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공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치
- 기술번호 : KST2015173956
- 담당센터 : 광주기술혁신센터
- 전화번호 : 062-360-4654
| 요약 | 이 발명에 따른 광소자 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치는, 굴절률을 측정하고자 하는 광소자를 X, Y, Z방향으로 위치 조정하는 위치조정수단과; 단일 파장의 소스 광을 출력하는 LED(Light Emitting Diode)와; 상기 LED에서 출력되는 소스 광을 원형대칭빔(circular symmetric beam)으로 변환하여 출력하는 원형대칭빔출력수단과; 상기 원형대칭빔을 평행광으로 변환하여 출력하는 평행광출력수단과; 상기 평행광이 투과되는 제 1 λ/2파장판과; 상기 제 1 λ/2파장판을 투과한 빛을 분할하는 편광빔스플리터(polarizing beam splitter)와; 상기 편광빔스플리터를 투과한 빛으로부터 원편광 상태의 빛을 출력하는 제 1 λ/4파장판과; 상기 제 1 λ/4파장판에서 출력되는 원편광 상태의 빛을 상기 광소자의 측정단면에 포커싱(focusing)하는 포커싱렌즈와; 상기 광소자의 측정단면에서 반사되는 광을 상기 포커싱렌즈와 상기 제 1 λ/4파장판과 상기 편광빔스플리터를 통해 입력받아 상기 반사된 광의 파워를 측정하고 상기 반사된 광의 파워로부터 상기 광소자의 측정단면의 굴절률을 계산하는 반사 광검출수단을 포함한다. 공초점주사현미경, 반사율, 굴절률, 광도파로, 광소자 |
|---|---|
| Int. CL | G01N 21/41 (2006.01) |
| CPC | G01N 21/412(2013.01) G01N 21/412(2013.01) G01N 21/412(2013.01) G01N 21/412(2013.01) G01N 21/412(2013.01) G01N 21/412(2013.01) |
| 출원번호/일자 | 1020040104812 (2004.12.13) |
| 출원인 | 광주과학기술원 |
| 등록번호/일자 | 10-0604357-0000 (2006.07.18) |
| 공개번호/일자 | 10-2006-0066267 (2006.06.16) 문서열기 |
| 공고번호/일자 | (20060731) 문서열기 |
| 국제출원번호/일자 | |
| 국제공개번호/일자 | |
| 우선권정보 | |
| 법적상태 | 소멸 |
| 심사진행상태 | 수리 |
| 심판사항 | |
| 구분 | |
| 원출원번호/일자 | |
| 관련 출원번호 | |
| 심사청구여부/일자 | Y (2004.12.13) |
| 심사청구항수 | 11 |
출원인
| 번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
|---|---|---|---|
| 1 | 광주과학기술원 | 대한민국 | 광주광역시 북구 |
발명자
| 번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
|---|---|---|---|
| 1 | 김덕영 | 대한민국 | 광주 광산구 |
| 2 | 육영춘 | 대한민국 | 전북 전주시 완산구 |
대리인
| 번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
|---|---|---|---|
| 1 | 전영일 | 대한민국 | 광주 북구 첨단과기로***번길**, ***호(오룡동)(특허법인세아 (광주분사무소)) |
최종권리자
| 번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
|---|---|---|---|
| 1 | 광주과학기술원 | 대한민국 | 광주광역시 북구 |
| 번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 특허출원서 Patent Application |
2004.12.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2004-0585723-31 |
| 2 | 등록결정서 Decision to grant |
2006.04.18 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2006-0215588-56 |
| 3 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2011.09.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5187089-85 |
| 번호 | 청구항 |
|---|---|
| 1 |
