서초다우빌딩)(특허법인세하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2005-0529915-33
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.07.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.08.10 수리 (Accepted) 9-1-2006-0049871-85
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0633270-36
5 의견서
Written Opinion
2006.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2006-0961289-16
6 등록결정서
Decision to grant
2007.04.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0235934-54
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
나노와이어를 제조함에 있어서,실리콘 기판에 제1열산화막을 형성하는 제1단계;상기 실리콘 기판에 칼럼구조를 형성하는 제2단계;칼럼구조가 형성된 상기 실리콘 기판에 지지기둥 구조물 및 나노와이어 구조물을 형성하는 제3단계;상기 제1열산화막을 제거하는 제4단계상기 실리콘 기판에 제2열산화막을 형성하는 제5단계; 및상기 제2열산화막을 제거하는 제6단계를 포함하는 나노와이어 제조 방법
2 2
제 1항에 있어서,상기 제6단계는 BOE에 의한 습식식각 또는 플라즈마 건식식각을 통해 이루어지는 나노와이어 제조 방법
3 3
제 1항에 있어서,상기 나노와이어의 단면 크기 조절은 상기 제2열산화막 형성 시간을 조절함으로써 이루어지는 나노와이어 제조 방법
4 4
제 1항에 있어서,상기 지지기둥 구조물은 상기 나노와이어의 한쪽 끝 또는 양쪽 끝과 연결된 구조인 나노와이어 제조 방법
5 5
제 4항에 있어서,상기 지지기둥 구조물과 나노와이어의 연결부분은 제2열산화막 제거 후 스트레스가 집중되어 가해지는 나노와이어 제조 방법
6 6
나노와이어를 제조함에 있어서,실리콘 기판에 제1열산화막을 형성하는 제1단계;상기 실리콘 기판에 칼럼구조를 형성하는 제2단계;칼럼구조가 형성된 상기 실리콘 기판에 나노와이어 구조물을 형성하는 제3단계;상기 실리콘 기판에 제2열산화막을 형성하는 제4단계;상기 실리콘 기판과 나노와이어 구조물의 상부면에 위치하는 산화막을 건식식각으로 제거하는 제5단계;상기 실리콘 기판에 제3열산화막을 형성하는 제6단계; 및상기 실리콘 기판과 나노와이어의 상부면에 위치하는 산화막을 제거하는 제7단계를 포함하는 나노와이어 제조 방법
7 7
제 6항에 있어서,상기 제7단계는 플라즈마 건식식각을 통해 이루어지는 나노와이어 제조 방법
8 8
제 6항에 있어서,상기 나노와이어의 단면 크기 조절은 상기 제2열산화막 및 제3열산화막 형성 시간을 조절함으로써 이루어지는 나노와이어 제조 방법
9 9
제 1항 또는 제 6항에 있어서,상기 제2단계는 건식식각으로 이루어지는 나노와이어 제조 방법
10 10
제 1항 또는 제 6항에 있어서,상기 제3단계는 이방성 식각 용액을 사용하여 습식식각하는 나노와이어 제조 방법
11 11
제 1항 또는 제 6항에 있어서,상기 나노와이어의 단면은 역삼각형 구조인 나노와이어 제조 방법
12 12
제 1항 또는 제 6항에 있어서,상기 나노와이어의 길이는 수 ㎛ 내지 수백 ㎛인 나노와이어 제조 방법
13 13
제 1항 또는 제 6항에 있어서,상기 나노와이어와 상기 실리콘 기판 사이의 거리는 수십 ㎚ 내지 수 ㎛ 인 나노와이어 제조 방법
14 14
