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고분해능 이미지의 배경 잡음 제거를 위한 대물 렌즈 조리개 및 이를 이용한 패턴형성장치

  • 기술번호 : KST2015160553
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 투과전자 현미경용 또는 전자 빔 리소그라피 장치중에서 원자이미지를 이용한 패턴형성 장치용 대물렌즈의 조리개에 관한 것으로, 특히 시편에 조사된 전자빔이 시편을 통과하여 나오는 투과빔(transmitted beam)과 회절빔(diffracted beam)의 간섭에 의해 상이 형성되는 고분해능 이미지형성에 있어서의 배경잡음을 제거할 수 있는 투과전자 현미경용 또는 전자 빔 리소그라피 장치중에서 원자이미지를 이용한 패턴형성 장치용 대물렌즈 조리개의 구조에 관한 것이다. 대물렌즈 조리개, 배경잡음, 고분해능 이미지, 투과전자현미경, 전자빔 리소그라피 장치, 원자 이미지
Int. CL G02B 21/02 (2006.01)
CPC G02B 21/02(2013.01) G02B 21/02(2013.01) G02B 21/02(2013.01)
출원번호/일자 1020040050049 (2004.06.30)
출원인 재단법인서울대학교산학협력재단
등록번호/일자 10-0607874-0000 (2006.07.26)
공개번호/일자 10-2006-0001036 (2006.01.06) 문서열기
공고번호/일자 (20060808) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.06.30)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김기범 대한민국 서울특별시 관악구
2 김병성 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권혁록 대한민국 서울특별시 종로구 경희궁길 **, *층 리앤권법률특허사무소 (신문로*가, 서광빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2004-0287455-98
2 서지사항 보정서
Amendment to Bibliographic items
2004.07.06 수리 (Accepted) 1-1-2004-0298739-17
3 보정통지서
Request for Amendment
2004.07.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2004-0044381-13
4 서지사항 보정서
Amendment to Bibliographic items
2004.07.09 수리 (Accepted) 1-1-2004-0303055-15
5 과오납통지서
Notice of Erroneous Payment
2004.07.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2004-0045358-41
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.11.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.12.15 수리 (Accepted) 9-1-2005-0081724-98
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.01.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0055334-68
9 의견서
Written Opinion
2006.03.27 수리 (Accepted) 1-1-2006-0213712-39
10 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.03.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0213729-15
11 등록결정서
Decision to grant
2006.07.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0423714-92
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2008-5015497-73
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시편에 조사되고 상기 시편을 통과한 전자빔이 대물렌즈를 통과하여 형성한 투과빔과 회절빔의 위상차 이미지를 선명하게 하기 위한 대물렌즈 조리개에 있어서,상기 투과빔만을 통과시키는 투과빔 구멍; 및상기 시편의 격자 상수에 따라 상기 투과빔 구멍과의 거리가 정해지고, 상기 시편의 결정구조에 따라 개수와 방향이 정해져서 상기 회절빔만을 통과시키는 회절빔 통과 위치에 위치하는 다수의 회절빔 구멍으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
2 2
제1항에 있어서, 상기 시편이 실리콘 단결정이고, 상기 회절빔 구멍의 위치는 상기 실리콘 단결정의 회절상에서 111과 002 회절빔의 위치와 동일하며, 상기 111 회절빔에 대하여는 상기 투과빔 구멍과 상기 회절빔 구멍 사이의 거리 r111 = λL/d111이고, 상기 002 회절빔에 대하여는 r002 = λL/d002 이며, 상기 각 구멍의 지름은 2La(여기서 a는 전자빔의 수렴반각)이하임을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서,상기 시편이 실리콘 단결정이고, 상기 회절빔 구멍의 위치는 상기 실리콘 단결정의 회절상에서 111, 002, 220, 113, 222방향의 회절빔의 위치와 동일하며, 상기 각 회절빔에 대하여는 상기 투과빔 구멍과 상기 회절빔 구멍 사이의 거리는 각각 r111 = λL/d111, r002 = λL/d002, r220 = λL/d220, r113 = λL/d113, r222 = λL/d222 이며, 상기 각 구멍의 지름은 2La(여기서 a는 전자빔의 수렴반각)이하임을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
5 5
삭제
6 6
시편에 조사되고 시편을 통과한 전자빔이 대물렌즈를 통과하여 형성한 투과빔과 회절빔을 통과시키는 대물렌즈 조리개에 있어서,상기 투과빔만을 통과시키는 투과빔 구멍; 및상기 시편의 격자 상수에 따라 상기 투과빔 구멍과의 거리가 정해져서 상기 투과빔 구멍의 중심으로부터 상기 링 구멍의 중심까지의 거리는 λL/dhkl이고, 상기 회절빔만을 통과시키는 링 형태의 회절빔 구멍으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개
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8 8
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9 9
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10 10
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11 11
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12 12
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13 13
시편에 조사되고 시편을 통과한 전자빔이 대물렌즈를 통과하여 형성한 투과빔과 회절빔을 통과시키는 대물렌즈 조리개를 가지는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치에 있어서,상기 투과빔만을 통과시키는 투과빔 구멍; 및상기 시편의 격자 상수에 따라 상기 투과빔 구멍과의 거리가 정해지고, 상기 시편의 결정구조에 따라 개수와 방향이 정해져서 상기 회절빔만을 통과시키는 회절빔 통과 위치에 위치하는 다수의 회절빔 구멍으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개를 가짐을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
14 14
제13항에 있어서, 상기 시편이 실리콘 단결정이고, 상기 회절빔 구멍의 위치는 상기 실리콘 단결정의 회절상에서 111과 002 회절빔의 위치와 동일하며, 상기 111 회절빔에 대하여는 상기 투과빔 구멍과 상기 회절빔 구멍 사이의 거리 r111 = λL/d111이고, 상기 002 회절빔에 대하여는 r002 = λL/d002 이며, 상기 각 구멍의 지름은 2La(여기서 a는 전자빔의 수렴반각)이하인 대물렌즈 조리개를 가짐을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
15 15
제13항에 있어서,상기 시편이 실리콘 단결정이고, 상기 회절빔 구멍의 위치는 상기 실리콘 단결정의 회절상에서 111, 002, 220, 113, 222 회절빔의 위치와 동일하며, 상기 각 방향의 회절빔에 대하여는 상기 투과빔 구멍과 상기 회절빔 구멍 사이의 거리는 각각 r111 = λL/d111, r002 = λL/d002, r220 = λL/d220, r113 = λL/d113, r222 = λL/d222 이며, 상기 각 구멍의 지름은 2La(여기서 a는 전자빔의 수렴반각)이하인 대물렌즈 조리개를 가짐을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
16 16
시편에 조사되고 시편을 통과한 전자빔이 대물렌즈를 통과하여 형성한 투과빔과 회절빔을 통과시키는 대물렌즈 조리개를 가지는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치에 있어서,상기 투과빔만을 통과시키는 투과빔 구멍; 및상기 시편의 격자 상수에 따라 상기 투과빔 구멍과의 거리가 정해져서 상기 투과빔 구멍의 중심으로부터 상기 링 구멍의 중심까지의 거리는 λL/dhkl이고, 상기 회절빔만을 통과시키는 링 형태의 회절빔 구멍으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 대물렌즈 조리개를 가지는 것을 특징으로 하는 원자이미지를 이용한 패턴형성장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.