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대물렌즈 조리개 및 이를 이용한 패턴형성장치

  • 기술번호 : KST2015160004
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 대물렌즈 조리개 및 이를 이용한 패턴형성장치가 개시된다. 본 발명에 따른 대물렌즈 조리개는 시편에 조사되고 시편을 통과한 전자빔이 대물렌즈를 통과하여 형성된 투과빔과 회절빔 중 일부를 통과시키는 투과전자현미경에 구비된 대물렌즈 조리개에 있어서, 고분해능 원자이미지의 배경신호잡음을 감소시키기 위해, 개구부가 형성되어 있지 않은 중심영역과 투과빔은 통과시키지 않고 회절빔만을 통과시키는 개구부가 적어도 하나 형성되어 있는 주변영역을 구비한다. 본 발명에 따르면, 시편을 통과한 전자빔이 대물렌즈를 통과하여 형성된 투과빔이 통과하지 않도록 대물렌즈 조리개가 형성되어 고분해능 원자이미지의 배경신호잡음이 감소되므로 선명한 원자이미지를 얻을 수 있다.
Int. CL G03B 9/00 (2006.01) G03B 9/02 (2006.01)
CPC G03B 9/07(2013.01) G03B 9/07(2013.01) G03B 9/07(2013.01) G03B 9/07(2013.01)
출원번호/일자 1020080010054 (2008.01.31)
출원인 재단법인서울대학교산학협력재단
등록번호/일자 10-0904894-0000 (2009.06.19)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20090629) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.01.31)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김기범 대한민국 서울 관악구
2 김현미 대한민국 서울 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 송경근 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 ** (방배동) 기산빌딩 *층(엠앤케이홀딩스주식회사)
2 박보경 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **, *층(서초동, 준영빌딩)(특허법인필앤온지)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.01.31 수리 (Accepted) 1-1-2008-0081598-81
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.02.14 수리 (Accepted) 1-1-2008-0109557-65
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.02.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.03.18 수리 (Accepted) 9-1-2009-0016355-89
5 등록결정서
Decision to grant
2009.05.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0218985-08
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
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번호 청구항
1 1
시편에 조사되고 상기 시편을 통과한 전자빔이 대물렌즈를 통과하여 형성된 투과빔과 회절빔 중 일부를 통과시키는 투과전자현미경에 구비된 대물렌즈 조리개에 있어서, 고분해능 원자이미지의 배경신호잡음을 감소시키기 위해, 개구부가 형성되어 있지 않은 중심영역; 및 상기 투과빔은 통과시키지 않고 상기 회절빔만을 통과시키는 개구부가 적어도 하나 형성되어 있는 주변영역;을 포함하는 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
2 2
제1항에 있어서, 상기 중심영역은 2Lα 이상의 직경으로 형성되고, 여기서 L은 상기 시편과 상기 대물렌즈 조리개 사이의 거리이고, α는 상기 시편에 조사되는 전자빔의 수렴반각(convergence semiangle)인 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
3 3
제2항에 있어서, 상기 회절빔만을 통과시키는 개구부는 원형인 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
4 4
제3항에 있어서, 상기 시편은 실리콘 단결정이고, 상기 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부의 위치는 상기 실리콘 단결정의 회절상에서 111 회절빔과 002 회절빔의 위치와 동일하며, 상기 중심영역의 중심과 상기 111 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부의 중심 사이의 거리는 λL/d111이고, 상기 중심영역의 중심과 상기 002 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부의 중심 사이의 거리는 λL/d002이며, 상기 각 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부는 2Lα 이하의 직경으로 형성되고, 여기서 λ는 상기 시편에 조사되는 전자빔의 파장이고, d111과 d002은 각각 (111)면과 (002)면의 면간 거리인 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
5 5
제3항에 있어서, 상기 시편은 실리콘 단결정이고, 상기 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부의 위치는 상기 실리콘 단결정의 회절상에서 111 회절빔, 002 회절빔, 220 회절빔, 113 회절빔 및 222 회절빔의 위치와 동일하며, 상기 각 회절빔에 대하여 상기 중심영역의 중심과 상기 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부 사이의 거리는 각각 λL/d111, λL/d002, λL/d220, λL/d113 및 λL/d222이며, 상기 각 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부는 2Lα 이하의 직경으로 형성되고, 여기서 d220, d113 및 d222는 각각 (220)면, (113)면 및 (222)면의 면간 거리인 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
6 6
제2항에 있어서, 상기 회절빔만을 통과시키는 개구부는 링 형태이고, 상기 중심영역의 중심으로부터 상기 링의 중심까지의 거리는 λL/dhkl이며, 여기서 dhkl은 hkl 면의 면간 거리인 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
7 7
시편에 조사되고 상기 시편을 통과한 전자빔이 대물렌즈를 통과하여 형성된 투과빔과 회절빔 중 일부를 통과시키는 대물렌즈 조리개를 가지는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치에 있어서, 상기 대물렌즈 조리개는, 고분해능 원자이미지의 배경신호잡음을 감소시키기 위해, 개구부가 형성되어 있지 않은 중심영역; 및 상기 투과빔은 통과시키지 않고 상기 회절빔만을 통과시키는 개구부가 적어도 하나 형성되어 있는 주변영역;을 포함하는 것을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
8 8
제7항에 있어서, 상기 중심영역은 2Lα 이상의 직경으로 형성되고, 여기서 L은 상기 시편과 상기 대물렌즈 조리개 사이의 거리이고, α는 상기 시편에 조사되는 전자빔의 수렴반각인 것을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
9 9
제8항에 있어서, 상기 회절빔만을 통과시키는 개구부는 원형인 것을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
10 10
제9항에 있어서, 상기 시편은 실리콘 단결정이고, 상기 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부의 위치는 상기 실리콘 단결정의 회절상에서 111 회절빔과 002 회절빔의 위치와 동일하며, 상기 중심영역의 중심과 상기 111 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부의 중심 사이의 거리는 λL/d111이고, 상기 중심영역의 중심과 상기 002 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부의 중심 사이의 거리는 λL/d002이며, 상기 각 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부는 2Lα 이하의 직경으로 형성되고, 여기서 λ는 상기 시편에 조사되는 전자빔의 파장이고, d111과 d002은 각각 (111)면과 (002)면의 면간 거리인 것을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
11 11
제9항에 있어서, 상기 시편은 실리콘 단결정이고, 상기 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부의 위치는 상기 실리콘 단결정의 회절상에서 111 회절빔, 002 회절빔, 220 회절빔, 113 회절빔 및 222 회절빔의 위치와 동일하며, 상기 각 회절빔에 대하여 상기 중심영역의 중심과 상기 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부 사이의 거리는 각각 λL/d111, λL/d002, λL/d220, λL/d113 및 λL/d222이며, 상기 각 회절빔만을 통과시키는 원형의 개구부는 2Lα 이하의 직경으로 형성되고, 여기서 d220, d113 및 d222는 각각 (220)면, (113)면 및 (222)면의 면간 거리인 것을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
12 12
제8항에 있어서, 상기 회절빔만을 통과시키는 개구부는 링 형태이고, 상기 중심영역의 중심으로부터 상기 링의 중심까지의 거리는 λL/dhkl이며, 여기서 dhkl은 hkl 면의 면간 거리인 것을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
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패밀리정보가 없습니다
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1 과학기술부 서울대학교 테라급나노소자개발사업 원자 이미지를 이용한 양자점 형성 기술 개발