제 13항에 있어서,상기 나노와이어와 실리콘 기판 사이의 거리는 건식식각된 칼럼구조의 깊이와 나노와이어 구조물 형성시 이용한 습식식각을 통한 실리콘 기판의 식각 정도에 의해 결정되는 나노와이어 제조 방법
15 15
제 1항 또는 제 6항에 있어서,상기 나노와이어의 저항 및 전도성은 상기 실리콘 기판의 불순물의 도핑 농도 또는 주입되는 불순물의 종류에 의해 조절되는 나노와이어 제조 방법
16 16
제 1항의 방법으로 제조된 나노와이어가 형성된 제1 기판을 준비하는 단계;산화막이 형성된 제2 기판에 점착제를 균일하게 코팅하는 단계;상기 나노와이어를 상기 제2 기판에 트랜스퍼시키는 단계;상기 점착제를 제거하는 단계; 및상기 점착제가 제거된 제2 기판상에 전극 구조물을 형성시키는 단계를 포함하는 나노와이어 소자 제조 방법
17 17
제 16항에 있어서,상기 나노와이어를 상기 제2 기판에 트랜스퍼시키는 단계는,상기 나노와이어를 상기 점착제에 점착시키는 과정; 및점착된 상기 나노와이어와 상기 제1 기판을 서로 분리하는 과정을 포함하는 나노와이어 소자 제조 방법
18 18
제 17항에 있어서,점착된 상기 나노와이어와 상기 제1 기판을 서로 분리하는 과정은 나노와이어와 지지기둥 구조물의 연결부분을 단절시키는 나노와이어 소자 제조 방법
19 19
제 1항의 방법으로 제조된 나노와이어가 형성된 제1 기판을 준비하는 단계;상기 나노와이어를 산화막이 형성된 제2 기판에 트랜스퍼시키는 단계; 및상기 제2 기판상에 전극 구조물을 형성시키는 단계를 포함하는 나노와이어 소자 제조 방법
20 20
제 19항에 있어서,상기 나노와이어를 산화막이 형성된 제2 기판에 트랜스퍼시키는 단계는,상기 나노와이어를 상기 제2 기판에 본딩하는 과정; 및상기 본딩된 나노와이어와 상기 제1 기판을 서로 분리하는 과정을 포함하는 나노와이어 소자 제조 방법
21 21
제 20항에 있어서,상기 본딩된 나노와이어와 상기 제1 기판을 서로 분리하는 과정은 나노와이어와 지지기둥 구조물의 연결부분을 단절시키는 나노와이어 소자 제조 방법
22 22
제 6항의 방법으로 제조된 나노와이어가 형성된 제1 기판을 준비하는 단계;산화막이 형성된 제2 기판에 점착제를 균일하게 코팅하는 단계;상기 나노와이어를 상기 제2 기판에 트랜스퍼시키는 단계;상기 점착제를 제거하는 단계;상기 점착제가 제거된 제2 기판상의 나노와이어에 남아있는 산화막을 제거하는 단계; 및상기 점착제가 제거된 제2 기판상에 전극 구조물을 형성시키는 단계를 포함하는 나노와이어 소자 제조 방법
23 23
제 16항 또는 제 22항에 있어서,상기 점착제는 포토레지스트, PDMS, 플렉시블 폴리머, 점착성 폴리머, 열적 리플로우 폴리머, 플렉시블 기판 및 점성 기판 중 어느 하나인 나노와이어 소자 제조 방법
24 24
제 23항에 있어서,상기 점착제의 제거는 플라즈마 건식식각을 통해 이루어지는 나노와이어 소자 제조 방법
25 25
제 6항의 방법으로 제조된 나노와이어가 형성된 제1 기판을 준비하는 단계;상기 나노와이어를 산화막이 형성된 제2 기판에 트랜스퍼시키는 단계;상기 트랜스퍼된 나노와이어에 남아있는 산화막을 제거하는 단계; 및상기 제2 기판상에 전극 구조물을 형성시키는 단계를 포함하는 나노와이어 소자 제조 방법
26 26
제 25항에 있어서,상기 나노와이어를 산화막이 형성된 제2 기판에 트랜스퍼시키는 단계는,상기 나노와이어를 상기 제2 기판에 본딩하는 과정; 및상기 본딩된 나노와이어와 상기 제1 기판을 서로 분리하는 과정을 포함하는 나노와이어 소자 제조 방법
27 27
제 16항, 제 19항, 제 22항 및 제 25항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제2 기판은 실리콘, 수정, 세라믹, 유리 및 폴리머 중 어느 하나인 나노와이어 소자 제조 방법
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