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물질의 굴절률을 측정하기 위한 굴절계에 있어서,복수 개의 스팟을 구비한 타겟;상기 타겟과 연결되어 상기 타겟을 상하 이동되도록 구비되는 이송장치;상기 타겟의 하부에 구비되며 테스트 샘플이 포지셔닝되는 시료대;광원에서 방사되어 상기 타겟 및 시료대를 통과한 광을 입사받는 대물 렌즈; 및상기 굴절계의 이미지 평면상에 초점 이탈된 상이 형성되도록 상기 대물 렌즈에 입사된 광의 광경로를 분기시키는 조리개를 포함하는 것을 특징으로 하는 굴절계
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제1항에 있어서, 상기 이송장치는상기 타겟과 상기 시료대와의 거리가 가변되도록 상기 타겟을 상하 이동시키는 피에조(piezo) 구동장치인 것을 특징으로 하는 굴절계
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제1항에 있어서, 상기 타겟은불투명 재질로 형성되고 상기 복수 개의 스팟은 투명 재질로 형성되며, 상기 시료대는 유리로 형성되는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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제3항에 있어서, 상기 스팟은등간격의 격자 형상을 이루도록 배열되는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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제3항에 있어서, 상기 불투명 재질은 크롬 스퍼터링에 의해 형성되는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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제1항에 있어서, 상기 시료대는상기 광원에서 방사된 광이 투과될 수 있는 재질로 형성되는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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제1항에 있어서, 상기 조리개는복수개의 핀홀을 구비하여 상기 핀홀의 개수만큼 상기 광의 광경로를 분기시키는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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제7항에 있어서, 상기 조리개는3개의 핀홀을 구비하되 상기 핀홀 간의 간격은 등간격으로 형성되는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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물질의 굴절률을 측정하기 위한 굴절계에 있어서,광원;복수 개의 스팟을 구비한 타겟;상기 타겟과 연결되어 상기 타겟을 상하 이동되도록 구비되는 이송장치;상기 타겟의 하부에 구비되며 테스트 샘플이 포지셔닝되는 시료대;상기 광원에서 방사되어 상기 타겟 및 시료대를 통과한 광을 입사받는 대물 렌즈; 상기 굴절계의 이미지 평면상에 초점 이탈된 상이 형성되도록 상기 대물 렌즈에 입사된 광의 광경로를 분기시키는 조리개; 및상기 이미지 평면상에 형성된 초점 이탈된 상을 촬상하기 위해 구비되는 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는 굴절계
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제9항에 있어서,상기 굴절계는 상기 광원에서 방사되는 광의 파장을 필터링하기 위해 상기 조리개와 상기 카메라 사이 또는 상기 타겟과 상기 광원 사이에 광학필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 굴절계
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제9항에 있어서, 상기 이송장치는상기 타겟과 상기 시료대와의 거리가 가변되도록 상기 타겟을 상하 이동시키는 피에조(piezo) 구동장치인 것을 특징으로 하는 굴절계
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제9항에 있어서, 상기 타겟은불투명 재질로 형성되고 상기 복수 개의 스팟은 투명 재질로 형성되며, 상기 스팟은 서로 등간격의 격자 형상을 이루도록 배열되는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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제12항에 있어서, 상기 불투명 재질은 크롬 스퍼터링에 의해 형성되는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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제9항에 있어서, 상기 조리개는복수개의 핀홀을 구비하여 상기 핀홀의 개수만큼 상기 광의 광경로를 분기시키는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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제14항에 있어서, 상기 조리개는3개의 핀홀을 구비하되 상기 핀홀 간의 간격은 등간격으로 형성되는 것임을 특징으로 하는 굴절계
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