1 굴절률을 측정하고자 하는 광소자를 X, Y, Z방향으로 위치 조정하는 위치조정수단과; 단일 파장의 소스 광을 출력하는 LED(Light Emitting Diode)와; 상기 LED에서 출력되는 소스 광을 원형대칭빔(circular symmetric beam)으로 변환하여 출력하는 원형대칭빔출력수단과; 상기 원형대칭빔을 평행광으로 변환하여 출력하는 평행광출력수단과; 상기 평행광이 투과되는 제 1 λ/2파장판과; 상기 제 1 λ/2파장판을 투과한 빛을 분할하는 편광빔스플리터(polarizing beam splitter)와; 상기 편광빔스플리터를 투과한 빛으로부터 원편광 상태의 빛을 출력하는 제 1 λ/4파장판과; 상기 제 1 λ/4파장판에서 출력되는 원편광 상태의 빛을 상기 광소자의 측정단면에 포커싱(focusing)하는 포커싱렌즈와; 상기 광소자의 측정단면에서 반사되는 광을 상기 포커싱렌즈와 상기 제 1 λ/4파장판과 상기 편광빔스플리터를 통해 입력받아 상기 반사된 광의 파워를 측정하고 상기 반사된 광의 파워로부터 상기 광소자의 측정단면의 굴절률을 계산하는 반사 광검출수단을 포함한 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 2 |
2 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 λ/2파장판을 투과하고 상기 편광빔스플리터에서 반사된 빛의 파워를 검출하는 전송광검출기를 더 포함한 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 3 |
3 제 1 항에 있어서, 상기 원형대칭빔출력수단은, 상기 LED에서 출력되는 소스 광을 수집하는 제 1 렌즈와, 상기 제 1 렌즈에서 수집된 광을 단일모드광섬유로 입사시키는 제 2 렌즈와, 상기 제 2 렌즈를 통해 입사된 빛을 원형대칭빔으로 변환하여 출력하는 상기 단일모드광섬유를 구비한 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 4 |
4 제 1 항에 있어서, 상기 원형대칭빔출력수단은, 상기 LED와 접촉되는 단면이 렌즈모양으로 형성된 단일모드광섬유인 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 5 |
5 제 1 항에 있어서, 상기 평행광출력수단은, 콜리메이션(collimation)렌즈인 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 6 |
6 제 1 항에 있어서, 상기 위치조정수단은, 상기 광소자를 부착하고 Z방향으로 위치 조정하는 압전세라믹엑츄에이터(PZT)와, 상기 압전세라믹엑츄에이터를 X, Y 방향으로 위치 조정하는 XY스캐너를 포함한 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 7 |
7 제 6 항에 있어서, 상기 압전세라믹엑츄에이터는 상기 포커싱렌즈의 초점거리 근처에서 상기 광소자를 Z 방향으로 움직이고, 상기 반사 광검출수단은 입사되는 반사 광의 파워의 최대값으로 상기 굴절률을 계산하는 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 8 |
8 제 1 항에 있어서, 제 1 λ/4파장판에서 출력되는 원편광된 빛을 선편광된 빛으로 변환하여 출력하는 제 2 λ/4파장판과, 상기 제 2 λ/4파장판에서 출력되는 다양한 편광 상태의 선편광된 빛을 상기 포커싱렌즈에게 출력하는 제 2 λ/2파장판을 더 구비한 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 9 |
9 제 8 항에 있어서, 상기 제 2 λ/2파장판에서 출력되는 빛 중 원하는 선편광된 빛을 투과하여 상기 포커싱렌즈에게 출력하는 편광기를 더 포함한 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 10 |
10 제 1 항에 있어서, 상기 반사 광검출수단은 상기 반사된 광의 파워로부터 상기 반사된 광의 반사율(R)을 계산하고, 상기 반사율(R)을 아래의 수식에 적용하여 굴절률(n)을 계산하는 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 11 |
11 제 1 항에 있어서, 상기 광소자의 측정단면의 반대쪽 단면을 담그기 위한 상기 광소자의 클래드와 동일한 굴절률을 가지는 오일을 더 구비한 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 12 |
11 제 1 항에 있어서, 상기 광소자의 측정단면의 반대쪽 단면을 담그기 위한 상기 광소자의 클래드와 동일한 굴절률을 가지는 오일을 더 구비한 것을 특징으로 하는 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 |
| 지정국 정보가 없습니다 |
|---|
| 패밀리정보가 없습니다 |
|---|
| 국가 R&D 정보가 없습니다. |
|---|
- 본 등록정보는 참고용으로 법적증빙자료로 사용할 수 없습니다.
- 데이터 이관에 따른 소요기간(1일)으로 인하여 등록원부와 일부 차이가 발생할 수 있으며, 일부 정보(부기, 상세 주소 등)를 제공하지 않고 있습니다.
- 법적증빙자료로 활용하시거나 더 자세한 정보를 보시려면 등록원부를 발급받아 사용하시기 바랍니다.
| 특허 등록번호 | 10-0604357-0000 |
|---|
권리란
| 표시번호 | 사항 |
|---|---|
| 1 |
출원 연월일 : 20041213 출원 번호 : 1020040104812 공고 연월일 : 20060731 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20060418 청구범위의 항수 : 11 유별 : G01N 21/41 발명의 명칭 : 공초점주사현미경 원리를 이용한 광소자의 굴절률 측정장치 존속기간(예정)만료일 : 20140719 |
특허권자란
| 순위번호 | 사항 |
|---|---|
| 1 |
(권리자) 광주과학기술원 광주광역시 북구... |
등록료란
| 제 1 - 3 년분 | 금 액 | 337,500 원 | 2006년 07월 19일 | 납입 |
| 제 4 년분 | 금 액 | 282,000 원 | 2009년 07월 02일 | 납입 |
| 제 5 년분 | 금 액 | 282,000 원 | 2010년 04월 14일 | 납입 |
| 제 6 년분 | 금 액 | 282,000 원 | 2011년 06월 21일 | 납입 |
| 제 7 년분 | 금 액 | 518,000 원 | 2012년 07월 10일 | 납입 |
| 제 8 년분 | 금 액 | 518,000 원 | 2013년 07월 10일 | 납입 |
- 본 '원본보기 서비스'는 참고용이므로, 일부 오류 및 누락이 발생할 수 있습니다.
- 정확한 서류를 확인하시려면 해당 웹사이트에서 조회하시기 바랍니다. (특허로 바로가기: http://www.patent.go.kr)
- 해당 서비스는 점검으로 인해 매주 일요일 00:00 ~ 02:00까지 이용이 중단됩니다.
| 번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 특허출원서 | 2004.12.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2004-0585723-31 |
| 2 | 등록결정서 | 2006.04.18 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2006-0215588-56 |
| 3 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2011.09.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5187089-85 |
| 기술정보가 없습니다 |
|---|
| 과제고유번호 | 1350010624 |
|---|---|
| 세부과제번호 | 212-11 |
| 연구과제명 | 과학기술응용연구단운영 |
| 성과구분 | 등록 |
| 부처명 | 교육과학기술부 |
| 연구관리전문기관명 | 과학기술부 |
| 연구주관기관명 | 광주과학기술원 |
| 성과제출연도 | 2006 |
| 연구기간 | 200501~201412 |
| 기여율 | 0.5 |
| 연구개발단계명 | 응용연구 |
| 6T분류명 | 기타 |
| 과제고유번호 | 1350013450 |
|---|---|
| 세부과제번호 | R16-2006-068-01001-0 |
| 연구과제명 | 3차원나노광이미징시스템연구단(OpticalTomography및NanoPhaseMicroscopy기술을이용한생체세포관찰용3차원나노광이미징시스템연구) |
| 성과구분 | 등록 |
| 부처명 | 교육과학기술부 |
| 연구관리전문기관명 | 한국과학재단 |
| 연구주관기관명 | 광주과학기술원 |
| 성과제출연도 | 2006 |
| 연구기간 | 200604~201502 |
| 기여율 | 0.5 |
| 연구개발단계명 | 기초연구 |
| 6T분류명 | NT(나노기술) |
특허성과
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